测试设备以及测试方法技术

本发明专利技术提供一种电流驱动器阵列测试设备，用于测试阵列中的多个电流驱动器，电流驱动器中的每一个在启动时提供电流。电流驱动器阵列测试设备包含多个测试开关、共同测试启用引脚、共同测试输出引脚以及检测器。测试开关电耦合到电流驱动器。共同测试启用引脚耦合到测试开关中的每一个。共同测试输出引脚耦合到测试开关中的每一个且接收电流。检测器电耦合到共同测试输出引脚且从共同测试输出引脚接收电流。共同测试启用引脚和共同测试输出引脚的数目仅为一个。本发明专利技术还提供一种使用电流驱动器阵列测试设备的电流驱动器阵列测试方法和微型发光二极管阵列测试方法。

【技术实现步骤摘要】
测试设备以及测试方法
本公开涉及一种测试设备、测试方法以及发光二极管阵列测试方法，更具体地说，涉及一种电流驱动器阵列测试设备、电流驱动器阵列测试方法以及微型发光二极管阵列测试方法。
技术介绍
微型发光二极管阵列(microlightemittingdiodearray；micro-LEDarray)通过呈一对一配置的电流驱动器来驱动。也就是说，阵列中的每一微型LED通过对应电流驱动器的电流来驱动。另外，当应用小间距微型LED时，电路中的可用面积受限，且设计电流驱动器时的灵活性也受限。在小间距微型LED设计中，在接合微型LED之前，不可能使用探针来探测连接到电流驱动器的衬垫以便测量从电流驱动器输出的电流。在阵列上接合微型LED之后，不存在衬垫来测试每一数字像素单元的接合条件。数字像素单元包含电流驱动器和微型LED。一个替代方法是针对每一微型LED进行光学检查，但成本非常高。因此，在接合之前或接合之后，针对每一数字像素单元，需要内建式测试(built-intest)电路。然而，在内建式测试电路中，共享任一个测试启用引脚且存在多个测试输出引脚，或共享一个测试输出引脚且存在多个测试启用引脚。因此，内建式测试电路需要占据较大布线资源和较大面积(意味着较大布局面积)，因而不适用于小间距微型LED设计中。
技术实现思路
本公开涉及一种具有大大减少的布线资源和布局面积且适合成为小间距微型LED阵列中的内建式测试电路的电流驱动器阵列测试设备。本公开涉及一种使用电流驱动器阵列测试设备的电流驱动器阵列测试方法。本公开涉及一种使用电流驱动器阵列测试设备的微型发光二极管阵列测试方法。本公开提供一种用于测试阵列中的多个电流驱动器的电流驱动器阵列测试设备，多个电流驱动器中的每一个配置成在启动时提供电流。电流驱动器阵列测试设备包含多个测试开关、共同测试启用引脚、共同测试输出引脚以及检测器。测试开关中的每一个电耦合到电流驱动器中的对应一个。共同测试启用引脚电耦合到测试开关中的每一个以接通或切断测试开关中的每一个。共同测试输出引脚电耦合到测试开关中的每一个，且在电流驱动器逐个启动时通过测试开关中的每一个从电流驱动器中的对应一个接收电流。检测器电耦合到共同测试输出引脚且配置成从共同测试输出引脚接收电流以确定电流的值是否在预定范围内。共同测试启用引脚的数目仅为一个，且共同测试输出引脚的数目仅为一个。在本公开的一实施例中，共同测试输出引脚在不同时间处通过多个测试开关中的每一个接收电流。在本公开的一实施例中，测试开关是切换晶体管。在本公开的一实施例中，测试开关是二极管连接的晶体管。在本公开的一实施例中，电流驱动器阵列测试设备进一步包含第一开关、第二开关以及第三开关。第一开关电耦合于共同测试启用引脚与第一电压之间，第二开关电耦合于共同测试启用引脚与第二电压之间，且第三开关电耦合于共同测试启用引脚与第三电压之间。在本公开的一实施例中，将第三电压施加于共同测试启用引脚。在本公开的一实施例中，检测器是电流感测电路，且电流感测电路电连接于共同测试输出引脚之间。本公开提供一种用于具有多个电流驱动器的阵列的电流驱动器阵列测试方法，电流驱动器中的每一个配置成在启动时提供电流。电流驱动器阵列测试方法包含以下步骤：设置多个测试开关，测试开关中的每一个电耦合到电流驱动器中的对应一个；设置共同测试启用引脚，其中共同测试启用引脚电耦合到测试开关中的每一个以接通或切断测试开关中的每一个；设置共同测试输出引脚，其中共同测试输出引脚电耦合到测试开关中的每一个，且在电流驱动器逐个启动时通过测试开关中的每一个从电流驱动器中的对应一个接收电流；以及设置检测器，其中检测器电耦合到共同测试输出引脚且配置成从共同测试输出引脚接收电流以确定电流的值是否在预定范围内。共同测试启用引脚的数目仅为一个，且共同测试输出引脚的数目仅为一个。在本公开的一实施例中，电流驱动器阵列测试方法进一步包含设置第一开关、第二开关以及第三开关的步骤。第一开关电耦合于共同测试启用引脚与第一电压之间，第二开关电耦合于共同测试启用引脚与第二电压之间，且第三开关电耦合于共同测试启用引脚与第三电压之间。在本公开的一实施例中，电流驱动器阵列测试方法进一步包含以下步骤：将第一电压施加于共同测试启用引脚以接通多个测试开关；逐个启动和停用多个电流驱动器中的每一个；以及将第二电压施加于共同测试启用引脚以切断多个测试开关。在本公开的一实施例中，测试开关是切换晶体管。本公开提供一种用于具有多个电流驱动器和多个微型发光装置的微型LED阵列的微型LED阵列测试方法，多个电流驱动器中的每一个电连接到微型发光装置中的对应一个且配置成在启动时提供电流。微型LED阵列测试方法包含以下步骤：设置多个测试开关，测试开关中的每一个电耦合到电流驱动器中的对应一个；设置共同测试启用引脚，其中共同测试启用引脚电耦合到测试开关中的每一个以接通或切断测试开关中的每一个；设置共同测试输出引脚，其中共同测试输出引脚电耦合到测试开关中的每一个，且在电流驱动器逐个启动时通过测试开关中的每一个从电流驱动器中的对应一个接收电流；以及设置检测器，其中检测器电耦合到共同测试输出引脚且配置成从共同测试输出引脚接收电流以确定电流的值是否在预定范围内。共同测试启用引脚的数目仅为一个，且共同测试输出引脚的数目仅为一个。在本公开的一实施例中，微型LED阵列测试方法进一步包含设置第一开关、第二开关以及第三开关的步骤。第一开关电耦合于共同测试启用引脚与第一电压之间，第二开关电耦合于共同测试启用引脚与第二电压之间，且第三开关电耦合于共同测试启用引脚与第三电压之间。在本公开的一实施例中，微型LED阵列测试方法进一步包含以下步骤：将第三电压施加于共同测试启用引脚以接通多个测试开关；逐个启动和停用多个电流驱动器中的每一个；以及将第二电压施加于共同测试启用引脚以切断多个测试开关。在本公开的一实施例中，测试开关是二极管连接的晶体管。在本公开的一实施例中，在启动的电流驱动器、对应于启动的电流驱动器的微型发光装置以及对应于启动的电流驱动器的测试开关当中的位置处的电压高于微型发光装置的正向电压与共同导轨的电压的总和，且高于第一电压与测试开关的阈值电压的总和。为了使前述内容更容易理解，以下详细地描述伴有附图的若干实施例。附图说明包含附图以提供对本公开的进一步理解，且附图并入本说明书中并构成本说明书的一部分。附图示出本公开的示范性实施例，且与实施方式一起用来解释本公开的原理。图1是示出根据本公开的一实施例的显示器中的行扫描过程的示意图。图2A和图2B是示出根据图1中的实施例的数字像素的示意图。图3是示出根据本公开的一实施例的数字像素单元的电流驱动数字像素设备的示意图。图4是示出根据本公开的另一实施例的电流驱动器阵列的示意图。图5是示出根据本公开的另一实施例的电流驱动器阵列测试设备和电流驱动器阵列的示意图。图6本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种用于测试阵列中的多个电流驱动器的电流驱动器阵列测试设备，所述多个电流驱动器中的每一个配置成在启动时提供电流，所述电流驱动器阵列测试设备包括：/n多个测试开关，所述多个测试开关中的每一个电耦合到所述多个电流驱动器中的对应一个；/n共同测试启用引脚，电耦合到所述多个测试开关中的每一个以接通或切断所述多个测试开关中的每一个；/n共同测试输出引脚，电耦合到所述多个测试开关中的每一个，且在所述多个电流驱动器逐个启动时通过所述多个测试开关中的每一个从所述多个电流驱动器中的所述对应一个接收所述电流；以及/n检测器，电耦合到所述共同测试输出引脚且配置成从所述共同测试输出引脚接收所述电流以确定所述电流的值是否在预定范围内，/n其中所述共同测试启用引脚的数目仅为一个，且所述共同测试输出引脚的数目仅为一个。/n

【技术特征摘要】
20190428 US 16/396,7491.一种用于测试阵列中的多个电流驱动器的电流驱动器阵列测试设备，所述多个电流驱动器中的每一个配置成在启动时提供电流，所述电流驱动器阵列测试设备包括：
多个测试开关，所述多个测试开关中的每一个电耦合到所述多个电流驱动器中的对应一个；
共同测试启用引脚，电耦合到所述多个测试开关中的每一个以接通或切断所述多个测试开关中的每一个；
共同测试输出引脚，电耦合到所述多个测试开关中的每一个，且在所述多个电流驱动器逐个启动时通过所述多个测试开关中的每一个从所述多个电流驱动器中的所述对应一个接收所述电流；以及
检测器，电耦合到所述共同测试输出引脚且配置成从所述共同测试输出引脚接收所述电流以确定所述电流的值是否在预定范围内，
其中所述共同测试启用引脚的数目仅为一个，且所述共同测试输出引脚的数目仅为一个。


2.根据权利要求1所述的用于测试阵列中的多个电流驱动器的电流驱动器阵列测试设备，其中所述共同测试输出引脚在不同时间处通过所述多个测试开关中的每一个接收所述电流。


3.根据权利要求1所述的用于测试阵列中的多个电流驱动器的电流驱动器阵列测试设备，其中所述测试开关是切换晶体管。


4.根据权利要求1所述的用于测试阵列中的多个电流驱动器的电流驱动器阵列测试设备，其中所述测试开关是二极管连接的晶体管。


5.根据权利要求1所述的用于测试阵列中的多个电流驱动器的电流驱动器阵列测试设备，进一步包括第一开关、第二开关以及第三开关，其中所述第一开关电耦合于所述共同测试启用引脚与第一电压之间，所述第二开关电耦合于所述共同测试启用引脚与第二电压之间，且所述第三开关电耦合于所述共同测试启用引脚与第三电压之间。


6.根据权利要求5所述的用于测试阵列中的多个电流驱动器的电流驱动器阵列测试设备，其中将所述第三电压施加于所述共同测试启用引脚。


7.根据权利要求5所述的用于测试阵列中的多个电流驱动器的电流驱动器阵列测试设备，其中所述检测器是电流感测电路，且所述电流感测电路电连接于所述共同测试输出引脚。


8.一种用于具有多个电流驱动器的阵列的电流驱动器阵列测试方法，所述多个电流驱动器中的每一个配置成在启动时提供电流，所述电流驱动器阵列测试方法包括：
设置多个测试开关，所述多个测试开关中的每一个电耦合到所述多个电流驱动器中的对应一个；
设置共同测试启用引脚，其中所述共同测试启用引脚电耦合到所述多个测试开关中的每一个以接通或切断所述多个测试开关中的每一个；
设置共同测试输出引脚，其中所述共同测试输出引脚电耦合到所述多个测试开关中的每一个，且在所述多个电流驱动器逐个启动时通过所述多个测试开关中的每一个从所述多个电流驱动器中的所述对应一个接收所述电流；以及
设置检测器，其中所述检测器电耦合到所述共同测试输出引脚且配置成从所述共同测试输出引脚接收所述电流以确定所述电流的值是否在预定范围内，
其中所述共同测试启用引脚的数目仅为一个，且所述共同测试输出引脚的数目仅为一个。


9.根据权利要求8所述的...

【专利技术属性】
技术研发人员：萧圣文，
申请(专利权)人：联咏科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：中国台湾;71