用于输入-输出速度测量的测试电路制造技术

测试电路（２）通过在输出焊片（３１）附近的信号通路内设置一Ｄ型触发电路（３３），来记录测试触发电路的到达，有助于精密地测量输入引脚（２９）通过集成电路到输出引脚（３１）的信号传播速度。该触发电路以各种钟频计时（ＣＬＫ；３４、３５）。在高频，在输入焊片（２９）施加的与时钟渡越一致的测试信号渡越。在下次时钟渡越被记录的时间内未到达输出焊片（Ｑ；３６、３７＝低）。在较低的钟频，测试渡越具有通过集成电路传播的时间，因而将由触发电路记录（Ｑ；３６、３７＝低）。在较低的钟频，测试渡越具有通过集成电路传播的时间，因而将被触发电路记录（Ｑ；３６、３７＝高）。不断降低钟频并将测试信号通过该电路发送，只记录该测试信号渡越的时钟周期的一半（１／２×Ｔ↓［ＣＬＫ］）对应于被测量的输入－输出延迟时间（Ｔｄｅｌａｙ）。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术涉及测试集成电路(IC)管芯或完成的封装件，尤其涉及测量输入引脚与输出引脚的信号传播速度。
技术介绍
测试IC管芯与完成的I封装件，一个重要的量度是从输入引脚通过芯片到输出引脚的速度。在质量管理和满足客户的技术指标方面，测试设备精密地测量该值很重要。附图说明图1示出一般的做法。典型的IC封装件11围绕核心电路13设有引脚或焊片15，内部速度通路17经核心13把输入焊片19接到输出焊片21，电路块17中的缓冲元件20驱动输出焊片21，测试设备的探针23与25接触焊接19与21。探针23把加到输入焊片19的信号渡越传播到输出焊片21和探针25所花的时间，就是要测量的速度数据。由于IC技术趋于更低的信号电压(5V、3.3V、2.5V、1.8V、1.5V……)和更高的速度，所以输入—输出时间变得更难以精密地测量。在时间值低于3ns时，许多测试仪无法提供要求的测试精度。由于测试探针要接触焊片作测量，故测试装置自身对被测电路增加了负载，而测试设备形成的该负载明显减慢了数据。因此，例如5ns部件的额外毫微秒为20％，则3ns部件的额外毫微秒为33％。更糟的是，不同测试设备单元之间的负载变化很大，造成测量的不确定性。本专利技术的目的是提供一种集成在芯片上的测试电路，从而能获得精密的多用途速度数据。
技术实现思路
实现该目的的方法是对速度通路增设一个D型触发电路，用来记录加到输入焊片的信号渡越到达输出焊片。该触发电路以可变的时钟速度计时，因而在某些较高的钟频，渡越在被记录的时间还未到达，而在较低的钟频，该渡越由触发电路记录。只记录渡越的时钟周期的一半对应于输入—输出延迟时间。附图简介图1是示出原有技术速度测试法的芯片封装件的示意平面图。图2是一示意方块电路图，减慢了本专利技术改进的速度测试电路。图3是与图2电路相关的时序图。实施本专利技术的较佳模式参照图2，如在原有的速度测试装置中，集成电路包括速度通路电路块27，用于促进输入引脚IN29的输出引脚OUT31之间信号延迟的速度测试。速度通路27中的输出缓冲器30强得足以驱动焊片31上可能的负载。设置捕获输出数据的D型触发电路33，它靠近输出焊片31，故来自线路32的额外负载可忽略不计。布线从输出焊片31沿导电线32(用金属制)到触发电路33的D输入端。时钟焊片CLK35选成在输出焊片31近旁之后并紧接触发电路33，因而从CLK焊片25到触发电路33时钟输入端的金属布线34也很小，延迟可忽略不计。线路36将触发电路33的输出端Q传到芯片内任一地方的输出焊片37。线路36的长度不影响测试结果，因为关键是“输出”值变化与否，而不是该特定输出焊片的时序。参照图3，图中以时序示出了图2测试电路的操作原理。当输入焊片29的输入信号在时刻“0”改变逻辑状态时，该信号就通过速度通路电路块27传播，在时间Tdelay后到达输出焊片31，该延迟时间是芯片输入—输出速度的量度。时钟信号CLK也在时刻“0”渡越，即在输入焊片29所作的渡越与时钟渡越(高—低或低—高)相一致。当时钟信号CLK在时钟周期TCLK一半之后再渡越时，D型触发电路33就加载在输出焊片31的数据值。调节钟频，使触发电路33捕获的数据值为“0”(若输入渡越还未到达输出焊片)或“1”(若输入渡越到达输出焊片)。逐步提高时钟CLK的测试频率，直到捕获到“1”并把它送到输出焊片37。于是，一半时钟周期1/2×TCLK等于延迟时间Tdelay。输出焊片37的渡越比该捕获时间稍后，即在Tdelay+Td时，该值取决于从触发电路33的Q输出端到输出焊片37的运行时间，但Td值对测量并不重要。对测量而言，重要的是输出焊片记录“1”值的1/2时钟周期。权利要求1.集成电路内利用外部测试设备探针促进精密测量集成电路输入-输出信号速度的测试电路，其特征在于，所述测试电路包括输入和输出焊片；所述输入与输出焊片之间的信号通路，其中由测试设备加到所述输入焊片的信号渡越沿这种具有某一要测量的延迟时间的信号通路传播到所述输出焊片；和D型触发电路，其数据输入端接输出焊片，时钟输入端接测试时钟焊片，而数据输出端接第二输出焊片，所述D型触发电路位于所述集成电路内，靠近所述输出焊片与测试时钟焊片；其中测试设备用于测量所述输入-输出信号速度的探针至少接触于所述输入焊片、所述测试时钟焊片和所述第二输出焊片，加在所述输入焊片的信号渡越由所述D型触发电路记录，并在加到所述测试时钟焊片的变频测试时钟信号具有与所述延伸时间一致的半周期时出现在所述第二输出焊片上。2.如权利要求1所述的测试电路，其特征在于，所述输出焊片与所述测试时钟焊片相互邻近。3.如权利要求1所述的测试电路，其特征在于，D型触发电路定位成把输出焊片和测试时钟焊片对所述触发电路的连接所形成的负载减至最小。4.一种用外部测试设备探针精密测量集成电路的输入-输出信号速度的方法，其特征在于包括a)制造在输入焊片与输出焊片之间有一条信号通路的集成电路，D型触发电路的数据输入端连接至所述输出焊片，所述触发电路具有连接至测试时钟焊片的时钟输入端，所述触发电路还具有连接至第二输出焊片的数据输出端；b)将测试设备探针接触所述输入焊片、所述测试时钟焊片和所述第二输出焊片；c)通过所述探针之一向所述测试时钟焊片提供变频测试时钟信号；d)通过另一根所述探针向所述输入焊片加上与测试时钟信号渡越相一致的信号渡越，该信号渡越沿所述信号通路传播到所述输出焊片，每当所述测试时钟信号的半周期长到足以使信号渡越到达所述输出焊片，所述触发电路就记录所述信号渡越；e)根据所述第二输出焊片处的触发电路输出数据值，判断所述信号渡越是否已被所述触发电路记录；f)以频率连续变慢的测试时钟信号重复步骤(c)～(e)，直到信号渡越被记录，所述信号渡越的记录被肯定确定的所述测试时钟信号的半周期，是所述输入-输出信号速度的量度。全文摘要测试电路(2)通过在输出焊片(31)附近的信号通路内设置一D型触发电路(33)，来记录测试触发电路的到达，有助于精密地测量输入引脚(29)通过集成电路到输出引脚(31)的信号传播速度。该触发电路以各种钟频计时(CLK；34、35)。在高频，在输入焊片(29)施加的与时钟渡越一致的测试信号渡越。在下次时钟渡越被记录的时间内未到达输出焊片(Q；36、37＝低)。在较低的钟频，测试渡越具有通过集成电路传播的时间，因而将由触发电路记录(Q；36、37＝低)。在较低的钟频，测试渡越具有通过集成电路传播的时间，因而将被触发电路记录(Q；36、37＝高)。不断降低钟频并将测试信号通过该电路发送，只记录该测试信号渡越的时钟周期的一半(1/2×T文档编号G01R31/26GK1788204SQ200480012696 公开日2006年6月14日 申请日期2004年4月21日 优先权日2003年5月13日专利技术者O·C·考, G·O·达索萨 申请人:爱特梅尔股份有限公司本文档来自技高网...

【技术保护点】
集成电路内利用外部测试设备探针促进精密测量集成电路输入－输出信号速度的测试电路，其特征在于，所述测试电路包括：输入和输出焊片；所述输入与输出焊片之间的信号通路，其中由测试设备加到所述输入焊片的信号渡越沿这种具有某一要测量的延 迟时间的信号通路传播到所述输出焊片；和Ｄ型触发电路，其数据输入端接输出焊片，时钟输入端接测试时钟焊片，而数据输出端接第二输出焊片，所述Ｄ型触发电路位于所述集成电路内，靠近所述输出焊片与测试时钟焊片；其中测试设备用于测量所述输 入－输出信号速度的探针至少接触于所述输入焊片、所述测试时钟焊片和所述第二输出焊片，加在所述输入焊片的信号渡越由所述Ｄ型触发电路记录，并在加到所述测试时钟焊片的变频测试时钟信号具有与所述延伸时间一致的半周期时出现在所述第二输出焊片上。

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】...

【专利技术属性】
技术研发人员：OC考，GO达索萨，
申请(专利权)人：爱特梅尔公司，
类型：发明
国别省市：US[美国]