【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及测试,尤其涉及多个测试流的校准信息的汇编。
技术介绍
在制造和/或销售电气设备(包括诸如电路板、集成电路或片上系统(SOC)这样的系统或组件)之前,通常测试设备以确定它是否是按所设计的方式构建或工作的。通常,此测试是由自动测试设备(ATE,也称为“测试仪”)来执行的。要使ATE的结果有意义,ATE需要被校准。即必须量化在不同条件和测试设置下的测试期间ATE可能引入的固有系统误差。量化ATE的固有系统误差的数据常被称为“校准数据”,并且可以包括一个或多个“校准因子”。校准数据一旦被生成,就被用于从原始测试数据中消除ATE的固有系统误差。一种描述ATE的固有系统误差的特征的方法是直接测量它们。通常,这类校准包括将各种ATE探针耦合到一个或多个已知正确的“校准标准”,进行测量,然后将测量结果与预期的测量结果相比较。另一种描述ATE的固有系统误差的特征的方法是经由数学模型来模拟它们。然后可根据模型计算校准数据(虽然仍然有必要利用一个或多个校准标准来获取某些测量结果)。校准数据一般分成两类1)“系统校准数据”,其描述ATE的核心结构的特征(例如ATE的仪器 ...
【技术保护点】
一种计算机实现的方法,包括:获得对多个测试流的选择,所述多个测试流中的每一个指定自动测试设备应该如何测试至少一个设备;识别所述多个测试流中的每一个的校准信息;以及消除识别出的校准信息中的冗余,以汇编一组非冗余信息,用于在所述自动测试设备和所选测试流上执行集中校准。
【技术特征摘要】
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【专利技术属性】
技术研发人员:周正容,徐益,凯伊克,
申请(专利权)人:惠瑞捷新加坡私人有限公司,
类型:发明
国别省市:SG[新加坡]
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