三元搜索过程制造技术

一种用于从器件获取值的设备，包括：接收参考高信号和器件信号的第一比较器，该第一比较器提供第一输出信号以指示所述器件信号高于还是低于参考高信号；还有第二比较器，以接收参考低信号和所述器件信号，其中，该第二比较器提供第二输出信号以指示所述器件信号高于还是低于参考低信号。而且该设备中还包括电路用于（ｉ）基于所述第一输出信号和所述第二输出信号来调节参考高信号和参考低信号中的至少一个，（ｉｉ）如果在参考高信号和参考低信号之间的差值满足预定标准就输出所述值，所述值基于所述差值。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】三元搜索过程
本专利申请通常涉及一种用于获得信号值的过程，尤其涉及使用 三元搜索来获得该信号值的过程。
技术介绍
自动测试设备(ATE)典型地是自动的通常由计算机驱动的用于 测试器件的设备，所述器件例如半导体、电子电路以及印刷电路板组 件。ATE的其中一个功能是捕获来自器件管脚的信号。尤其是，ATE接收来自被测器件(DUT)上的管脚的信号。ATE 中的电路用于在多个时间点获得那些信号的电压值，以及基于那些值 来重建波形。现有的用于获得这些电压值的过程，在这里被称为"搜 索过程"，可能在获得实际电压值之前需要大量的迭代。需要的迭代 越多，ATE就会变得越慢。另外，大量的迭代占用了可以被分配给其 它任务的有价值的处理资源。
技术实现思路
本申请描述设备和方法，包括计算机程序产品，用于通过使用三 元搜索过程获得器件信号值。通常， 一方面，本专利技术的目的是用于从器件获得值的设备。在这 方面，该设备包括第一比较器，用来接收参考高信号和器件信号， 该第一比较器提供第一输出信号以指示该器件信号高于还是低于参考 高信号；以及第二比较器，用于接收参考低信号和该器件信号，其中， 该第二比较器提供第二输出信号以指示该器件信号高于还是低于参考 低信号。而且该设备中还包括电路用于(i)基于该第一输出信号和该第二输出信号调节参考高信号和参考低信号中的至少一个，以及(ii)如果参考高信号和参考低信号之间的差值达到预定标准就输出基于该差值的值。前述的方面还可以包括一个或多个下面的特征。电路可以被配置为基于第一输出信号和第二输出信号来确定器件 信号高于参考高信号、低于参考低信号还是在参考高信号和参考低信 号之间。参考高信号可能在设定电压电平，以及如果器件信号高于参 考高信号，电路可以调节参考低信号以使得参考低信号位于该设定电 压电平并且参考高信号超出该设定电压电平。参考低信号可能在设定 电压电平，以及如果器件信号低于该参考低信号，电路可以调节参考 高信号以使得参考高信号位于该设定电压电平并且参考低信号位于该 设定电压电平之下。参考高信号可能在第一设定电压，而参考低信号 在第二设定电压，并且，如果器件信号在参考高信号和参考低信号之 间，则电路可以将参考高信号或者参考低信号调节到第一设定电压和 第二设定电压之间。如果值没有被输出，并且参考高信号和/或参考低信号被调节之 后，第一比较器可以接收参考高信号和器件信号并且提供第三输出信 号来指示器件信号高于还是低于参考高信号，而第二比较器可以接收 参考低信号和器件信号并且提供第四输出信号来指示器件信号高于还 是低于参考低信号。电路可以基于第三输出信号和第四输出信号来调 节参考高信号和参考低信号中的至少一个，并且如果在参考高信号和 参考低信号之间的差值达到预定标准就可以输出值。电路可以被配置为确定差值是否低于预定阈值，如果差值低于该 预定阈值，电路可以禁用第一比较器或第二比较器。被禁用的比较器 可以被配置为接收参考信号和该器件信号，并且被禁用的比较器可以 提供第三输出信号来指示该器件信号高于还是低于该参考信号。电路可以配置为基于该第三输出信号调节该参考信号，并且如果在参考高 信号和以前的参考信号之间的差值达到预定标准则输出基于该差值的 值。通常，另一方面，本专利技术的目的是用于从器件信号获得值的方法。 该方法包括在试图执行三元搜索过程来从器件信号获取值，其中，该 三元搜索过程包括将器件信号与参考高信号和参考低信号进行比较， 并重复该三元搜索过程。三元搜索过程每被重复一次，就更接近获取 值。前述的方面还可以包括一个或多个下面的特征。执行三元搜索过程可以包括将器件信号和参考高信号进行比较， 将器件信号和参考低信号进行比较，并且确定在参考髙信号和参考低 信号之间的差值是否达到预定标准。如果差值达到该预定标准，则三 元搜索过程可以进一步包括基于该差值的值。如果差值不满足该预定 标准，则三元搜索过程可以进一步包括确定器件信号高于参考高信 号、在参考高信号和参考低信号之间、还是低于参考低信号；以及基 于器件信号高于参考高信号、在参考高信号和参考低信号之间、还是 低于参考低信号，调节参考高信号和参考低信号中的至少一个。如果 器件信号高于参考高信号，可以调节参考低信号，以使得参考低信号 位于设定电压电平并且参考高信号超出该设定电压电平。如果器件信 号低于参考低信号，则可以调节参考高信号，以使得参考高信号位于 设定电压电平并且参考低信号低于该设定电压电平。如果器件信号在 参考高信号和参考低信号之间，则可以将参考高信号或参考低信号调 节到第一设定电压和第二设定电压之间。三元搜索过程可以被重复直到在参考高信号和参考低信号之间的 差值小于预定阈值。此后，该方法包括执行二元搜索过程直到获得该 值。二元搜索过程包括将器件信号和参考信号进行比较，确定器件信号高于还是低于参考高信号，并且基于器件信号高于还是低于参考 信号来调节参考信号。三元搜索过程可以被重复直到获得该值。下面的描述中结合附图阐明一个或多个实例的细节。本专利技术另外 的特征、方面以及优点将通过描述、附图和权利要求变得显而易见。附图说明图1是包括在ATE中的电路的方框图，该电路可以用于执行三元搜索过程。图2是示出三元搜索过程的流程图。图3是包括在ATE中的电路的方框图，该电路可以用于执行二元搜索过程。图4是示出二元搜索过程的流程图。图5是图表，示出了使用二元搜索过程来获取器件信号值需要的 迭代数量。图6是图表，示出了使用三元搜索过程来获取器件信号值需要的 迭代数量。图7是图表，示出了使用具有lmV分辨率的二元搜索过程来获取 器件信号值需要的迭代数量。图8是图表，示出了使用具有lmV分辨率的组合二元和三元搜索 过程来获取器件信号值需要的迭代数量。不同附图中的相同的参考数字指示相同的元件。具体实施例方式图1是用于测试DUT 12的ATE 11中的电路10的方块图。电路 IO用于基于来自DUT 12上的管脚的信号来获取电压值(或者简单的 说，"值")。简要说来，DUT 12输出电压信号到ATE 11。 ATE 11 接收该电压信号并且使用电路10从该信号获得值。使用电路10可以 获得多个值。这多个值可以用于构建DUT12的波形输出，如下所述。如图l所示，ATE11包括计算机14、数模转换器(DAC)16和17、 比较器19和20以及逻辑21。计算机14可以是能够运行软件以控制不 同的ATE功能的任何类型的处理装置。由计算机14控制的其中一个功 能是指示DAC 16产生参考高电压信号(V。h)和指示DAC 17产生参考低 电压信号(V。,)。 V。h和Vd在本实现中都是模拟信号。比较器19、 20接收两个输入信号并基于那些输入信号产生输出信 号。每一比较器迅速地比较两个输入值，并将结果转化成数字信号。 该数字信号在规定时间(at a specified time)指示何时输入比负输入更 大。每个比较器比较两个电压并且当一个输入在大小上超过另一个时 改变输出电压状态。可以代替选通比较器或者除了选通比较器之外提 供其它的电路和/或软件，来实现比较器19和20。比较器19和20分别接收电压V。h和Vw。比较器19和20还接收 从DUT 12上的管脚输出的DUT信号25。模式生成器本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种用于从器件获得值的设备，包括：　　　　第一比较器，用以接收参考高信号和器件信号，该第一比较器提供　　　　第一输出信号以指示所述器件信号高于还是低于所述参考高信号；　　　　第二比较器，用以接收参考低信号和所述器件信号，该第二比较器提供第二输出信号以指示所述器件信号高于还是低于所述参考低信号；以及　　　　电路用于（ｉ）基于所述第一输出信号和所述第二输出信号来调节所述　　　　参考高信号和所述参考低信号中的至少一个，（ｉｉ）如果在所述参考高信号和所述参考低信号之间的差值满足预定标准就输出所述值，所述值基于所述差值。

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】...

【专利技术属性】
技术研发人员：威廉麦坎德利斯，
申请(专利权)人：泰拉丁公司，
类型：发明
国别省市：US[美国]