平板显示面板电极线缺陷检测装置制造方法及图纸

本发明专利技术针对采用Ａｇ、Ａｌ电极等电极结构的等离子体显示板，在制程中产出的Ａｇ、Ａｌ电极等电极的断线缺陷、连线缺陷，公开了一种平板显示面板电极线缺陷检测装置，其特征是它由检测台（４）、支架（１０）、控制系统（１１）、检测头（８）和带有放电空腔体（６）的待检测单元组成，带有放电空腔体（６）的待检测单元放置在检测台（４）上并连接有加压电源（５），支架（１０）位于检测台（４）的上方，检测头（８）活动安装在滑杆（９）上并能沿滑杆（９）作Ｘ方向的左右移动，它通过连接线与控制系统（１１）相连，滑杆（９）活动支承在支架（１０）上并能沿支架（１０）作Ｙ方向的前后移动。本发明专利技术具有能够快速准确地找出前后基板电极线的断线和连线缺陷点以及制作工艺简单，成本低的优点。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种利用气体放电腔体中的气体放电检测平板显示面板电极 线缺陷的检测装置，尤其涉及一种荫罩式等离子体显示器面板上电极线的检 测，具体地说是一种表面放电型荫罩式等离子体显示器上电极线的检测装置。技术背景目前采用的荫罩式等离子体显示板主要包括前基板、后基板和荫罩。前 基板从玻璃基板起，分别是扫描电极、介质层以及在介质层表面形成的保护层；后基板从玻璃基板起，分别是与扫描电极垂直的寻址电极，介质层以及 在介质层上形成的保护层；夹在前、后基板中间的荫罩是由导电材料(例如 铁或其合金)加工而成的包含网孔阵列的金属薄网板。前后基板上的电极线一般采用印刷，烘干，曝光，显影，烧结的工艺。 但电极线由于工艺控制的难以把握的影响，容易出现断线和连线等缺陷情况。目前检测前后基板电极线开短路的装置基本都是进口的光学检测装置， 这样的装置精密复杂，不仅价格昂贵，而且检测速度也较慢，同时很多部件 国内难以买到，需要厂商派人前来维护，维护费用高不说，周期还很长，对 于装置维护使用不利。
技术实现思路
本专利技术的目的是针对现有的荫罩式等离子体前后基板电极线的开短路检 测速度较慢，装置昂贵，维护不方便等问题，提出一种基于气体放电对电极缺 陷进行判定的检测装置，它可广泛用于具有Ag电极的PDP基板的生产中。本专利技术的技术方案是一种平板显示面板电极线缺陷检测装置，其特征是它由检测台4、支架 10、控制系统ll、检测头8和带有放电空腔体6的待检测单元组成，带有放 电空腔体6的待检测单元放置在检测台4上并连接有加压电源5，支架10位于检测台4的上方，检测头8活动安装在滑杆9上并能沿滑杆9作X方向的 左右移动，它通过连接线与控制系统ll相连，滑杆9活动支承在支架10上 并能沿支架10作Y方向的前后移动。所述的放电空腔体6由测试用的玻璃基板la、在玻璃基板la上形成的 测试电极lb、在电极lb上局部测试区域内覆盖的绝缘介质层lc、待测面板 的玻璃基板2a、在玻璃基板2a上形成的待测导电电极组2b以及侧边3组成， 以测试电极lb为一电极、以待测导电电极组2b为另一电极的单边介质放电 腔体，也可以是由测试用的玻璃基板la、在玻璃基板la上形成的测试电极 lb、在电极lb上局部测试区域内覆盖的绝缘介质层lc、与绝缘介质层lc有 一定间距的绝缘介质层12、待测面板的玻璃基板2a、在玻璃基板2a上形成 的待测导电电极组2b以及侧边3组成，以测试电极lb为一电极、以待测导 电电极组2b为另一电极的双边介质放电腔体，其中侧边3可以是和测试面板 的基板2a连为一体的相同介质材料，也可以是相互独立的不同介质材料，测 试电极lb可以是在基板2a之上，也可以是在基板2a下面〔若电极lb在基 板2a下面，则可去除介质层4 )。本专利技术的有益效果1、 本专利技术为快速准确地检出前后基板电极线的断线和连线缺陷点提供了 实用的成套装置。2、 具有制作工艺简单，成本低的优点。相比于目前进口的光学检测设备价格昂贵，检测较慢，维护困难等缺点， 本专利技术的优势明显，是一个良好的替代选择。 四.附图说明图1是与本专利技术相配的具有电极图案的测试面板示意图之一。 图2是与本专利技术相配的具有电极图案的测试面板示意图之二。 图3是本专利技术的具有电极图案的待测面板示意图。 图4是本专利技术的单边介质放电电极线图案缺陷检测装置的意图。 图5是本专利技术的双边介质放电电极线图案缺陷检测装置的示意图。 图6是本专利技术的平板显示器面板电极线图案缺陷种类示意图。图7是本专利技术的待测面板引线区电极线分类示意图。 五.具体实施例下面结合附图和实施例对本专利技术作进一步的说明。如图1-7所示一种平板显示面板电极线缺陷检测装置，其特征是它由检测台4、支架 10、控制系统ll、检测头8和带有放电空腔体6的待检测单元组成，带有放 电空腔体6的待检测单元放置在检测台4上并连接有加压电源5，支架10位 于检测台4的上方，检测头8活动安装在滑杆9上并能沿滑杆9作X方向的 左右移动，它通过连接线与控制系统ll相连，滑杆9活动支承在支架10上 并能沿支架10作Y方向的前后移动。所述的放电空腔体6由测试用的玻璃基板la、在玻璃基板la上形成的 测试电极lb、在电极lb上局部测试区域内覆盖的绝缘介质层lc、待测面板 的玻璃基板2a、在玻璃基板2a上形成的待测导电电极组2b以及侧边3组成， 以测试电极lb为一电极、以待测导电电极组2b为另一电极的单边介质放电 腔体，也可以是由测试用的玻璃基板la、在玻璃基板la上形成的测试电极 lb、在电极lb上局部测试区域内覆盖的绝缘介质层lc、与绝缘介质层lc有 一定间距的绝缘介质层12、待测面板的玻璃基板2a、在玻璃基板2a上形成 的待测导电电极组2b以及侧边3组成，以测试电极lb为一电极、以待测导 电电极组2b为另一电极的双边介质放电腔体，其中侧边3可以是和测试面板 的基板2a连为一体的相同介质材料，也可以是相互独立的不同介质材料，测 试电极lb可以是在基板2a之上，也可以是在基板2a下面(若电极lb在基 板2a下面，则可去除介质层4 )。利用本专利技术的装置进行检测时,首先将待测面板2上电极线2b的引线区 电极线相应分为A、 B、 C三类，将待测面板2与测试用面板1面向组合， 中间保持一定的间隙，充入一定的工作气体；在测试电极lb和待测导电电极 组2b的一端加上一定的交流电压，然后依次给A类(或B类或C类)电极 线加上适当的交流电压，在控制系统ll作用下，检测头8在X、 Y方向以适当的光斑对所检测的面板2进行扫描检测，若某根A (或B或C)类电极线 出现出现不发光区域，则亮暗交接点即是这条电极线的完全断线点13处，若 是发现某根A (或B或C)类测电极线的中间某处发光偏弱，即该电极线的 发光线条有凹陷等，则凹陷处即为该电极线的不完全断线缺口处，系统给出 提示，通过CCD进一步确定断线性质，以确定是需修补的不完全断线15还 是不影响显示效果而不需要修补的不完全断线14，并在控制系统11中记录 断线点的位置，为后道的切断修补程序提供指令，并在控制系统11中记录断 线缺点的位置，然后用修补机对断线点进行修补；若在两相邻待测电极之间 的暗区检测到发光点，则该发光点即为电极间短路点16或电极边缘不整点 17;在控制系统11中记录短路点16或电极边缘不整点17的位置，最后采用 激光进行切断。 实施例二考虑给加压电源5的夹具制备A、 B、 C三类电极线比较困难，则考虑 仅给加压电源5的夹具制备一类电极线，假设为A类(空出B、 C类电极线 的位置)，然后将加压电源5的夹具制备成可左右精确移动的装置，分三次检 测(假设加压电源5的夹具在测试时朝同一个方向移动)，然后将待测面板2 上电极线2b的引线区电极线相应分为A、 B、 C三类，将待测面板2与测试 用面板l面向组合，中间保持一定的间隙，充入一定的工作气体；在测试电 极lb和待测导电电极组2b的一端加上一定的交流电压，在控制系统13作用 下，检测头11在X、 Y方向以适当的光斑对所检测的面板18进行扫描检测， 第一次加压时将加压电源5的夹具的电极线与待测面板上A类电极线相重 叠，若某根A类电极线出现出现不发光区域，则亮暗交接点即是这条电极线 的完全断线点13处，若是发现本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种平板显示面板电极线缺陷检测装置，其特征是它由检测台（４）、支架（１０）、控制系统（１１）、检测头（８）和带有放电空腔体（６）的待检测单元组成，带有放电空腔体（６）的待检测单元放置在检测台（４）上并连接有加压电源（５），支架（１０）位于检测台（４）的上方，检测头（８）活动安装在滑杆（９）上并能沿滑杆（９）作Ｘ方向的左右移动，它通过连接线与控制系统（１１）相连，滑杆（９）活动支承在支架（１０）上并能沿支架（１０）作Ｙ方向的前后移动。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：黄秋铭，张雄，李青，朱立锋，林青园，王保平，陈程，
申请(专利权)人：南京华显高科有限公司，
类型：发明
国别省市：84[中国|南京]