本发明专利技术提供一种旋转式电极头装置，其不会在芯片形电子零件的端面电极的表面上留下会造成外观不佳的痕迹。用来接触芯片形电子零件（４０）的端面电极而检查电气特性的检查用电极头（４）为圆筒形，以圆筒的中心为旋转中心而旋转检查用电极头（４），使芯片形电子零件（４０）的端面电极接触旋转的检查用电极头（４）的圆筒的外周。检查用电极头（４）的旋转速度成为和通过检查装置依次送来的芯片形电子零件（４０）的端面电极接触到检查用电极头（４）时的速度相同的速度。
【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及旋转式电极头(電極子)装置，其在检查芯片形电子 零件的电气特性的装置等中，对用来接触芯片形电子零件的端面电极 而检查电气特性的电极头的形状等进行了改善。
技术介绍
先前，在检查芯片形电子零件的电气特性的装置中， 一般使用用 来接触芯片形电子零件的端面电极而检查电气特性的电极头的形状为 滚子(口一？)形的电极头。专利文献1:特开2006-194831号公报
技术实现思路
专利技术所欲解决之课题先前，在连续且大量地检查以陶瓷电容器为代表的芯片形电子零 件的装置中，使用滚子形电极头。使用该种一般使用的滚子形电极头 时，在由检查芯片形电子零件的电气特性的装置依次送来的芯片形电 子零件的端面电极与滚子形电极头接触时或解除接触时，会在芯片形 电子零件的端面电极的表面留下擦痕，造成外观不佳的问题。参照图7、图8以及图9说明上述问题。图7是一般使用的滚子 形电极头单元20的外形图，图8是从箭头方向看图7中所示的B-B剖 面的装置的剖面图。通过图7和图8说明滚子形电极头单元20的构造。 与芯片形电子零件的端面电极接触的检查用的电极头23的形状为圆筒 形的滚子。在电极头23的中心部插入旋转用轴24，电极头23可以以 旋转用轴24为旋转轴，以轻微的旋转力旋转。进而，电极头23通过旋转用轴24而安装在电极头支架25上，电极头支架25通过摇动支点 26而装入绝缘材料制成的盒子21中。并且，电极头支架25成为能以 摇动支点26为支点，通过弹簧27进行具有恢复力的摇动运动的构造。 另外，不会影响上述摇动运动的柔软材料的连接电缆28的两端焊接于 电极头支架25和连接端子22上，形成电接线。将上述一般使用的滚子形电极头单元20设置在下述图1以及图2 中所示的装置的方孔42的符号h n的各位置。为了使电极头23确实 地接触到芯片形电子零件40的电极，使收容在转子41的方孔42内的 芯片形电子零件40(参照图9)从转子41的表面突出0.3 mm 0.4 mm。即使为了在电极头23接触芯片形电子零件40的端面电极时减轻 该接触，将滚子形电极头单元20设置在可维持上述接触的极限的位置 上，仍会在电极头23接触到芯片形电子零件40的端面电极时或解除 接触时，于芯片形电子零件40的端面电极的表面留下擦痕，从而产生 外观不佳的问题。通过图9说明发生该问题的情况。图9 (a)表示收容在转子41 的方孔42中的芯片形电子零件40通过转子41的间歇搬运而被送来， 开始接触电极头23后稍微被送出的状态。电极头23在接触到芯片形 电子零件40的端面电极之前是停止旋转的状态，接触后因为和端面电 极产生摩擦抵抗，电极头23开始旋转。因为转子41的方孔42的尺寸 加工成比芯片形电子零件40的外形尺寸大0.1 mm 0.2 mm的程度， 所以芯片形电子零件40会因为上述摩擦，如图所示在方孔42中姿势 倾斜。在此时的姿势变化过程中，会在芯片形电子零件40的端面电极 的表面产生擦痕，造成外观不佳。图9 (b)是表示从同图9 (a)的状态下，转子41进一步运动而 停止间歇搬运动作的状态的图。如图所示，芯片形电子零件40停止在 靠近方孔42的左端的位置。图9 (c)表示从同图9 (b)的状态，到转子41的间歇搬运的动 作开始，芯片形电子零件40解除与电极头23的接触的状态。在解除 接触之前，电极头23随芯片形电子零件40的移动而使端面电极表面 旋转，因此不会发生问题。但是，在即将解除接触时，因为电极头23 的旋转，芯片形电子零件40成为被推开的状态，如(c)所示的姿势图 所示，芯片形电子零件40在方孔42中姿势倾斜。因为这些接触或脱 离的状态，所以在芯片形电子零件40的端面电极的表面会产生会导致 外观不佳的擦痕。本专利技术的目的在于，提供一种解决上述问题，形成更确实的接触 状态，并且不会在芯片形电子零件的端面电极的表面留下会导致外观 不佳的痕迹的旋转式电极头装置。用以解决课题之方案为解决上述问题，联系实施方式说明本专利技术的技术方案1至3中 所记载的专利技术。本专利技术的技术方案1中记载的旋转式电极头装置，具有在搬运体 的孔中以使芯片形电子零件的端面电极突出的方式将其收容而搬运的 过程中与上述端面电极接触的电极头，其特征是具有圆筒形电极头 (4);支持机构，它以把上述圆筒形电极头(4)的旋转中心轴置于与 上述芯片形电子零件(40)的移动方向大致正交的方向，上述圆筒形 电极头(4)在上述芯片形电子零件(40)的方向被赋能的方式进行支 持；以及从动机构，它将上述圆筒形电极头(4)的旋转速度维持在和 上述芯片形电子零件(40)的端面电极与上述滚子形电极头(4)接触 时的速度相同的速度。另外，上述赋能力由弹簧(9)给予。本专利技术的技术方案2中记载的旋转式电极头装置的特征是，在技 术方案1中记载的旋转式电极头装置中，上述从动机构含有设在上述圆筒形电极头(4)的外周上，接触上述搬运体而从动旋转的弹性体环(6)。本专利技术的技术方案3中记载的旋转式电极头装置的特征是，在技 术方案1或2中记载的旋转式电极头装置中，上述搬运体是芯片形电 子零件特性检査分类装置的皮带或旋转圆盘(转子41)，安装在上述圆 筒形电极头(4)的外周上的弹性体的环(6)与用来收容、搬运上述 芯片形电子零件(40)的皮带或旋转圆盘(转子41)接触而从动旋转。专利技术效果本专利技术的旋转式电极头装置，如上所述而构成，所以可以成为使 电极的接触更加确实，不会在芯片形电子零件的端面电极的表面上留 下会造成外观不佳的痕迹的电极头装置。附图说明图1是表示本专利技术的旋转式电极头装置的实施例中使用的检查电 气特性的装置中的用来搬运作为检查对象的芯片形电子零件的圆盘状 转子的图。图2是从箭头方向看图1中的X—X剖面的装置剖面图。 图3是表示本专利技术的实施例1的旋转式电极头单元的整体图。 图4是图3的图中所示的A — A剖面图。 图5是表示详细扩大图3中所示的电极头4的部分的剖面图。 图6是芯片形电子零件接触本专利技术的旋转式电极头装置的状态的 说明图。图7是表示一般使用的滚子形电极头单元的整体图。 图8是图7的图中所示的B — B剖面图。图9是芯片形电子零件接触一般使用的滚子形电极头的状态的说 明图。符号说明1旋转式电极头单元(装置)2，21盒子3，22连接端子4，23电极头5，24旋转用轴6弹性体环7，25电极头支架8，26摇动支点9，27弹簧10，,28连接电缆20滚子形电极头单元40芯片形电子零件41转子(搬运机构的一部分)42方孔50基准台51下部电极头52绝缘套管53轴套54马达55基板具体实施方式以下参照图面等说明本专利技术的旋转式电极头装置的实施方式。图1是表示本专利技术的旋转式电极头装置的实施例中使用的用来检 査芯片形电子零件的电气特性的装置中的用来搬运芯片形电子零件的圆盘状转子的平面图，图2是从箭头方向看图1中所示的X—X剖面的装置剖面图。使用转子41来搬运芯片形电子零件。在转子41上，在同一圆上将圆24等分了的位置上设有24个方孔42。图中为了说明功能而将方 孔42的各个位置标记为符号a x。在方孔42的符号a的位置上，芯 片形电子零件通过提供机构(未图示)依次提供给方孔42。为了让上 述提供动作顺利进行，方孔42的尺寸加工成比芯片形电子零件本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种旋转式电极头装置，具有在搬运体的孔中以使芯片形电子零件的端面电极突出的方式将其收容而搬运的过程中与上述端面电极接触的电极头，其特征是具有： 圆筒形电极头； 支持机构，它以把上述圆筒形电极头的旋转中心轴置于与上述芯片形电子零件的移动方向大致正交的方向，上述圆筒形电极头在上述芯片形电子零件的方向被赋能的方式进行支持；以及 从动机构，它将上述圆筒形电极头的旋转速度维持在和上述芯片形电子零件的端面电极与上述滚子形电极头接触时的速度相同的速度。
【技术特征摘要】
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【专利技术属性】
技术研发人员：森规与仁，
申请(专利权)人：慧萌高新科技有限公司，
类型：发明
国别省市：JP[日本]
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