本发明专利技术公开了一种快速响应电子器件响应速度的测试装置及其测试方法，本发明专利技术之响应速度测试装置包括电源控制电路，至少两组被测电子器件的响应模组，计时器；所述电源控制电路与响应模组电源端电连接，各响应模组串联连接，计时器的触发开信号与第一组响应模组的触发信号同步，计时器的触发关信号与最后一组响应模组的输出信号同步。本发明专利技术针对快速响应电子器件的响应速度测试成本高及测量精度不高的现有缺陷，采用多组被测器件串联测量总响应时间，通过计算得出每组器件的响应时间，无需使用费用昂贵的显示仪器，同时能够得到同一型号电子器件响应速度的高精度的测试结果。
【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及—种測试装.實及其測试方法，特别涉及一种拥试快速响应电子器件响应速度 的装愛及其測试方法.
技术介绍
近几年随着半导体等电子器件的飞速发展，各种电子器件的性能和反应速度得到了大幅提髙，相应的，随之的器件性能M试设备也在F1新月异的发展。目前，各种快速响应电子器 件，如i^性能光电耦合器件的响应速度巳经达到毫微妙级，而測试设备的測试精度远远达不 到诺求，所作的测试工作仅仅是粗略測试得到的结果，或采用昂贵的设备进行測试花费大说 的资金，成本太商.另外，近儿年新出现的有机电致发光显示器(OLED),具有自主发光、低电压直流驱动、 全岡化，视角宽、颜色丰富等一系列的优点，与液品显示器相比，OLED不裙要背光源，视 角大，功率低，尤其其响应速度可达液晶显示器的100O倍，制造成本却低于同等分辨率的液 品显示器，因此，有机电致发光显示器具有广阔的应用前彔。而目前渊试()LED屏的响应速度基本上是使用光电感应元件，紫光电感应元件于OLED 屏的发光面，光电感应元件后接放大器及整形电路，后接示波器.通过观察示波器上的波形 的上升沿的时差，即可估算出OLED屏的响应时间.老式的測试存在如下的缺陷1、 WOLHD姊的响应时间很短，要观察到波形冊要商速示波器，仪器费用商2、 如此快速的波形在示波器上一闪即逝，无法仔细观察研究，影响測量精度3、 光电感应元件响故速度、放大及整形电路的时间延迟无法判明，这些因素将淹没或极 大的彩响OLED屏响应速度，
技术实现思路
本专利技术的目的在f提供一种能够准确測i快速响应电子器件的响应速度，成本较低的响应速度sa试装覽，本专利技术的另一目的在f提供一种采用上述測试装置測试电子器件响应速度的方法， 本专利技术的目的是通过以下技术方案予以实现的本专利技术之响应速度測试装i:包括电源控制电路，至少两组被拥电子》#的响应模组，计时器所述电源控制电路与响应模组电源端电连接，各响应模组串联连接，计时器的触发开信号与第一组响应模组的触发信号同步，计 时器的触发关信号与最后 一组响应模组的输出信号同步.所述讨时器的触发开信号与第一组响应模组的触发信号可为同一触发信号.所述计时器的触发关信号与最后一组响应模组的输出信号可为同一信号，所述响应模组可为光电响应模组或电响应模组或声电响应模组.所述响应模组还可包括放大整形及开关触发电路，所述被測电子器件与放大整形及开关触发电路输入端电连接，放大整形及开关触发电路 输出端与下一组被测电子器件触发端或计时器触发关断端电连接，所述响应模组还包括光电感应元件或声电感应元件。所述各响应牧组之间可以采用光隔绝或声隔绝l所述光电感应元件或声电感应元件与放大整形及开关触发电路输入端电连接，放大整形 及开关触发电路输出端与下-组被測电子器件触发端或计时器触发关断端电连接，本专利技术的另一H的是通过以下技术方案予以实现的本专利技术之快速响应电子器件响应速 度的測试方法包括如F步骤(1) 来用所述测试装置測量N (N>2)组响应模组的总响应时间T:(2) 利用式①或式②、式③计箅每一被測电子S^的响应时间T,: T= (T,+Ti) XN ① ■ T= (T+T，'T,.) XN ② T=T.XN ③式中，TK为放大整形及开关触发电路响应时间，Te为光电感应元件或声电感应元件响应 时间，其中L为已知。所述步骤(2)还包括測试放大整形及开关触发电路响应时间T,，所述测试放大整形及开关触发电路响应时间TV为将计时器的触发开、触发关分别与放大 整形及开关触发电路的输入端、输出端电连接，测试放大整形及开关触发电路响应时间TK。本专利技术针对快速响应电子器件的响应速度测试成本高及测量精度不高的现有缺陷，采用 多组被测器件串联测量总响应时间，通过计算得出每组器件的响应时间，无需使用费用昂贵 的显示仪器，同时能够得到同一型号电子器件响应速度的高精度的测试结果。附图说明图1为本专利技术电子器件响应速度测试装置结构示意图2为本专利技术实施例1有机电致发光器件响应速度测试装置结构示意图3为本专利技术实施例2三极管响应速度测试装置结构示意图4为本专利技术实施例1测试放大整形及开关触发电路响应时间T\。具体实施例方式以下结合附图及实施例对本专利技术做进一步说明。参照阁1。本专利技术之快速响应电子器件响应速度的测试装置包括电源控制电路l，至少两组被测电子器件5的响应模组2，计时器3;电源控制电路l与响应模组2电源端电连接，各 响应模组2串联连祸，计时器3的触发开信号与第一组响应模组2的触发信号同步，计时器 3的触发关信号与虽后一组响应模组2的输出信号同步。当被测电子器件5的输出信号较弱 或不规整时，需将其输出信号进行放大整形，即如图1，各组响应模组2增加放大整形及开 关触发电路4，用以将本组输出信号输出到下一组响应模组2。由于该放大整形及开关触发电 路4的响应吋间可测，对被测电子器件5的响应速度测试没有什么影响，只需在总响应时间 里减去这部分响应时间即可。计吋器3的触发幵信号与第一组响应模组2的触发信号可为同一触发信号，因此，被测 电子器件5与计时器3的触发开信号均为同一触发电路提供。计时器3的触发关信号与最后 一组响应投组2的输出佰号可为同一信号，即将最后一组响应模组2的输出直接接为计时器 3的触发关信号。响应榄组2可为光电响应模组或电响应模组或声电响应模组。例如可以对响应速度较快 的有机电致发光显示器件(OLED)、三极管进行其响应速度测试。如果，对光电器件或声电器件的响应速度进行测试，响应模组2还包括光电感应元件或声电感应元件，如光电传感器 6或声电传感器，同吋，各响应模组2之间需要采用光隔绝或声隔绝，以杜绝各组之间产生 干扰，导致测试误乾增大。对于波测电子器件5的输出信号较弱或不规整的情况，被测电子器件5与放大整形及开 关触发电路4输入端电连接，放大整形及开关触发电路4输出端与下一组被测电子器件5触 发端或计吋器3触发关断端电连接。对于被测电子器件5为光电器件或声电器件，同时，输 出信号较弱或不规整的情况，其光电感应元件或声电感应元件与放大整形及开关触发电路4 输入端电连接，放大整形及开关触发电路4输出端与下一组被测电子器件5触发端或计时器 3触发关断端电连接。实施例1参照图2。本头'施例之被测电子器件为有机电致发光显示器件(OLED) 5-1,其为光屯 器件，测试V招盟将其响应速度转换为电信号，增加光电传感器6，同时，由于光电传感器6 输出信号较弱，需耍将其输出信号端与放大整形及开关触发电路4连接，山改电路输出端触 发下一组OLED5-l的响应。本实施例采用将20组OLED5-l响应模组串联进行整体响应时问 的测试..采用如L冬I2的测试装青。步骤如下:(1) 采用听述测试装置测量20组响应模组的总响应时间T。旨先，由电源控制电 路——触犮电路1同时给第一组OLED响应模组2及计时器3的触发幵提供同一触发信号， 计时器3汗始i卜时，第一组OLED响应模组2中的OLED屏体5-1发光，由光电传感器3将 感应到的光信号转换为电信号，传输到放大整形及开关触发电路1,经过对信号的放大及整 形，该电路输出一触发信号到下一组OLED响应模组2的OLED屏体5-l，……，如此，直 到最后一组响应模组2的放大整形及开关触发电路4将触发信本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种快速响应电子器件响应速度的测试装置，其特征在于，包括电源控制电路，至少两组被测电子器件的响应模组，计时器，所述电源控制电路与响应模组电源端电连接，各感应模组串联连接，计时器的触发开信号与第一组响应模组的触发信号同步，计时器的触发关信号与最后一组响应模组的输出信号同步。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：邱勇，张柳青，高裕弟，应根裕，
申请(专利权)人：清华大学，北京维信诺科技有限公司，昆山维信诺显示技术有限公司，
类型：发明
国别省市：11[中国|北京]
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