电连接器测试系统技术方案

一种电连接器测试系统，包括用于测试待测电连接器的测试仪器，待测电连接器具有若干导电端子，测试仪器具有测试头，测试头与导电端子电性连通，电连接器测试系统还包括一连接装置，连接装置包括第一连接元件及与若干第二连接元件，第一连接元件包括绝缘壳体及容置于绝缘壳体中的若干导电体，每一导电体与待测电连接器的一个导电端子对应电性连接，每一第二连接元件可以电性连接测试头和对应的导电体。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种测试系统，尤其涉一种电连接器测试系统。技术背景电连接器广泛地应用计算机、个人数字助理、笔记本电脑、移动电话等电子产品中，用 于提供电子装置之间的电性连接及信号传输。为了确保产品性能及品质，在电子产品开发阶 段需反复测试电连接器的连接性能。通常地，用于测试电连接器的测试系统包括电路板和测试仪器，待测电连接器固定于该 电路板上。待测电连接器通常包括绝缘壳体及与若干导电端子，绝缘壳体具有一空腔，导电 端子被收容于空腔。其中，导电端子的一端与电路板电性连接，另一端裸露于空腔中。测试 仪器具有夹式和探针式两种测试头。测试时，将夹式测试头或探针式测试头插入电连接器的 空腔中，并分别夹住或接触导电端子裸露于空腔中的一端，使导电端子和测试头电性连接， 从而建立待测电连接器的导电端子与测试仪器之间的电连接关系；接着在电路板上加电平信 号，即可以在待测电连接器的导电端子上输出相应的信号；然后执行测试。采用上述测试系统，当使用夹式测试头时，由于待测电连接器的导电端子排列比较紧凑 ，导电端子间距较小，不容易准确地夹住。而当使用上述探针式测试头时， 一方面探针式测 试头往往会在导电端子上打滑，从而会造成不同程度的干扰信号。另外，使用上述两种测试 方式稍有不慎还会使导电端子短接，从而对待测电连接器产生误测。
技术实现思路
有鉴于此，有必要提供一种准确地测试电连接器的电连接器测试系统。一种电连接器测试系统，包括用于测试待测电连接器的测试仪器，待测电连接器具有若 干导电端子，测试仪器具有测试头，测试头与导电端子电性连通，电连接器测试系统还包括 一连接装置，连接装置包括第一连接元件及与若干第二连接元件，第一连接元件包括绝缘壳 体及容置于绝缘壳体中的若干导电体，每一导电体与待测电连接器的一个导电端子对应电性 连接，每一第二连接元件可以电性连接测试头和对应的导电体。上述电连接器测试系统由于使用了连接装置，而不需要将测试头与待测试电连接器的导 电端子直接接触，避免了导电端子短接而产生误测。附图说明图l为一较佳实施方式的电连接器测试系统的总体结构图。 图2为图1所示连接装置立体分解图。 图3为图2所示第一连接元件的立体分解图。具体实施方式请参看图l， 一较佳实施方式的电连接器测试系统100，包括电路板50、测试仪器20及连 接装置30。其中，待测电连接器10固定于电路板50上。待测电连接器10具有若干导电端子 12，其一端与电路板50电性连通。测试仪器20具有探针式测试头22。连接装置30包括第一连接元件32和两个第二连接元件34。第一连接元件32电性连接导电 端子12，每一第二连接元件34都分别电性连接至第一连接元件32以及测试头22。即导电端子 12和测试头22可以通过连接装置30的第一连接元件32及第二连接元件34建立电性连通。请结合参看图2及图3，第一连接元件32包括两个导电体36和绝缘壳体38。绝缘壳体38并 排设有两个收容孔40。导电体36则与收容孔40对应排配，并容置于对应的收容孔40中。每一导电体36包括一体形成的对接部42和转接部44。对接部42用于与导电端子12对接， 其包括一连接转接部44的底板420。自底板420的两侧向上延伸出两侧板422和424，且侧板 422和424靠近转接部44的一端与底板420之间设置有狭缝426，从而形成悬空的接触臂428a和 428b。接触臂428a和428b相对折弯设置而呈燕尾状。当导电端子12与对接部32对接而插入接 触臂428a和428b相对折弯处时，接触臂428a和428b相背移动而弹性张开一定角度，从而使接 触臂428a和428b的折弯处弹性夹住导电端子12，利于对接部42与待测电连接器10的导电端子 12稳定接触。转接部44呈圆筒状，其包括圆周壁440及形成于圆周壁440内圆周面的收容腔442。圆周 壁440沿着中心轴线开设与收容腔442相通的缺口444，使圆周壁440可以随着缺口444的向外 扩张而产生弹性形变。绝缘壳体38基本呈长方体，其设有一凹陷颈部380从而把绝缘壳体38分割成长短不相同 的第一端部382及第二端部384。两个收容孔40分别贯穿于整个绝缘壳体38，具体地，每一收 容孔40由贯穿于第一端部382及颈部380的方形孔及第二端部384的圆形孔组成。每一收容孔 40容置一个导电体36，并且收容孔40的方形孔和圆形孔分别与每个导电体36的对接部42和转 接部44的对应，也就是说收容孔40的内部形状与导电体36的形状相匹配，从而减小第一元件 32的体积并更好地固定导电体36。另外，各个收容孔40之间留有间隙386，使各收容孔40之 间互不连通，从而分隔导电体36，进而使各导电体36之间不连通。每一第二连接元件34分别与一对应的导电体36电性连接。第二连接元件34包括导线340，以及设于导线340两端的插接头342及导体件344。插接头342为圆柱体，并插入收容腔442 中，且其直径比收容腔442的内径稍大。当插接头342插入收容腔442时，因为插接头342的 直径比收容腔442的内径大，所以缺口444被迫向外扩张而使圆周壁440发生弹性形变，从而 使插接头342的外表面与圆周壁440的内圆周面紧密配合，利于第二连接元件34与导电体36可 靠地电性连接。导体件344设有插孔346，在本实施例中，因为测试头22为探针式，所以将测 试头22插入插孔346中，即可以使测试头22与导体件344电性连通，并防止测试头22在导体件 344上发生滑动。应用电连接器测试系统100测试待测电连接器10时，首先将第一连接元件32与待测电连 接器10的导电端子12对接，也就是使导电端子12插入导电体36的对接部42中，并通过接触臂 428a和428b的燕尾状结构固定住导电端子12;接着将第二连接元件34连接至第一连接元件 32，也就是使第二连接元件34的插接头342插入对应的导电体36的转接部44，并与收容腔442 接合；最后将第二连接元件34连接至测试头22，也就是使测试头22插入导体件344的插孔346 中，从而使得导电端子12通过连接装置30的第一连接元件32及第二连接元件34与测试头22建 立电性连通，即可以对待测电连接器lO进行测试。可以理解，在其它实施例中，插接头342可以为方柱体或其它形状，而收容腔442设置成 相应的方柱状或其它形状，即使得收容腔442的形状与插接头342的外表形状相匹配，从而可 以确保第一连接元件32和第二连接元件34可靠地电性连接。另外，在其它实施例中，测试头 22可能为夹式测试头，应将测试头22夹住导体件344，即可以使测试头22与导体件344电性连 通。在本实施例中，因为第一连接元件32设置了两个导电体36和相同数目的第二连接元件 34，所以一次可测试待测电连接器10的两个导电端子12。在其它实施例中，也可以根据待测 电连接器10的导电端子12数目，设置相同数目的导电体36，并依据待测电连接器10的类型， 可以有相同数目或少于该数目的第二连接元件34。由此，对于每个导电端子12都有一个对应 的导电体36，但对于每个导电体36并不是都有一个对应的第二连接元件34，即由于每个导电 端子32不总是需要测试，因此第二连接元件34本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种电连接器测试系统，包括用于测试待测电连接器的测试仪器，所述待测电连接器具有若干导电端子，所述测试仪器具有测试头，所述测试头与所述导电端子电性连通，其特征在于：所述电连接器测试系统还包括一连接装置，所述连接装置包括第一连接元件及与若干第二连接元件，所述第一连接元件包括绝缘壳体及容置于所述绝缘壳体中的若干导电体，每一导电体与所述待测电连接器的一个导电端子对应电性连接，每一第二连接元件可以电性连接所述测试头和对应的导电体。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：李军杰，翁世芳，张小波，
申请(专利权)人：鸿富锦精密工业深圳有限公司，鸿海精密工业股份有限公司，
类型：发明
国别省市：94[中国|深圳]