高载微构件动态特性测试装置制造方法及图纸

技术编号:2625839 阅读:152 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
本发明专利技术高载微构件动态特性测试装置,是属于微机电系统中动态测试装置领域。一种高载微构件动态特性测试装置,由高速转台、微结构激励、微结构夹持、光学振动测试装置、光纤旋转接头组成。高速转台的一端是转臂,另一端为轴套形状。真空室通过螺栓安装在高速转台的转臂上,光纤旋转接头安装在高速转台轴套中;隔振泡沫、减振质量、压电激振器、微构件、光纤探头夹持装置和光纤探测头均安装在真空室内。使用该发明专利技术可以测试常态、动态下结构的动态特性,便于分析研究。其结构简单、易于调试。扩充了仪器的功能,测试精度较高;可用它对微加速度传感器进行标定。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术高载微构件动态特性测试装置,属于微机电系统中动态测试装置领域。
技术介绍
微机电系统(Micro Electro Mechanical System,简称为MEMS)常采用微加工技术制造的微机械加速度计,这种微机械加速度计广泛应用在航空航天领域、汽车气囊以及导弹和智能化炮弹的精确控制上,其测量范围从数微g到数十万g。高g值(g为重力加速度单位)微机械加速度计通常工作在数千g乃至上万g的环境,在如此高载荷工作条件下,微机械加速度计灵敏度对所使用设备有着至关重要的影响,且理论分析表明,微机械加速度计的核心部件——微惯性元件的动态特性也会由于外部惯性载荷的作用而发生改变,但对于高载条件下,对微机械加速度计中微构件动态性能影响的研究还停留在理论阶段。ChristianRembe等在《Optical Measurement Methods to Study Dynamic Behavior in MEMS》一文中介绍了目前常用的微机电系统动态测试技术,如频闪显微干涉技术、计算机微视觉技术、激光多普勒测振技术等。但这些测试系统,目前还仅仅是对常态下微结构进行测试,测试系统对环境要求本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种高载微构件动态特性测试装置,由高速转台、微结构激励、微结构夹持、光学振动测试装置、光纤旋转接头组成;其特征是:高速转台(1)的一端是转臂,另一端为轴套形状;真空室(2)通过螺栓安装在高速转台(1)的转臂上,光纤旋转接头(10)安装在高速转台(1)的轴套中;隔振泡沫(3)、减振质量(4)、压电激振器(5)、微构件(6)、光纤探头夹持装置(7)和光纤探测头(8)均安装在真空室(2)内,在真空室(2)内的隔振泡沫(3)一面通过胶粘接在高速转台(1)上,另一面通过胶粘接减振质量(4),压电激振器(5)通过胶粘接在减振质量块(4)上,待测微构件(6)通过胶粘接在压电激振器(5)上;光纤探头夹持装置(...

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:王晓东王涛王立鼎尹东
申请(专利权)人:大连理工大学
类型:发明
国别省市:91[中国|大连]

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