【技术实现步骤摘要】
一种用于单晶硅生长炉的复合隔热结构及单晶硅生长炉
本专利技术涉及半导体制造领域,特别涉及一种用于单晶硅生长炉的复合隔热结构及单晶硅生长炉。
技术介绍
单晶硅是现代通信技术、集成电路及太阳能电池等行业得以持续发展的材料基础,有着不可替代的作用。目前,从熔体中生长单晶硅主要的方法包括直拉法和区熔法。其中,由于直拉法生产单晶硅具有设备和工艺简单、容易实现自动控制、生产效率高、易于制备大直径单晶硅,以及晶体生长速度快、晶体纯度高和完整性高等优点,直拉法得以迅速发展。利用直拉式晶体生长炉生产单晶硅,需要将普通硅材料进行熔化,然后重新结晶。根据单晶硅的结晶规律,将原材料放在坩埚中加热熔化,控制温度比硅单晶的结晶温度略高,确保熔化后的硅材料在溶液表面可以结晶。结晶出来的单晶通过直拉炉的提升系统提出液面,在惰性气体的保护下冷却、成形,最后结晶成一个主体为圆柱体、尾部为圆锥体的晶体。单晶硅是在单晶炉热场中进行生长的,热场的优劣对单晶硅的生长和质量有很大的影响。好的热场不仅能够让单晶生长顺利,而且生长出的单晶质量高;而热场条件不 ...
【技术保护点】
1.一种用于单晶硅生长炉的复合隔热结构,其特征在于,包括支撑层(10)以及制备在所述支撑层(10)上的层叠结构(20),所述层叠结构(20)包括第一折射层(21)和第二折射层(22),所述第一折射层(21)的折射率与所述第二折射层(22)的折射率不同,所述第一折射层(21)和所述第二折射层(22)相互交替设置。/n
【技术特征摘要】
1.一种用于单晶硅生长炉的复合隔热结构,其特征在于,包括支撑层(10)以及制备在所述支撑层(10)上的层叠结构(20),所述层叠结构(20)包括第一折射层(21)和第二折射层(22),所述第一折射层(21)的折射率与所述第二折射层(22)的折射率不同,所述第一折射层(21)和所述第二折射层(22)相互交替设置。
2.根据权利要求1所述的一种用于单晶硅生长炉的复合隔热结构,其特征在于,所述层叠结构(20)与所述支撑层(10)通过所述第一折射层(21)相连接,或所述层叠结构(20)与所述支撑层(10)通过所述第二折射层(22)相连接。
3.根据权利要求2所述的一种用于单晶硅生长炉的复合隔热结构,其特征在于,所述第一折射层(21)均由硅制得,所述第一折射层(21)的厚度在0.1μm-1μm的范围内,所述第一折射层(21)的粗糙度小于1.5A。
4.根据权利要求3所述的一种用于单晶硅生长炉的复合隔热结构,其特征在于,所有所述第二折射层(22)均由二氧化硅制得,所述第二折射层(22)的厚度在0.1μm-1μm的范围内,所述第二折射层(22)的粗糙度小于2A。
5.根据权利要求3所述的一种用于单晶硅生长炉的复合隔热结构,其特征在于,所有所述第二折射层(22)均由氮化硅制得,所述第二折射层(22)的厚度在0.1μm-1μm的范围内,所述第二折射层(22)的粗糙度小于2A。
6.根据权利要求3所述...
【专利技术属性】
技术研发人员:魏星,李名浩,栗展,魏涛,刘赟,薛忠营,
申请(专利权)人:中国科学院上海微系统与信息技术研究所,上海新昇半导体科技有限公司,
类型:发明
国别省市:上海;31
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