【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及一种测量物质如香气分子的质量的装置和方法。2、相关技术说明日本专利No.3003811公开了一种用于测量振子上质量的微小变化的石英振子微量天平装置，其基于石英振子的共振频率的变化。日本专利公开No.5-346384A和日本专利No.3139562公开了一种测量香气分子质量的方法。更确切地说，在石英振子的表面提供一电极和一有机吸附薄膜，其中，以一个特定的频率激发振动。香气物体分子吸附到有机吸附薄膜上，引起振子频率的变化。基于振子频率的变化计算该香气分子的质量。根据现有技术，利用了所谓的AT切割石英振子的厚度切变振动。例如，如图9(a)和(b)中所示，测量装置12包含一个实质上具有圆盘形状的石英振子2。电极13A和13B分别形成在石英振子2的表面2a和2b上。在石英振子2内激发厚度切片振动。在该振动中，质量变化和频率变化之间满足下述公式。这样就有可能通过测量Δf(基振的频率变化)计算出Δm(质量变化)。Δf＝-2Δmf2/A(μρ)1/2Δf基振的频率变化f基振的频率Δm质量变化A电极面积μ石英转矩的弹性模数＝1011dyn/cm2ρ石英密度＝2....
【技术保护点】
质量测量的装置，包括振子，在所述振子中激发基振的驱动装置，探测所述振子中振动位移的探测装置，和能够吸附探测物质的吸附薄膜，其中，所述质量是基于在所述质量未测时从所述探测装置获得的所述振动位移探测值和所述质量测量时从所述探测装置获得的 所述振动位移探测值之间的差值测得的。
【技术特征摘要】
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【专利技术属性】
技术研发人员：大杉幸久，冈田直刚，石川诚司，
申请(专利权)人：日本碍子株式会社，
类型：发明
国别省市：JP[日本]
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