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质量测量的装置１包括振子２，用于激发振子２中的基振的驱动装置３Ａ、３Ｂ、３Ｃ和３Ｄ，用于探测振子２中的振动位移的探测装置４Ａ和４Ｂ，和能够吸附探测物质的吸附薄膜５。质量是基于在质量未测时，从探测装置４Ａ和４Ｂ获得的振动位移探测值和在该质量测...
该专利属于日本碍子株式会社所有，仅供学习研究参考，未经过日本碍子株式会社授权不得商用。

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