金属表面缺陷检测方法及系统技术方案

一种金属表面缺陷检测方法及系统，采用至少两个光源分别以不同的角度对待测金属表面进行打光，其中至少一个光源发出的光为单色光、红外光或紫外光，采集待测金属表面的图像；对待测金属表面的图像进行处理，获得待测金属表面的缺陷信息。由于将至少两个光源分别以不同的角度照射在待测金属表面，对待测金属表面进行打光，保障采集到的待测金属表面的图像更接近真实的待测金属表面情况，使得对待测金属表面缺陷检测的检测精度提高，可以有效避免不良产品进入市场。

【技术实现步骤摘要】
金属表面缺陷检测方法及系统
本专利技术涉及缺陷检测
，具体涉及一种金属表面缺陷检测方法及系统。
技术介绍
在视觉检测缺陷领域，具有多种不同的缺陷类型，造成各种不同缺陷的原因也各种各样。例如，工件加工的过程中，金属与夹具之间会产生碰撞或挤压，由于碰撞或挤压会使金属表面产生轻微变形，且其表面会有一部分凸起来或一部分凹陷下去，但是，大多情况下，凸起部分会在后续加工的过程中会被去掉，这就导致待测金属看起来没有凸起部分似乎是平整无缺陷的，但是，该金属表面可能具有细微的缺陷，由于这些缺陷像月球表面的凹坑，也称为MoonDent。这种类型的缺陷一般是微米级的，普通的检测设备难以检测出来，若是不能准确的将该缺陷检测出来，会使得不良工件流入市场。因此，需要提供一种金属表面缺陷检测方法，使得该类缺陷检测精准度提高。
技术实现思路
本专利技术主要解决的技术问题是如何提高金属表面缺陷检测精度。为解决上述问题，本申请提供一种金属表面缺陷检测的方法，包括：采用至少两个光源分别以不同的角度对待测金属表面进行打光，其中至少一个光源发出的光为单色光、红外光或紫外光；采集所述待测金属表面的图像；对所述待测金属表面的图像进行处理，获得所述待测金属表面的缺陷信息。可选的，所述单色光为红、绿、蓝三基色所组成的任一单一颜色的光。可选的，所述采用至少两个光源分别以不同的角度对待测金属表面进行打光包括：根据待测金属的形状和大小调整所述光源之间的角度，使得所述光源照射在所述待测金属表面的反射光落入图像采集装置的视角中。可选的，所述对所述待测金属表面的图像进行处理，获得所述待测金属表面的缺陷信息，包括：定义固定窗口；采用所述固定窗口在所述待测金属表面的图像上进行任意方向的滑动；对比所述固定窗口中像素灰度在滑动前与滑动后的变化程度；根据所述灰度的变化程度确定所述待测金属表面的缺陷信息。可选的，所述定义固定窗口之前，还包括步骤：确定所述待测金属表面的图像的感兴趣区域，对所述感兴趣区域进行图像预处理，所述图像预处理包括锐化和滤波。本申请实施例还提供一种金属表面缺陷检测系统，包括：至少两个光源；两个光源分别以不同的角度对待测金属表面进行打光，其中至少一个光源发出的光为单色光、红外光或紫外光；图像采集设备，用于采集所述待测金属表面的图像；图像处理设备，用于对所述待测金属表面的图像进行处理，获得所述待测金属表面的缺陷信息。可选的，所述单色光为红、绿、蓝三基色所组成的任一单一颜色的光。可选的，所述两个光源分别以不同的角度对待测金属表面进行打光包括：根据待测金属的形状和大小调整所述光源之间的角度，使得所述光源照射在所述待测金属表面的反射光落入图像采集装置的视角中。可选的，所述图像处理设备用于对所述待测金属表面的图像进行处理，获得所述待测金属表面的缺陷信息包括：定义固定窗口；采用所述固定窗口在所述待测金属表面的图像上进行任意方向的滑动；对比所述固定窗口中像素灰度在滑动前与滑动后的变化程度；根据所述灰度的变化程度确定所述待测金属表面的缺陷信息。可选的，所述图像处理设备用于定义固定窗口之前，还包括：确定所述待测金属表面的图像的感兴趣区域，对所述感兴趣区域进行图像预处理，所述图像预处理包括锐化和滤波。依据上述实施例的金属表面缺陷检测方法及检测系统，由于采用至少两个光源分别以不同的角度对待测金属表面进行打光，其中至少一个光源发出的光为单色光、红外光或紫外光，使得所采集的待测金属表面的图像具有更加接近待测金属表面真实情况的信息，通过对此待测金属表面的图像进行处理，使得检测精度提高。附图说明图1A为提供的现有技术中的金属表面缺陷检测原理示意图；图1B为提供的现有技术的金属表面检测结果示意图；图2为一实施例提供的待测金属表面缺陷检测方法流程图；图3A为一实施例提供的单色光源的示意图；图3B为一实施例提供的金属表面缺陷检测原理示意图；图4为一实施例提供的金属表面缺陷处理检测算法原理示意图；图5为一实施例提供的金属表面缺陷图检测结果示意图；图6为一实施例提供的待测金属表面缺陷检测系统的结构示意图。具体实施方式下面通过具体实施方式结合附图对本专利技术作进一步详细说明。其中不同实施方式中类似元件采用了相关联的类似的元件标号。在以下的实施方式中，很多细节描述是为了使得本申请能被更好的理解。然而，本领域技术人员可以毫不费力的认识到，其中部分特征在不同情况下是可以省略的，或者可以由其他元件、材料、方法所替代。在某些情况下，本申请相关的一些操作并没有在说明书中显示或者描述，这是为了避免本申请的核心部分被过多的描述所淹没，而对于本领域技术人员而言，详细描述这些相关操作并不是必要的，他们根据说明书中的描述以及本领域的一般技术知识即可完整了解相关操作。另外，说明书中所描述的特点、操作或者特征可以以任意适当的方式结合形成各种实施方式。同时，方法描述中的各步骤或者动作也可以按照本领域技术人员所能显而易见的方式进行顺序调换或调整。因此，说明书和附图中的各种顺序只是为了清楚描述某一个实施例，并不意味着是必须的顺序，除非另有说明其中某个顺序是必须遵循的。本文中为部件所编序号本身，例如“第一”、“第二”等，仅用于区分所描述的对象，不具有任何顺序或技术含义。而本申请所说“连接”、“联接”，如无特别说明，均包括直接和间接连接(联接)。现有技术中一般通过采集该金属表面的图片并将该图片进行分析和处理，以通过图片来检测金属表面的缺陷及其位置，但是，现有技术中，往往忽略所采集的金属表面的图片采集的图片信息的质量，也就是所采集的图片上如果本身就没能包含全部缺陷，那么后续无论将该图片怎样处理，可能都不能准确的检测到该待测金属表面的缺陷和缺陷的位置。现有技术中，在对待测金属进行检测时，使用的打光光源是一种混合白光，通过打光之后使用成像装置获取待测金属表面的图像，以将该图像进行分析，得到对该待测金属的检测结果。参考图1A，图1A为现有技术中的金属表面缺陷检测原理示意图，现有技术中采用单个光源10进行打光(图1A中的光源10为混合白光)，参考图1B，图1B为现有技术检测结果示意图，从图1B中，可以看出，当金属表面具有缺陷时，拍摄后经处理，发现缺陷的成像结果并不清晰，难以辨别缺陷位置以及缺陷的边界，甚至，某些情况下，更加细微的缺陷难以检测到，导致漏检的情况，使得不良产品进入市场流通。经专利技术人创造性劳动发现，使用不同的光谱对待测金属进行打光会影响到最终的检测结果，因此，本专利技术提供一种新的金属表面缺陷检测方法，使用至少两个光源分别以不同的角度对待测金属表面进行打光，其中至少一个光源发出的光为单色光、红外光或紫外光，使得所采集的待测金属表面的图像具有更加接近待测金属表面真实情况的信息，通过对此待测金属表面的图像进行处理，使得最终检测结果的准确度更高。从而提高了对待测金属表面本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种金属表面缺陷检测方法,其特征在于，包括：/n采用至少两个光源分别以不同的角度对待测金属表面进行打光，其中至少一个光源发出的光为单色光、红外光或紫外光；/n采集所述待测金属表面的图像；/n对所述待测金属表面的图像进行处理，获得所述待测金属表面的缺陷信息。/n

【技术特征摘要】
1.一种金属表面缺陷检测方法,其特征在于，包括：
采用至少两个光源分别以不同的角度对待测金属表面进行打光，其中至少一个光源发出的光为单色光、红外光或紫外光；
采集所述待测金属表面的图像；
对所述待测金属表面的图像进行处理，获得所述待测金属表面的缺陷信息。


2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述单色光为红、绿、蓝三基色所组成的任一单一颜色的光。


3.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述采用至少两个光源分别以不同的角度对待测金属表面进行打光包括：根据待测金属的形状和大小调整所述光源之间的角度，使得所述光源照射在所述待测金属表面的反射光落入图像采集装置的视角中。


4.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述对所述待测金属表面的图像进行处理，获得所述待测金属表面的缺陷信息，包括：
定义固定窗口；
采用所述固定窗口在所述待测金属表面的图像上进行任意方向的滑动；
对比所述固定窗口中像素灰度在滑动前与滑动后的变化程度；
根据所述灰度的变化程度确定所述待测金属表面的缺陷信息。


5.如权利要求4所述的方法，其特征在于，所述定义固定窗口之前，还包括步骤：确定所述待测金属表面的图像的感兴趣区域，对所述感兴趣区域进行图像预处理，所述图像预处理包括锐化和滤波。


6.一种金属...

【专利技术属性】
技术研发人员：高增禄，曾纪光，张涛，夏勇俊，陈龙，
申请(专利权)人：深圳科瑞技术股份有限公司，
类型：发明
国别省市：广东;44