一种光谱仪杂散光自动检测和动态扣除的方法及光谱仪器技术

本发明专利技术公开的使用光谱扫描或波长偏置进行光谱仪杂散光自动检测和动态扣除的方法，其首先采用单道或双道波长扫描方法获得光谱仪锐线光源的光谱扫描图谱；然后对光谱扫描数据进行处理，获得杂散光比率数据；再用获得的杂散光比率数据重置杂散光扣除程式中的杂散光比率值；最后在接收仪器信号正常测试的同时，动态扣除单道或双道杂散光。本发明专利技术在无须使用任何标准物质的前提下，不增加任何硬件成本，利用锐线光源本身的光谱性质，让光谱仪器进行杂散光自动检测及其动态扣除，极大的提高原子吸收光谱仪的光精度、线性范围、背景校正能力；该技术应用于原子吸收光谱仪高性能自吸背景校正时，仪器的背景校正性能可提高到在１Ａｂｓ时大于１００倍，２Ａｂｓ时大于８０倍。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术属于光谱分析仪器领域，具体涉及在原子吸收光谱仪中使用光谱扫描 或波长偏置进行光谱仪杂散光自动检测和动态扣除的方法。本专利技术还涉及使用光 谱扫描或波长偏置进行光谱仪杂散光自动检测和动态扣除的方法的原子吸收光谱 仪器。
技术介绍
自本世纪50年代由澳大利亚物理学家Walsh首先提出了将原子吸收光谱法应 用于化学分析，现已成为元素定量分析最重要的工具之一而广泛应用于各个分析 领域。杂散光的大小是光谱仪器性能的一项重要指标。在原子吸收光谱仪需要做 到良好的光精度、宽线性范围、高背景校正能力时，杂散光的影响就显得尤为重 要。杂散光是指从单色器分出的不在入射光谱带宽度范围内，与所选波长相距较远 的光，它是由于光学元件制造误差以及光学和机械零件表面的漫反射形成的，它 来源仪器本身(主要是光栅)而非样品造成。杂散光是分析样品的非吸收光，随 着样品吸收(吸光度)的增加，杂散光的影响也随之增大，将给分析结果带来一 定的误差。专利技术人通过对杂散光的性质的研究发现，影响杂散光大小因素很复杂，除受仪 器本身的光学器件性能的影响外，杂散光比率还与不同灯电流、不同的元素灯、 不同的波长、不同的光谱本文档来自技高网...

【技术保护点】
使用光谱扫描或波长偏置进行光谱仪杂散光自动检测和动态扣除的方法，其特征在于，包含以下步骤：　１）、采用单道或双道波长扫描方法获得光谱仪锐线光源的光谱扫描图谱；　２）、对光谱扫描数据进行处理，获得单道或双道的杂散光比率数据；３）、用步骤２）获得的杂散光比率数据重置杂散光扣除程式中的杂散光比率值；　４）、在接收仪器信号正常测试的同时，动态扣除单道或双道杂散光。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：刘志高，刘瑶函，
申请(专利权)人：上海光谱仪器有限公司，
类型：发明
国别省市：31[中国|上海]