一种使用可见截止型滤光片降低原子吸收光谱仪器杂散光的方法及其光路系统技术方案

技术编号:2620410 阅读:585 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
本发明专利技术公开的利用可见截止型滤光片来降低原子吸收光谱仪器杂散光的方法,当仪器设置的波长处于190~400nm紫外区时,截止型滤光片切入光路进行杂散光降低;当仪器设置的波长处于400~900nm可见区时,截止型滤光片切出光路。本发明专利技术仅增加一块滤光片,就能够基本消除测量波长在紫外区的元素的杂散光,极大的提高原子吸收光谱仪的光精度、线性范围、背景校正能力;该技术应用于原子吸收光谱仪高性能自吸背景校正时,仪器的背景校正性能可提高到在1Abs时大于100倍,2Abs时大于80倍。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术属于光谱分析仪器领域,具体涉及在原子吸收光谱仪中利用可见截 止型滤光片来降低原子吸收光谱仪器杂散光的方法。本专利技术还涉及使用该方法 的光学系统。
技术介绍
自本世纪50年代由澳大利亚物理学家Walsh首先提出了将原子吸收光谱 法应用于化学分析,现已成为元素定量分析最重要的工具之一而广泛应用于各 个分析领域。杂散光的大小是光谱仪器性能的一项重要指标。在原子吸收光谱 仪需要做到良好的光精度、宽线性范围、高背景校正能力时,杂散光的影响就 显得尤为重要了。杂散光是指从单色器分出的不在入射光谱带宽度范围内,与所选波长相距 较远的光,它是由于光学元件制造误差以及光学和机械零件表面的漫反射形成 的,它来源仪器本身(主要是光栅)而非样品造成。杂散光是分析样品的非吸 收光,随着样品吸收(吸光度)的增加,杂散光的影响也随之增大,将给分析 结果带来一定的误差。专利技术人通过对杂散光的性质的研究发现,影响杂散光大小因素很复杂,除 受仪器本身的光学器件性能的影响外,杂散光比率还与不同灯电流、不同的元 素灯、不同的波长、不同的光谱带宽等因素有关,不同的仪器条件下,仪器的 杂散光表现是变化的。传统的本文档来自技高网...

【技术保护点】
利用可见截止型滤光片来降低原子吸收光谱仪器杂散光的方法,其特征在于,当仪器设置的波长处于190~400nm紫外区时,截止型滤光片切入光路进行杂散光降低;当仪器设置的波长处于400~900nm可见区时,截止型滤光片切出光路。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:刘瑶函刘志高周治
申请(专利权)人:上海光谱仪器有限公司
类型:发明
国别省市:31[中国|上海]

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