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本发明公开的使用光谱扫描或波长偏置进行光谱仪杂散光自动检测和动态扣除的方法，其首先采用单道或双道波长扫描方法获得光谱仪锐线光源的光谱扫描图谱；然后对光谱扫描数据进行处理，获得杂散光比率数据；再用获得的杂散光比率数据重置杂散光扣除程式中的杂散...
该专利属于上海光谱仪器有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过上海光谱仪器有限公司授权不得商用。

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