一种非破坏性评估纳米尺度玻璃微探针性能的工作方法技术

一种非破坏性评估纳米尺度玻璃微探针性能的工作方法，其特征在于它包括以下步骤：（１）利用扫描电镜对玻璃微探针进行观测获得扫描电镜照片；（２）通过玻璃微探针电阻计算公式估算出该玻璃微探针在充灌电极内电解液后的电阻值；（３）通过传统膜片钳技术来测量玻璃微探针电阻；（４）将由步骤（３）所说的膜片钳测得的玻璃微探针电阻与步骤（２）中通过扫描电镜观测再经计算公式估算的玻璃微探针电阻进行比较。其优越性在于：用传统的膜片钳电阻测量方法与扫描电镜技术相结合共同分析玻璃微探针性状的方法相比现有技术更加简便快捷，可直观、可靠、非破坏地判定纳米尺度玻璃微探针的性能及其拉制质量。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术属于纳米尺度结构探测用扫描探针显微镜
，特别是指一 种在电解液中非破坏评估纳米尺度玻璃微探针性状的简便方法，即一种非破 坏性评估纳米尺度玻璃微探针性能的工作方法。(二)
技术介绍
1981年美国IBM公司设在瑞士苏黎士的实验室，研制出了世界上第一台 具有原子分辨率的扫描隧道显微镜(scanning tunnelling microscopy, STM)， 随后，在STM的操控原理与结构的基础上，相继产生了一系列利用探针与样 品的不同相互作用来探测纳米尺度下表面或界面性质的扫描探针显微镜技术 (scanning probe microscopy, SPM)，带来纳米技术的迅猛发展，成为人类 认识微观世界的有力工具。扫描探针显微镜技术的出现开辟了生命科学研究 的新纪元并逐步发展成为在纳米尺度研究细胞结构与功能的一类新型的显微 镜技术，并促进了纳米技术与生物技术相结合，并形成了一种新的多学科相 互交叉的纳米生物医学。所以，纳米生物医学的产生与SPM的发展及其在生 命科学中的应用密不可分。微探针是SPM进行纳米量级测试的探测头和基础工具，它的性能的好坏 对SPM的成像质量本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种非破坏性评估纳米尺度玻璃微探针性能的工作方法，其特征在于它包括以下步骤：　（１）利用扫描电镜对玻璃微探针的形状进行观测，获得高分辨率的玻璃微探针针尖的侧视和俯视扫描电镜照片；　（２）利用扫描电镜分析软件测量出玻璃微探针针尖的 内半径ｒ↓［ｉ］及内壁半角θ，再通过玻璃微探针电阻计算公式Ｒ↓［探针］＝１／πξｒ↓［ｉ］ｔａｎθ估算出该玻璃微探针在充灌电极内电解液后的电阻值，其中Ｒ↓［探针］代表玻璃微探针电阻，ξ代表充灌玻璃微探针内电解液的电导率，ｒ↓［ｉ］代表玻璃微探针针尖的内半径，θ代表玻璃微探针针尖的内壁半角；　（３）采用与上述玻璃微探针相同的拉制参数制备新的玻璃微探...

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：张彦军，
申请(专利权)人：国家纳米技术与工程研究院，
类型：发明
国别省市：12[中国|天津]