【技术实现步骤摘要】
一种内嵌微流道的散热型TSV转接板及其制作方法
本专利技术涉及集成电路封装
,特别涉及一种内嵌微流道的散热型TSV转接板及其制作方法。
技术介绍
随着信息时代的到来,人们都对集成电路的存储、处理等能力要求越来越高;伴随着集成电路的集成度也不断提升,但随着10nm节点制造工艺芯片完成量产,以缩小二维尺寸提高集成电路集成度的技术发展走向极限,于是提出基于TSV的三维芯片集成技术。ITRS(InternationalTechnologyRoadmapforSemiconductors,国际半导体技术发展路线图)报告指出,当硅晶体管栅宽达10nm,单颗高性能芯片能量密度将会超过100W/cm2,若将高性能芯片进行TSV三维立体集成,高功率点将在三维立体空间分布,能量密度将会是堆叠芯片能量密度的总和,这将远远超过现有散热方式的散热能力,如何进行有效散热成为制约TSV三维集成的主要技术难题。
技术实现思路
本专利技术的目的在于提供一种内嵌微流道的散热型TSV转接板及其制作方法,以解决现有的TSV三维集成 ...
【技术保护点】
1.一种内嵌微流道的散热型TSV转接板,其特征在于,包括:/n微流道凹槽层和TSV盖板层,所述微流道凹槽层和所述TSV盖板层通过键合层连接。/n
【技术特征摘要】
1.一种内嵌微流道的散热型TSV转接板,其特征在于,包括:
微流道凹槽层和TSV盖板层,所述微流道凹槽层和所述TSV盖板层通过键合层连接。
2.如权利要求1所述的内嵌微流道的散热型TSV转接板,其特征在于,所述微流道凹槽层包括通过刻蚀形成的微流道凹槽和转接板体通孔,所述转接板体通孔内设有侧壁金属化层;
所述TSV盖板层包括通过刻蚀形成的微流体出入口和TSV通孔,所述TSV通孔内设有侧壁金属化层。
3.如权利要求2所述的内嵌微流道的散热型TSV转接板,其特征在于,所述键合层位于所述转接板体TSV通孔、所述TSV通孔、所述微流道凹槽和所述微流体出入口的周边。
4.如权利要求2所述的内嵌微流道的散热型TSV转接板,其特征在于,所述微流道凹槽的结构包括直线型、S型和折线型。
5.如权利要求4所述的内嵌微流道的散热型TSV转接板,其特征在于,所述转接板体TSV通孔内的侧壁金属化层和所述TSV通孔内的侧壁金属化层的材质均为金属,包括金、铜、钛和镍。
6.如权利要求1所述的内嵌微流道的散热型TSV转接板...
【专利技术属性】
技术研发人员:朱家昌,李杨,叶刚,王成迁,
申请(专利权)人:中国电子科技集团公司第五十八研究所,
类型:发明
国别省市:江苏;32
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