一种控制擦除性能的方法以及装置制造方法及图纸

本发明专利技术提供了一种控制擦除性能的方法以及装置。所述方法应用于NOR flash存储器，所述NOR flash存储器包括：温度传感器、时钟频率发生器、擦除操作状态机以及擦除存储单元，所述擦除操作状态机包括：计数器，所述方法包括：通过擦除操作状态机接收擦除操作指令，根据擦除操作指令执行擦除验证操作和擦除加压操作，擦除加压操作包括：接收温度传感器发送的NOR flash存储器的工作温度，根据工作温度调整单次擦除加压操作的时间，根据调整后的时间完成擦除加压操作。本发明专利技术在执行擦除加压操作时，根据NOR flash存储器的工作温度，调整单次擦除加压操作的时间，完成擦除加压操作，控制擦除验证操作和擦除加压操作的循环周期，提高NOR flash存储器的擦除性能。

【技术实现步骤摘要】
一种控制擦除性能的方法以及装置
本专利技术涉及存储领域，尤其涉及一种控制擦除性能的方法以及装置。
技术介绍
目前NORflash存储器采用隧穿的方式实现擦除操作，研究结果表明，随着温度的降低，电子活跃度也会随着降低，导致擦除时电子难以从浮栅层通过隧道氧化层隧穿到衬底，从而造成擦除时间增长。参照图1，示出了现有NORflash存储器擦除原理示意图，在执行擦除操作时，为了使电子从浮栅层隧穿到衬底，需要给栅端(G)加一个负压，衬底加正压，漏端(D)和源端(S)悬空，研究表明，擦除加压的时间越长，对NORflash存储器中待擦除存储单元的擦除效果越好，擦除操作的成功率越大。目前擦除操作过程中，时钟频率发生器(CLK发生器)的频率和擦除操作状态机中控制擦除加压时间的计数器的最大值，在出厂时是确定好的，然而，随着温度降低，电子活跃度下降，单次擦除加压操作的时间固定，擦除成功的概率下降，使得擦除操作所执行的擦除验证操作和擦除加压操作的循环周期也会增大，完成整个擦除所需要的时间就会越长，甚至最终无法完成擦除任务。r>
技术实现思路
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【技术保护点】
1.一种控制擦除性能的方法，其特征在于，所述方法应用于NOR flash存储器，所述NORflash存储器包括：温度传感器、擦除操作状态机、时钟频率发生器以及擦除存储单元，所述擦除操作状态机包括：计数器，所述温度传感器与所述时钟频率发生器连接，所述擦除操作状态机分别与所述时钟频率发生器和所述擦除存储单元连接，所述方法包括：/n通过所述擦除操作状态机接收擦除操作指令，所述擦除操作指令包括：所需擦除存储单元的地址；/n根据所述擦除操作指令，通过所述擦除操作状态机执行擦除加压操作，所述擦除加压操作为对所述擦除存储单元持续施加预设电压值的操作，所述持续施加预设电压值的时间为所述计数器的最大值与所述时钟...

【技术特征摘要】
1.一种控制擦除性能的方法，其特征在于，所述方法应用于NORflash存储器，所述NORflash存储器包括：温度传感器、擦除操作状态机、时钟频率发生器以及擦除存储单元，所述擦除操作状态机包括：计数器，所述温度传感器与所述时钟频率发生器连接，所述擦除操作状态机分别与所述时钟频率发生器和所述擦除存储单元连接，所述方法包括：
通过所述擦除操作状态机接收擦除操作指令，所述擦除操作指令包括：所需擦除存储单元的地址；
根据所述擦除操作指令，通过所述擦除操作状态机执行擦除加压操作，所述擦除加压操作为对所述擦除存储单元持续施加预设电压值的操作，所述持续施加预设电压值的时间为所述计数器的最大值与所述时钟频率发生器的周期的乘积；
其中，通过所述擦除操作状态机执行擦除加压操作，包括：
所述NORflash存储器接收所述温度传感器发送的所述NORflash存储器的工作温度；
所述NORflash存储器调用所述NORflash存储器的工作温度区间与所述时钟频率发生器的产生频率关系表，其中，工作温度越低的工作温度区间对应的时钟频率发生器的产生频率越慢；
所述NORflash存储器根据所述工作温度与所述关系表，调整所述时钟频率发生器的产生频率；
根据所述调整后的所述时钟频率发生器的产生频率，通过所述擦除操作状态机调整所述时间；
根据调整后的时间，通过所述擦除操作状态机，完成所述擦除加压操作。


2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述NORflash存储器根据所述工作温度与所述关系表，调整所述时钟频率发生器的产生频率，包括：
所述NORflash存储器根据所述工作温度，从所述NORflash存储器的工作温度区间中确定所述工作温度所属的目标工作温度区间；
所述NORflash存储器从所述关系表中查找对应于所述目标工作温度区间的目标频率值；
所述NORflash存储器将所述时钟频率发生器的产生频率调整为所述目标频率值。


3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，根据调整后的时间，通过所述擦除操作状态机，完成所述擦除加压操作，包括：
通过所述擦除操作状态机判断所述计数器的计数值是否达到其最大值；
若所述计数器未达到其最大值，通过所述擦除操作状态机在调整后的时间内持续执行本次所述擦除加压操作；
若所述计数器达到其最大值，通过所述擦除操作状态机结束本次所述擦除加压操作。


4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，若所述计数器达到其最大值，通过所述擦除操作状态机结束本次所述擦除加压操作之后，所述方法还包括：
通过所述擦除操作状态机判断所述擦除加压操作的循环次数是否达到第一预设值；
若循环次数达到所述第一预设值，通过所述擦除操作状态机结束所述擦除操作指令对应的擦除操作；
若循环次数未达到所述第一预设值，通过所述擦除操作状态机执行下一次擦除验证操作，所述擦除验证操作为验证所需擦除存储单元的阈值电压是否小于第一预设电压，若小于第一预设电压则验证通过，若不小于第一预设电压则验证不通过；
若所述验证通过，通过所述擦除操作状态机结束所述擦除操作指令对应的擦除操作；
若所述验证不通过，通过所述擦除操作状态机执行下一次所述擦除加压操作。


5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在根据所述擦除操作指令，通过所述擦除操作状态机执行擦除加压操作之前，所述方法还包括：
通过所述擦除操作状态机验证所需擦除单元的阈值电压是否小于第一预设电压，若小于第一预设电压则所述擦除操作状态机结束所述擦除操作指令对应的擦除操作；
根据所述擦除操作指令，通过所述擦除操作状态机执行擦除加压操作，包括：
若不...

【专利技术属性】
技术研发人员：刘言言，许梦，付永庆，
申请(专利权)人：北京兆易创新科技股份有限公司，合肥格易集成电路有限公司，
类型：发明
国别省市：北京;11