【技术实现步骤摘要】
具有动态冗余功能的MRAM芯片
本专利技术涉及MRAM芯片
,特别是涉及一种具有动态冗余功能的MRAM芯片。
技术介绍
MRAM是一种新的内存和存储技术,可以像SRAM/DRAM一样快速随机读写,还可以像Flash闪存一样在断电后永久保留数据。它的经济性非常好,单位容量占用的硅片面积非常小,比SRAM有很大的优势;其制造工艺中需要的附加光罩数量较少,比嵌入式NORFlash的成本优势更大。它的性能也相当好,读写时延接近SRAM,功耗则比闪存低得多。而且MRAM不像DRAM以及Flash那样与标准CMOS半导体工艺不兼容。MRAM可以和逻辑电路集成到一个芯片中。MRAM的原理是基于一个叫做MTJ(磁性隧道结)的结构。它是由两层铁磁性材料夹着一层非常薄的非铁磁绝缘材料组成的。如图1:下面的一层铁磁材料是具有固定磁化方向的参考层,上面的铁磁材料是可变磁化方向的记忆层,它的磁化方向可以和固定磁化层相平行或反平行。由于量子物理的效应,电流可以穿过中间的隧道势垒层,但是MTJ的电阻和可变磁化层的磁化方向有关。前一种情况电阻 ...
【技术保护点】
1.一种具有动态冗余功能的MRAM芯片,其特征在于,其包括主存储区、ECC纠错单元、冗余存储区和纠错控制器,所述纠错控制器内含有多组非易失的寄存器,每组寄存器包括出错地址、替换地址、替换标识和计数器;/n所述ECC纠错单元用于在MRAM芯片进行正常读操作时接收主存储区中被读取的数据,检查数据中比特错误信息并进行ECC纠错,并将查到的比特错误信息上报至纠错控制器;/n所述纠错控制器用于当该次正常读操作完成时,判断收到的比特错误信息中比特错误数量是否超过设定值,在为是时,判断被读取数据的地址是否在纠错控制器的寄存器的出错地址中,在为是时则将该出错地址对应的计数器实施加一操作,进 ...
【技术特征摘要】
1.一种具有动态冗余功能的MRAM芯片,其特征在于,其包括主存储区、ECC纠错单元、冗余存储区和纠错控制器,所述纠错控制器内含有多组非易失的寄存器,每组寄存器包括出错地址、替换地址、替换标识和计数器;
所述ECC纠错单元用于在MRAM芯片进行正常读操作时接收主存储区中被读取的数据,检查数据中比特错误信息并进行ECC纠错,并将查到的比特错误信息上报至纠错控制器;
所述纠错控制器用于当该次正常读操作完成时,判断收到的比特错误信息中比特错误数量是否超过设定值,在为是时,判断被读取数据的地址是否在纠错控制器的寄存器的出错地址中,在为是时则将该出错地址对应的计数器实施加一操作,进一步判断该计数器的计数值是否达到计数设定值,在为是时则标记该出错地址对应的替换标识为永久替换标识,并在冗余存储区中寻找一空闲地址作为替换地址,将经过ECC纠错的数据写入该替换地址中;在被读取数据的地址不在纠错控制器的寄存器的出错地址中时,在纠错控制器中查找到一组空闲的寄存器,将被读取数据的地址写入查找到的寄存器的出错地址中,并将被写入的出错地址对应的计数器的计数设为1、对应的替换标识...
【专利技术属性】
技术研发人员:戴瑾,王春林,叶力,夏文斌,
申请(专利权)人:上海磁宇信息科技有限公司,
类型:发明
国别省市:上海;31
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