CSK-IA类试块制造技术

本实用新型专利技术提供一种ＣＳＫ－ＩＡ类试块，其结构是一长不大于３００ｍｍ，宽不大于１５０ｍｍ，高不大于４０ｍｍ的长方体，其中试块体左下角加工有圆角，有一定的曲率半径，一般不大于１８０ｍｍ；在试块的中间垂直钻有数量不等的孔，根据需要还可以设置一些槽。该类试块和现有技术相比，具有设计合理、结构简单、制造精度高、测试范围宽、使用方便等特点，因而在无损检测行业具有很好的推广使用价值。（*该技术在2017年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及超声波探伤试块加工技术，具体地说是一种CSK-IA类试块。2、
技术介绍
目前，用于超声波测试用的试块品种很多，普遍存在的不足时测量精度不高、 需要反复测量，因而加大了测试人员的工作量。3、
技术实现思路
本技术的目的是克服上述缺点，提供一种测量精度相对较高的CSK-IA类 试块。本技术的技术方案是，试块体的结构是一长《300咖，宽《150mm，高 《40mm的长方体，试块体的一端加工有圆角台阶，其中下圆角台阶的曲率半径《 180mm，上圆角台阶的曲率半径《50mm，在试块体的中间垂直钻有通孔和台阶孔， 试块体的边部加工有槽。本技术的优点是1) 能很好地调整纵波检测范围和扫描速度；2) 利用试块的厚度和宽度，测试仪器的水平线性、直线行和动态范围；3) 测量探头和仪器的分辨率；4) 侧斜探头的折射角；5) 侧斜探头的入射角；6) 调整横波探测范围和扫描速度。7) 结构简单、使用方便、范围广和测试精度高。4、 附图说明附图1是CSK-IA类试块的主视结构示意图； 附图2是CSK-IA类试块的俯视结构示意图； 附图3是CSK-IA类试块的左视结构示意图。附图中的标记分别表示；试本文档来自技高网...

【技术保护点】
ＣＳＫ－ＩＡ类试块，其特征在于试块体的结构是一长≤３００ｍｍ，宽≤１５０ｍｍ，高≤４０ｍｍ的长方体，试块体的一端加工有圆角台阶，其中下圆角台阶的曲率半径≤１８０ｍｍ，上圆角台阶的曲率半径≤５０ｍｍ，在试块体的中间垂直钻有通孔和台阶孔，试块体的边部加工有槽。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：魏忠瑞，
申请(专利权)人：山东济宁模具厂，
类型：实用新型
国别省市：37[中国|山东]