大张二极管电路及大张二极管测试方法技术

本申请提供一种大张二极管电路，包括：线路板；多个贴片线路，设于线路板上；贴片线路包括串联线和多个二极管，串联线串联起多个二极管；测试线路，设于线路板上，包括一个阳极单元和多个阴极单元；阳极单元包括阳极接线片和阳极导线；阴极单元包括阴极接线片和阴极导线；阳极接线片和多个阴极接线片集中排列于线路板的边缘。本申请相较于传统测试方法，实现了同时测试多个二极管，提高了测试效率，避免了外部检测单元直接接触二极管，规避了二极管的损伤风险。本申请同时提供一种适用于大张二极管电路的大张二极管测试方法。

【技术实现步骤摘要】
大张二极管电路及大张二极管测试方法
本专利技术涉及发光二极管检测
，尤其涉及一种大张二极管电路及大张二极管测试方法。
技术介绍
在发光二极管(LED，LightEmittingDiode)的生产加工流程中，需要测试发光二极管是否导通，以防止不良品流出。现有的测试方法为，将贴在线路板上的发光二极管逐个插针或压接供电点亮发光二极管，以测试其导通性。然而，在实现本申请的过程中，专利技术人发现现有技术中至少存在如下问题：大张的线路板上排布的发光二极管数量多，依次点亮测试效率低下，且测试治具直接接触发光二极管，容易刮碰发光二极管，造成发光二极管损伤。
技术实现思路
有鉴于此，有必要提供一种大张二极管电路及大张二极管测试方法，以解决上述问题。本专利技术实施例提供一种大张二极管电路，所述大张二极管电路包括：线路板；多个贴片线路，设于所述线路板上；所述贴片线路包括串联线和多个二极管，所述串联线串联起多个所述二极管，所述串联线的两端分别为正极端和负极端；测试线路，设于所述线路板上；所述测试线路包括一个阳极单元和多个阴极单元，所述阴极单元的数量与所述贴片线路的数量一致；所述阳极单元包括阳极接线片和阳极导线，所述阳极接线片通过所述阳极导线分别电连接多个所述贴片线路的正极端；所述阴极单元包括阴极接线片和阴极导线，每个所述阴极接线片通过所述阴极导线电连接一个所述贴片线路的负极端；所述阳极接线片和多个所述阴极接线片集中排列于所述线路板的边缘。本专利技术实施例的大张二极管电路相较于传统的二极管导通测试方法，通过测试线路电连接多个具有二极管的贴片线路，实现了同时测试多个二极管，提高了测试效率，外部检测单元通过阳极接线片与阴极接线片向二极管供电，避免了外部检测单元直接接触二极管，规避了二极管的损伤风险。在一些实施例中，所述阳极单元还包括阳极延长段，所述阳极导线通过所述阳极延长段电连接所述正极端；所述阴极单元还包括阴极延长段，所述阴极导线通过所述阴极延长段电连接所述负极端。通过阳极延长段和阴极延长段连接贴片线路的正极端和负极端，起到了间隔开测试线路与贴片线路的作用，避免了阳极导线及阴极导线与贴片线路之间相互干扰。在一些实施例中，所述阳极导线与所述阴极导线的线宽大于或等于30μm。避免阳极导线与阴极导线由于线宽过窄，在黄光工艺过程中受损，造成断路等不良。在一些实施例中，所述大张二极管电路还包括直流电源；所述直流电源的正极电连接所述阳极接线片，所述直流电源的负极电连接多个所述阴极接线片。将直流电源连接大张二极管电路后，即可通过贴片线路内二极管是否被点亮判断该贴片线路内是否有二极管未导通。在一些实施例中，所述大张二极管电路还包括检测机构；所述检测机构连接于多个所述阴极导线上，用于测试所述阴极导线内是否有电流导通。检测机构用于判断每个阴极导线内是否有电流流通，进而可代替查看二极管是否被点亮的方法判断该贴片线路内是否有二极管未导通，提高了检测效率，节省测试时间。在一些实施例中，所述二极管为发光二极管或微型发光二极管。发光二极管(LED)及微型发光二极管(mini-LED)可设置于贴片线路内，实现不同的发光效果。在一些实施例中，多个所述贴片线路均匀间隔排布于所述线路板的一侧。多个贴片线路均匀间隔排列，便于后续工艺流程中的切片流程，使得每一片贴片线路均能被完成切出。在一些实施例中，所述测试线路的数量为多个；每个所述测试线路电连接多个所述贴片线路。多个测试线路同时排布于线路板，充分利用了线路板的空间，实现了同时测试更多的贴片线路，避免了单一测试线路的阳极导线与阴极导线排布混乱，提高了测试效率。本专利技术实施例还提供一种大张二极管测试方法，适用于上述大张二极管线路，包括步骤：将直流电源的正极电连接于所述阳极接线片，负极电连接于所述阴极接线片；依据各所述贴片线路内的二极管是否发光判断该贴片线路内是否有二极管未导通。大张二极管测试方法通过测试线路电连接多个贴片线路，实现了同时测试多个贴片线路内的二极管，提高了测试效率，规避了传统测试方式中二极管损伤的风险。在一些实施例中，所述大张二极管测试方法还包括步骤：将所述线路板切片，分离出每个所述贴片线路，并废弃所述测试线路。将线路板进行切片可分离出每个贴片线路，测试结果为正常导通的贴片线路可直接进行后续加工作业。使用本专利技术实施例提出的大张二极管电路或发光二极管测试方法代替传统的逐个插针点亮测试，通过测试线路同时接通多个具有二极管的贴片线路，实现了同时测试多个贴片线路内的二极管是否导通，提高了检测效率；通过设于线路板边缘的阳极接线片和阴极接线片电连接直流电源，使得测试过程中治具不会直接接触二极管，规避了二极管的损伤风险。附图说明图1为本专利技术一实施例的大张二极管电路的平面示意图。图2为图1所示的大张二极管线路内部分结构的平面示意图。图3为图2所示的大张二极管内的平面电路示意图。图4为本专利技术一实施例的发光二极管测试方法的流程图。主要元件符号说明大张二极管电路100线路板10贴片线路20串联线22正极端222负极端224二极管24测试线路30阳极单元32阳极接线片322阳极导线324阳极延长段326阴极单元34阴极接线片342阴极导线344阴极延长段346直流电源40检测机构50如下具体实施方式将结合上述附图进一步说明本专利技术。具体实施方式下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围。需要说明的是，当一个组件被称为“电连接”另一个组件，它可以直接在另一个组件上或者也可以存在居中的组件。当一个组件被认为是“电连接”另一个组件，它可以是接触连接，例如，可以是导线连接的方式，也可以是非接触式连接，例如，可以是非接触式耦合的方式。除非另有定义，本文所使用的所有的技术和科学术语与属于本专利技术的
的技术人员通常理解的含义相同。本文中在本专利技术的说明书中所使用的术语只是为了描述具体的实施例的目的，不是旨在于限制本专利技术。本文所使用的术语“和/或”包括一个或多个相关的所列项目的任意的和所有的组合。下面结合附图，对本专利技术的一些实施方式作详细说明。在不冲突的情况下，下述的实施例及实施例中的特征可以相互组合。请同时参阅图1与图2，本专利技术一实施例提供一种大张二极管电路100，可测试其内部贴片线路20内是否有二极管24未导通。大张二极本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种大张二极管电路，其特征在于，所述大张二极管电路包括：/n线路板；/n多个贴片线路，设于所述线路板上；/n所述贴片线路包括串联线和多个二极管，所述串联线串联起多个所述二极管，所述串联线的两端分别为正极端和负极端；/n测试线路，设于所述线路板上；/n所述测试线路包括一个阳极单元和多个阴极单元，所述阴极单元的数量与所述贴片线路的数量一致；/n所述阳极单元包括阳极接线片和阳极导线，所述阳极接线片通过所述阳极导线分别电连接多个所述贴片线路的正极端；/n所述阴极单元包括阴极接线片和阴极导线，每个所述阴极接线片通过所述阴极导线电连接一个所述贴片线路的负极端；/n所述阳极接线片和多个所述阴极接线片集中排列于所述线路板的边缘。/n

【技术特征摘要】
1.一种大张二极管电路，其特征在于，所述大张二极管电路包括：
线路板；
多个贴片线路，设于所述线路板上；
所述贴片线路包括串联线和多个二极管，所述串联线串联起多个所述二极管，所述串联线的两端分别为正极端和负极端；
测试线路，设于所述线路板上；
所述测试线路包括一个阳极单元和多个阴极单元，所述阴极单元的数量与所述贴片线路的数量一致；
所述阳极单元包括阳极接线片和阳极导线，所述阳极接线片通过所述阳极导线分别电连接多个所述贴片线路的正极端；
所述阴极单元包括阴极接线片和阴极导线，每个所述阴极接线片通过所述阴极导线电连接一个所述贴片线路的负极端；
所述阳极接线片和多个所述阴极接线片集中排列于所述线路板的边缘。


2.如权利要求1所述的大张二极管电路，其特征在于，所述阳极单元还包括阳极延长段，所述阳极导线通过所述阳极延长段电连接所述正极端；
所述阴极单元还包括阴极延长段，所述阴极导线通过所述阴极延长段电连接所述负极端。


3.如权利要求1所述的大张二极管电路，其特征在于，所述阳极导线与所述阴极导线的线宽大于或等于30μm。


4.如权利要求1所述的大张二极管电路，其特征在于，所述大张二极管电路还包括直流电...

【专利技术属性】
技术研发人员：吴模信，李艳强，
申请(专利权)人：南昌欧菲显示科技有限公司，
类型：发明
国别省市：江西;36