微束光源数控透射率测量仪制造技术

本实用新型专利技术涉及一种透射率测量仪，本实用新型专利技术采用半导体激光器产生的微束光作光源，因其发散角极小，不需要设置调焦机构，且光斑面积即为测量面积，测量精度高，而且抗干扰能力强，探测器可以在Ｘ轴方向移动，样品只在Ｙ轴方向移动，使整个仪器的结构简化，体积缩小，传动机构均由步进电机带动，测量点的移动由单片计算机作控制管理，故测量点定位及位移准确。单片计算机还可将测量数据根据需要进行处理、转移和储存，还可转算成其它物理量。由于结构简单、制造成本低、可靠性高。（*该技术在2004年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及一种透射率测量仪。透射率测量仪主要用于X射线粉末照相底片测量、光谱摄谱底片测量、照相底片的密度分析及工业探伤底片的缺陷分析等领域。透射率是表示透光性能的基本表达式，定义为T=II0]]>式中I0为入射光强度，I为透射光强度。根据透射率，可导出其它单位的表达式，如表示感光胶片的密度D=loglT]]>表示材料的吸收率T＝e-kd式中k为吸收系数，d为材料的厚度透射率的测量一般都是在一个面积很小的探测点上进行的，如探测面积为直径0.05mm的园，为增强代表性，一般都用增加测量点求均值的方法来实现，也可以增大探测点的面积来实现，但这会降低测量的分辨率。在实际应用时，通常都是不放样品，先测入射光的强度并将仪器调零，或者用标准样品对仪器进行标定，然后再开始正式测量。在不同的应用领域内，透射率测量仪常被表示为不同的名称，如密度计、显微光度计、测微光度计、黑度计等。现有技术中，其光学系统均采用以白炽灯为光源进行聚焦的光学系统；探测器均是固定在机架上的，需要改变测点时，用移动样品的方式来实现。当测量点的相对位置也需要作精密测定时，靠移动样品的夹持机构并测量其移动距离来实现本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种微束光源数控透射率测量仪由探测器和传动机构组成，其特征在于：由产生微束光的激光器作光源和接收微束光的光敏接收器组成无需聚焦的光学系统（探测器），通过各自的步进电机和减速传动机构沿Ｘ、Ｙ轴作直线移动的探测器和样品夹持机构分别由单片机控制；①籍滚珠丝杠（１）的角位移经滚珠丝杠螺母（１７）转换成直线位移的探测器（３）由支架（１８）、激光器（１９）、光敏接收器（２０）、滚轮（１６）及滚珠丝杠螺母（１７）组成一个可移动的整体，作为光源发射微束入射光的激光器（１９）和接收全部透射光的光敏接收器（２０）分别安装在支架（１８）内的上下端，二者同心，支架（１８）一侧安装有滚珠丝杠螺母（１７）并套在滚珠丝杠（...

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：黄新耀，
申请(专利权)人：地质矿产部宜昌地质矿产研究所，
类型：实用新型
国别省市：42[中国|湖北]