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本实用新型涉及一种透射率测量仪，本实用新型采用半导体激光器产生的微束光作光源，因其发散角极小，不需要设置调焦机构，且光斑面积即为测量面积，测量精度高，而且抗干扰能力强，探测器可以在Ｘ轴方向移动，样品只在Ｙ轴方向移动，使整个仪器的结构简化，体...
该专利属于地质矿产部宜昌地质矿产研究所所有，仅供学习研究参考，未经过地质矿产部宜昌地质矿产研究所授权不得商用。

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