能检测冲击量的检测装置和带这种装置的便携式电子设备制造方法及图纸

一种便携式电子设备，有一个外壳（１１）和一个检测装置（２１）。检测装置有一个冲击检测部分和一个固定部分。冲击检测部分具有起码一个会因强度大于或等于预选值的冲击而损坏的冲击感测部分。固定部分将冲击检测部分固定到电子设备外壳（１１）内。（*该技术在2018年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本专利技术一般涉及检测装置和便携式电子设备，具体地说，涉及一种供检测电子设备过去所受到冲击或作用力的强度的检测装置，还涉及一种装有这种检测装置的便携式电子设备。近几年来，市面上出售了象手提电话机、手提计算机和手提信息通信终端之类的小巧便携式电子设备。这些电子设备可以提来提去使用，因而用户错将其掉地时会受到冲击和作用力的作用，而这些便携式电子设备由于其便携式的用途而更乐意将其制成紧凑而质轻的产品，因而上面一般是不装极竖硬的外壳的。因此，强烈的冲击和过度的作用力作用到这些电子设备时，就有使这些电子设备失灵的风险。通常，便携式电子设备失灵时，用户就通过销售店要求制造厂家修理。用户将便携式电子设备掉地所引起的冲击往往是造成电子设备失灵的主要原因。然而，没有工程技术人员能知道实际作用到失灵的便携式电子设备上的冲击的强度，因而要预测失灵电子设备失灵的原因或澄清失灵的原因实际上有困难。相反，没有工程技术人员会真正掌握作用到便携式电子设备使电子设备失灵的冲击强度。日本公开专利申请特开昭56-148068公开了“测定半导体器件疲劳程度的装置”。这个现有技术涉及半导体器件封装件内焊接点部分的热疲劳程度。这种疲劳测定装置能随着时间的推移准确测定和评估热疲劳程度，但该专利的方法解决不了上述困难。此外，日本公开专利申请特开昭61-140838公开了“结构要件的诊断方法”。这个现有技术涉及能正确判断机械结构构件剩余寿命的方法，但此专利技术构思解决不了上述困难。日本公开专利申请特开昭63-53440介绍了一种“材料检验装置”。这个现有技术涉及检验材料性能不均匀或承受不均匀负荷的结构构件的材料检验装置，但此专利技术构思解决不了上述困难。日本公开专利申请特开平4-191636公开了一种“扩散性裂缝测定系统”。这个现有技术涉及易测定金属材料上产生的裂缝的扩散速度的测定系统，应用此扩散速度来分析金属材料上扩散着的裂缝。但此专利技术构思解决不了上述困难。日本公开专利特开平7-130295公开了一种“具存储检验结构元件用的信息的存储装置，可循环再使用的结构元件和有这种元件的制品”。这个现有技术涉及可循环再使用的结构元件，涉及带这种可循环再使用的结构元件的制品的检验装置，并涉及此制品本身，但这个专利技术构思解决不了上述困难。本专利技术是为解决上述问题而提出的。因此，本专利技术的目的是提供一种供检测过去作用到电子设备上的冲击强度的检测装置。本专利技术的另一个目的是提供一种能检验出作用到电子设备上的冲击是否为造成电子设备失灵的主要因素的检测装置。本专利技术的又另一个目的是提供一种装有本专利技术的检测装置的便携式电子设备。此外，本专利技术还有另一个目的，即提供一种供探查电子设备因作用到其上的冲击强度而失灵的检测装置。此外，还有一个目的，即提供装有这种检测装置的便携式电子设备。为实现本专利技术的一个方面，本专利技术检测装置有一个具至少一个冲击感测部分的冲击检测部分和一个将冲击检测部分固定到电子设备外壳中的固定部分。这里，冲击感测部分会因大于或等于预选强度的冲击而损坏。固定部分具粘附性能。冲击检测部分具有多个冲击感测部分，这些部分会因冲击而损坏。冲击感测部分由选自下列材料组成的材料群的材料制成玻璃，金属薄膜，低抗冲击性能的材料，短纤维分散在脆性树脂中制成的负含材料，和对冲击高度敏感的电子元件。为实现本专利技术的另一方面，本专利技术检测装置有一个具起码一个冲击感测部分的冲击检测部分和一个将冲击检测部分固定到电子设备外壳中的固定部分。这里，冲击感测部分会因大于或等于预选强度的冲击而变形。固定部分具粘附性能。冲击感测部分的变形量随所作用的冲击强度而变化。冲击检测部分有多个冲击冲击感测部分，各冲击感测部分对预定冲击强度的变形量不同。为实现本专利技术的另一个方面，本专利技术的便携式电子设备有一个外壳和一个固定在外壳内的检测装置。这里，检测装置的冲击检测部分有起码一个冲击感测部分，供感测大于或等于预定强度的冲击。便携式电子设备有起码一个拐角部分，检测装置固定到所述起码一个拐角部分或靠近重心处。便携式电子设备有多个拐角部分，所有拐外部分都配备有检测装置。冲击感测部分会因大于或等于预定强度的冲击而损坏。冲击检测部分有多个冲击感测部分，这些部分会分别因不同强度的冲击而损坏。冲击感测部分会因大于或等于预选强度的冲击而变形。冲击检测部分有多个冲击感测部分，各冲击感测部分对预定冲击强度产生的变形量不同。便携式电子设备相当于手提计算机、手提信息通信终端和手提电话机任意之一。附图说明图1是本专利技术第一实施例的便携式电子设备的透视图。图2是本专利技术第一实施例便携式电子设备第一修改方案的示意图。图3是本专利技术第一实施例便携式电子设备第二修改方案的示意图。图4是本专利技术第一实施例便携式电子设备第三修改方案的示意图。图5是本专利技术第二实施例便携式电子设备的示意图。图6是本专利技术第二实施例便携式电子设备第一修改方案的示意图。图7是本专利技术第二实施例便携式电子设备第二修改方案的示意图。图8是本专利技术第二实施例便携式电子设备第三修改方案的示意图。图9是本专利技术第一实施例检测装置的结构透视图。图10是本专利技术第二实施例检测装置的结构透视图。图11是本专利技术第三实施例检测装置的结构透视图。图12A和12B示意示出了本专利技术第四实施例的检测装置。图12A是第四检测装置的透视图，图12B是沿图12A的A-A′线截取的第四检测装置的剖视图。图13是本专利技术第五实施例检测装置的剖视图。图14是本专利技术第六实施例检测装置的结构透视图。图15示意示出了本专利技术第七实施例检测装置的结构。图16示意示出了本专利技术第八实施例检测装置的结构。图17示意示出了本专利技术第九实施例检测装置的结构。现在参看附图详细说明本专利技术的各种最佳实施例。图1是本专利技术第一实施例便携式电子设备的透视图。如图中所示，检测装置21装在便携式电子设备的外壳11中。检测装置21的作用是检测过去的冲击和作用力数据(即过去作用到检测装置21的冲击和作用力的强度)。在此第一实施例中，检测装置21装在便携式电子设备的外壳11中或靠近便携式电子设备一个拐角部分的位置。便携式电子设备是个手提计算机或叫做PDA(个人数字助手)的手提信息通信终端。过去冲击和作用力数据检测装置21有一个冲击检测部分。冲击检测部分中装有玻璃和金属薄膜之类脆性材料制成的冲击感测部分。冲击感测部分有一个冲击强度阈值，当大于或等于冲击阈值的冲击作用到冲击感测部分时，冲击感测部分上就产生裂缝。大于预定值的冲击作用到检测装置21上时，检测装置21的冲击感测部分就产生诸如裂纹、裂口和裂隙之类的裂缝。此外，检测装置21不是附在外壳11表面而是附在外壳11里面。冲击感测不会因外壳11表面上产生的裂缝而损坏，而只有当便携式设备受到撞击性的冲击时才有可能损坏。冲击作用到装有检测装置21的便携式电子设备上且冲击的强度超过阈值时，设在装在便携式电子设备中的冲击感测部分就产生裂缝。用户将便携式电子设备掉地或撞击到某物体时冲击就作用到便携式电子设备上。损伤的便携式电子设备失灵因而用户要求将其修理时，检修工程技术人员就检验装在便携式电子设备的检测装置21中的冲击感测部分有否裂缝产生。于是，检修工程技术人员可能认为作用到便携式电子设备上的冲击强度是造成设备失灵的原因。首先检修工程技术人员拆开失本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种便携式电子设备，其特征在于，它包括：一个外壳；和一个检测装置，因定在所述外壳内，且包括至少有一个供感测强度大于或等于预选值的冲击的冲击感测部分的冲击检测部分。

【技术特征摘要】
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【专利技术属性】
技术研发人员：竹内和宏，黑田充，
申请(专利权)人：日本电气株式会社，
类型：发明
国别省市：JP[日本]