【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及一种检测DNA芯片假阳性、假阴性杂交信号的方法。现有技术中，DNA芯片采用同一温度、一次性杂交，然后利用荧光显微镜(或共聚焦显微镜、DNA芯片专用扫描仪)检测DNA芯片的各个探针区域的荧光强度。通过给定的荧光强度的域值来判断杂交信号的有无或高低。如某一区域的荧光强度高于域值，则认为该区域的荧光信号为阳性信号；如低于域值，则认为是阴性信号。如美国AFFYMATRIX公司的GenChip系统(http//www.affymatrix.com)。其具体实验方法如下1.利用化学方法把特异性寡核苷酸链固定于玻璃片或硅片上。2.荧光标记的待测靶基因溶解于杂交液中；然后把杂交液铺满于DNA芯片上，在一定温度下杂交一段时间。3.在一定温度下洗去未杂交的靶基因及非特异性吸附的靶基因。4.在荧光检测仪器上获得DNA芯片上的荧光图像。5.利用计算机图像分析软件，计算不同区域的荧光强度积分值。按预先确定的积分荧光强度域值，给出阳性信号区域。如上所述，这种DNA芯片的杂交方法和信号检测方法存在以下几个方面的问题1.由于DNA芯片的寡核苷酸探针的碱基组成不同，因而其最适杂...
【技术保护点】
一种检测ＤＮＡ芯片假阳性，假阴性杂交信号的新方法，其特征在于将ＤＮＡ芯片放置于温控杂交盒中，加入含待测靶基因的杂交液于杂交盒内，按需设置芯片的杂交温度和时间，漂洗温度和时间，由计算机控制定时对杂交荧光信号进行扫描，利用荧光显微镜或共聚焦显微镜记录几个不同温度下ＤＮＡ芯片的荧光图像，当杂交完成后，增加ＤＮＡ芯片的溶液温度检测双链解链速度，如果所有温度下，某一区域荧光强度均匀低于某一域值，则认为该区域的信号为阴性信号；如在某一温度下荧光强度高于域值，则根据动态杂交曲线或动态解链曲线进行判断。
【技术特征摘要】
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