透明材料破坏的测量装置制造方法及图纸

一种透明材料破坏的测量装置，它包括在外壳内，沿着激光器发射光束前进的方向上，同光轴地依次置有扩束镜，反射面与光轴成α角置放的半反半透镜、偏振片、偏振棱镜、凸透镜以及供置放含有破坏点的待测透明材料的调整架。发射光束穿过含有破坏点的待测透明材料后射到在光路端点处的全反射镜上被反射后沿原光路返回。在半反半透镜反射光束的方向上置有显示观测器件。具有光路简单紧凑、易于调整、使用方便、成本低、测量精度高的优点。（*该技术在2020年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术是一种关于测量透明材料破坏的装置，主要适用于透明材料，特别是光学玻璃材料的微小破坏的测量。在激光领域中，透明光学元件材料(如光学玻璃等)的微小破坏测量，一直是人们关心的问题。在先技术中，於海武等人在文章“光学玻璃材料破坏测量”(光学学报，1996，Vo1．16，No．111646-1649)中，提供了一种光学玻璃材料破坏的测量装置，其结构对于待测材料几乎是左右对称的，如图1所示。氦氖激光器1发出的相干光经过第一个偏振片2变成线偏振光后，被第一个偏振棱镜3将其一分为二，两束光经过第一个凸透镜4后变成平行光，一束通过待测材料5的完好部分，另一束通过待测材料5的微小破坏点6，这两束分别携带了待测材料的破坏程度和完好程度信息的光被第二个凸透镜7会聚于第二个偏振棱镜8中，第二个偏振棱镜8将它们合二为一进行干涉。干涉图样经第二个偏振片9滤去非偏振杂散光，再经显微物镜10放大后，最后用CCD摄象机11进行接收。从干涉条纹的弯曲程度可以观测出待测材料的破坏程度。上述在先技术测量装置的结构的缺点是①整个装置光路太长，放置时受实验场地空间大小的限制。②大多数光学元件对于待测材料是左右对称本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种透明材料破坏的测量装置，包括：〈１〉外壳（１６）内置有的激光器（１），在外壳（１６）内，沿着激光器（１）发射光束（Ｇ↓［０］）前进的方向上，与激光器（１）同光轴（ＯＯ）地依次置有偏振片（２）、偏振棱镜（３）、凸透镜（４）以及供置放含 有破坏点（６）的待测透明材料（５）的调整架（１５）；其特征在于：〈２〉发射光束（Ｇ↓［０］）穿过含有破坏点（６）的待测透明材料（５）后射到在光路端点处的全反射镜（１４）上被反射并沿原光路返回；〈３〉在激光器（１）与偏振片（２）之 间的光路上，与激光器（１）同光轴（ＯＯ）地置有扩束镜（１２）；〈４〉在扩束镜（１２）与偏振片（２）之间的...

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】

【专利技术属性】
技术研发人员：朱鹏飞，孟绍贤，
申请(专利权)人：中国科学院上海光学精密机械研究所，
类型：发明
国别省市：31[中国|上海]