本发明专利技术提供一种非破坏检查装置。非破坏检查装置(1)具备X射线照射器(20)、低能检测器(32)、高能检测器(42)、低能透过率计算部(72)、高能透过率计算部(74)、检测部(76)及补正部(78)。计算部(72)计算表示透过X射线的低能范围的透过率的值。计算部(74)计算表示透过X射线的高能范围的透过率的值。检测部(76)基于由两计算部(72、72)算出的透过率之比，检测X射线照射器(20)的错位内容。补正部(78)在由检测部(76)检测出X射线照射器(20)的错位内容的情况下，根据错位内容，对由检测器(32、42)检测出的X射线的亮度数据进行补正。
【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】【专利摘要】本专利技术提供一种非破坏检查装置。非破坏检查装置(1)具备X射线照射器(20)、低能检测器(32)、高能检测器(42)、低能透过率计算部(72)、高能透过率计算部(74)、检测部(76)及补正部(78)。计算部(72)计算表示透过X射线的低能范围的透过率的值。计算部(74)计算表示透过X射线的高能范围的透过率的值。检测部(76)基于由两计算部(72、72)算出的透过率之比，检测X射线照射器(20)的错位内容。补正部(78)在由检测部(76)检测出X射线照射器(20)的错位内容的情况下，根据错位内容，对由检测器(32、42)检测出的X射线的亮度数据进行补正。【专利说明】
本专利技术涉及。
技术介绍
大众公知的是对食品及工业制品等的被检查物照射X射线等的放射线，在低能范围和高能范围的不同的范围内检测透过了被检查物的放射线，进行非破坏检查的双能式(Dual energy type)的检查装置。根据这种非破坏检查装置，可以同时取得低能范围的放射线图像和高能范围的放射线图像。而且，通过在这些不同的能量范围内取得的放射线图像间进行规定的运算(除法或差分、加法、乘法等)，在例如由带式输送机输送的被检查物的非破坏检查中，能够以高精度进行复杂地混杂在一起的成分分布的测量或不易带反差的异物的检测等。这种检查装置为了在不同的能量范围取得放射线图像，分别具备与各能量范围对应的检测器，例如采用将这些检测器纵长地配置的结构(参照专利文献I的第九图)。专利文献1:(日本)特开平04 — 002907号公报然而，在这样将检测器在两段重叠起来的结构的检查装置中，放射线源为点光源，并且放射线的照射方向的上游侧的检测器所包含的拍摄元件和下游侧的检测器所包含的拍摄元件之间存在距离，所以在用各个拍摄元件取得的图像间往往会产生偏离(参照图3(b))。因此，使用校准部件等事前取得上游侧的检测器的各像素和下游侧的检测器的各像素的对应关系，在进行非破坏检查时，可取得上游侧的检测器的各像素和下游侧的检测器的各像素对应的放射线图像。但是，当连续进行非破坏检查时，因放射线源及非破坏检查装置的温度产生的位移或变形(热膨胀)，放射线源的光源位置移动(焦点移动)，有时无法取得所对应的上游侧的检测器的各像素和下游侧的检测器的各像素的对应关系。若这样没有取得各检测器的像素间的对应关系，在放射线图像间进行规定的运算时，因运算结果中产生的疑似边缘的发生等，不能取得适当的放射线运算图像，有可能降低非破坏检查的测量精度。在以一列式连续进行非破坏检查的情况下，每次检查时难以进行校准，在像素间的对应关系没有被取得的情况下，需要早期检测该情况，以像素间的对应关系被选定的方式对放射线图像进行补正。
技术实现思路
本专利技术的一个方式的非破坏检查装置是具备输送部、放射线源、第一及第二放射线检测器、第一及第二计算部、检测部、补正部的装置。输送部沿规定的方向输送被检查物。放射线源以与输送部的输送方向交叉的方式朝向输送部照射放射线。第一放射线检测器在第一能量范围检测从放射线源照射的放射线。第二放射线检测器在比第一能量范围高的第二能量范围检测从放射线源照射的放射线。第一计算部根据由第一放射线检测器检测出的放射线的亮度数据，计算表示从放射线源照射且透过被检查物的放射线的第一能量范围的第一透过率的值。第二计算部根据由第二放射线检测器检测出的放射线的亮度数据，计算表示从放射线源照射且透过被检查物的放射线的第二能量范围的第二透过率的值。检测部基于表示由第一计算部算出的第一透过率的值和表示由第二计算部算出的第二透过率的值的比或差，检测放射线源的错位内容。补正部在由检测部检测出放射线源的错位内容的情况下，根据该错位内容对由第一及第二放射线检测器检测出的放射线的亮度数据的至少一方进行补正。本专利技术的一方式的补正方法是在具备沿规定的方向输送被检查物的输送部、以与输送部的输送方向交叉的方式朝向输送部照射放射线的放射线源、在第一能量范围内检测从放射线源照射的放射线的第一放射线检测器、在比第一能量范围高的第二能量范围内检测从放射线源照射出的放射线的第二放射线检测器的非破坏检查装置中，对由第一及第二放射线检测器检测出的亮度数据的至少一方进行补正的补正方法。该补正方法包括第一计算步骤、第二计算步骤、检测步骤、补正步骤。在第一计算步骤中，根据由第一放射线检测器检测出的放射线的亮度数据，计算表示从放射线源照射且透过被检查物的放射线的第一能量范围的第一透过率的值。在第二计算步骤中，根据由第二放射线检测器检测出的放射线的亮度数据，计算表示从放射线源照射且透过被检查物的放射线的第二能量范围的第二透过率的值。在检测步骤中，基于表示在第一计算步骤中算出的第一透过率的值和表示在第二计算步骤中算出的第二透过率的值的比或差，检测放射线源的错位内容。在补正步骤中，在检测步骤中检测出放射线源的错位内容的情况下，根据该错位内容对由第一及第二放射线检测器检测出的放射线的亮度数据的至少一方进行补正。根据上述方式，根据亮度数据算出表示透过被检查物的放射线的第一及第二能量范围的各透过率的值，基于表示这些透过率的值的比或差，检测放射线源的错位内容。例如X射线等放射线具有能量越高越易透过物体这种性质，通过参照表示在以像素等相互对应的方式调整好的两检测器的物体的透过率的值的比或差，可以检测检测器的像素间的对应关系破坏的状态，并且可以检测该对应关系如何破坏的状况，由此，可以了解放射线源的错位内容。其结果是，根据上述方式，可以早期检测放射线检测器的像素间的对应未被取得的情况，能够以像素间的对应重新被确定的方式对来自检测器的亮度数据进行补正。另外，根据上述方式，利用亮度数据计算表示放射线的第一及第二能量范围的各透过率的值。该情况下，由于利用通常由非破坏检查装置的放射线检测器取得的亮度数据，所以能够容易地求得透过率，不需要另外设置新的检测器。但是，也可以另外设置新的检测器。由第二放射线检测器检测出的第二能量范围其一部分也可以与第一能量范围重叠，只要作为范围整体比第一能量范围高即可。在本专利技术的另一方式的非破坏检查装置及补正方法中，检测部储存有基于被检查物的放射线透过率所设定的上限及下限两个阈值，通过将表示第一及第二透过率的值的比或差与上限及下限这两个阈值进行比较，也可以检测放射线源的错位内容。该情况下，为了检测放射线源的错位内容，基于与各被检查物不同的放射线透过率设定阈值，可以更可靠地了解放射线源的错位内容。在又一方式的非破坏检查装置及补正方法中，第一及第二放射线检测器分别具有向与输送方向及照射方向交叉的检测方向延伸的检测区域。检测部将与检测区域对应且由表示第一及第二透过率的值的比或差的集合构成的透过率图形与上限及下限的两阈值进行比较，也可以检测放射线源的错位内容。该情况下，通过透过率图形和阈值的比较处理，可以检测放射线源的错位内容，因此可简易地进行检测处理。在又一非破坏检查装置及补正方法中，检测部在透过率图形中与被检查物的一端对应的部位比上限的阈值高，且在透过率图形中与被检查物的另一端对应的部位比下限的阈值小的情况下，也可以判定出放射线源在检测方向上偏离。而且，补正部在通过检测部判定为放射线源在检测方向上偏离的情况下，通过进行使用于使来自第一及本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种非破坏检查装置，其具备：向规定方向输送被检查物的输送部；以与所述输送部的输送方向交叉的方式朝向所述输送部照射放射线的放射线源；在第一能量范围内检测自所述放射线源照射的放射线的第一放射线检测器；在比所述第一能量范围高的第二能量范围内检测自所述放射线源照射的放射线的第二放射线检测器；第一计算部，其根据由所述第一放射线检测器检测出的放射线的亮度数据，计算表示从所述放射线源照射且透过所述被检查物的放射线的所述第一能量范围的第一透过率的值；第二计算部，其根据由所述第二放射线检测器检测出的放射线的亮度数据，计算表示自所述放射线源照射且透过所述被检查物的放射线的所述第二能量范围的第二透过率的值；检测部，其基于表示由所述第一计算部算出的所述第一透过率的值和表示由所述第二计算部算出的所述第二透过率的值之比或差，检测所述放射线源的错位内容；补正部，其在由所述检测部检测出所述放射线源的错位内容的情况下，根据该错位内容，对由所述第一及第二放射线检测器检测出的放射线的亮度数据的至少一方进行补正。
【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】...
【专利技术属性】
技术研发人员：须山敏康，
申请(专利权)人：浜松光子学株式会社，
类型：发明
国别省市：日本;JP
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