可控硅调压系统技术方案

本实用新型专利技术涉及到可控硅控制技术领域，特别涉及一种可控硅调压系统，其包括电性连接的过零检测模块、比较模块、主控模块和至少一驱动模块，所述驱动模块包括可控硅；所述过零检测模块的一端作为交流电输入端，另一端输出过零信号至比较模块输入端，通过比较模块后输出相位信号至主控模块，主控模块受到触发便输出至少一驱动信号至驱动模块，驱动可控硅的导通角在0°～180°可调，从而驱动模块对外电压和功率的精确控制，解决需要手动控制和控制精度不高的问题。

【技术实现步骤摘要】
可控硅调压系统
本技术涉及到可控硅控制
，特别涉及一种可控硅调压系统。
技术介绍
随着科技的日新月异，传统的可控硅触发器被广泛应用于温控、光强控制和加热设备控制等工业领域，但是传统的可控硅触发器大都采用可调电阻模拟电路，常常需要人工手动进行控制，已经不再适合自动化的应用场合，而且其电路中基本不带隔离，常常遇到高压的干扰，使电路不可靠性增加，可控硅易损坏。因此亟需提供一种可控硅调压系统解决可调电阻模拟电路需要手动控制、控制精度不高的问题。
技术实现思路
为克服现有技术存在的问题，本技术提供了一种可控硅调压系统。本技术解决技术问题的方案是提供一种可控硅调压系统，其包括电性连接的过零检测模块、比较模块、主控模块和至少一驱动模块，所述驱动模块包括可控硅；所述过零检测模块的一端作为交流电输入端，另一端输出过零信号至比较模块输入端，通过比较模块后输出相位信号至主控模块，主控模块受到触发便输出至少一驱动信号到至少一驱动模块，驱动可控硅的导通角在0°～180°可调，实现可控硅对外电压和功率的精确控制。优选地，所本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种可控硅调压系统，其特征在于：其包括电性连接的过零检测模块、比较模块、主控模块和至少一驱动模块，所述驱动模块包括可控硅；所述过零检测模块的一端作为交流电输入端，另一端输出过零信号至比较模块输入端，通过比较模块输出相位信号至主控模块，主控模块受到触发便输出至少一驱动信号到至少一驱动模块，驱动可控硅的导通角在0°～180°可调，实现可控硅对外电压和功率的精确控制。/n

【技术特征摘要】
1.一种可控硅调压系统，其特征在于：其包括电性连接的过零检测模块、比较模块、主控模块和至少一驱动模块，所述驱动模块包括可控硅；所述过零检测模块的一端作为交流电输入端，另一端输出过零信号至比较模块输入端，通过比较模块输出相位信号至主控模块，主控模块受到触发便输出至少一驱动信号到至少一驱动模块，驱动可控硅的导通角在0°～180°可调，实现可控硅对外电压和功率的精确控制。


2.如权利要求1所述的一种可控硅调压系统，其特征在于：所述过零检测模块包括模块U3，所述比较模块包括模块L1，所述主控模块包括模块U5，所述模块U3的一端作为交流电输入端，模块U3的Q2_C引脚输出过零信号Measure至模块L1的IN1+引脚，进而从模块L1的OUT1引脚输出相位信号Phase至模块U5的PA4引脚，模块U5便受到触发，从模块U5的PA6引脚或PA7引脚输出至少一驱动信号CH1或CH2至相同且独立对应的至少一驱动模块，以驱动可控硅的导通角在0°～180°可调，从而驱动模块对外电压和功率的精确控制。


3.如权利要求1所述的一种可控硅调压系统，其特征在于：所述可控硅调压系统进一步包括电源芯片电路，所述电源芯片电路将外部电源VCC进行降压稳压后输出电源3V3供系统用电。


4.如权利要求2-3任一项中所述的一种可控硅调压系统，其特征在于：所述过零检测模块进一步包括电阻R9、R11、R13和R14，电阻R9的一端接输入交流电火线，电阻R9的另一端与模块U3的IN2_P引脚相连后并通过电阻R11和电阻R14的一端与模块U3的IN2_N引脚相连，电阻R14的另一端接输入交流电的零线；所述模块U3的Q2_C引脚还可通过电阻13与电源3V3连接，所述模块U3的Q2_E引脚接地。


5.如权利要求2-3任一项中所述的一种可控硅调压系统，其特征在于：所述比较模块进一步包括电阻R12和R16，所述模块L1的VCC引脚和电阻R12的一端连接电源3V3，电阻R12的另一端和电阻R16的一端相连后与模块L1的IN1-引脚连接，电阻R16的另一端和模块L1的GND引脚接地。


6.如权利要求2-3任一项中所述的一种可控硅调压系统，其特征在于：所述主控模块进一步包括晶振电路...

【专利技术属性】
技术研发人员：叶子豪，
申请(专利权)人：深圳市微雪电子有限公司，
类型：新型
国别省市：广东;44