取样装置制造方法及图纸

技术编号:2593734 阅读:122 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
一种用于在一处理系统中对材料进行在线取样的装置,包括一个用于接收样品材料的取样器(1);一个细长轴(10),该细长轴限定了一个带有用于对所采集的样品进行测量的测量探针(11)的通道(14);一个加压流体供应源(31),其与通道连接用于通过该通道将加压流体输送给取样器,以排出所采集的样品;以及一个喷嘴(33),该喷嘴设置在测量探针(11)的远端,用于将加压流体分配给取样器,以将所采集的样品从取样器(1)中排出。(*该技术在2022年保护过期,可自由使用*)

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种在一处理系统中用于取样的装置,特别是液体或粉末流的在线采集。
技术介绍
传统上,在处理期间,材料样品将从处理系统中移出,然后进行分析。应该理解的是,需要从处理系统中将材料移出用于单独分析的技术需要使用大量劳力且费时。最近,允许对材料进行在线分析的技术已经发展起来。在W099/32872中已经披露了一种这样的设备。该文献披露了一种用于在处理系统中在线取样的装置和方法,包括一个在使用时收集材料样品的取样器,和一个用于对所采集样品测量的测量装置。该设备还包含一个样品排出部件,用于从取样器中排出所采集样品,以便取样器能够接受一个新的材料样品。该样品排出部件包含一个加压气体供应源,使用时启动以排出所采集的样品,还包含一个小孔管,用于将压缩气体从压缩气体源引入所说取样器。通常,发现该装置运转是令人满意的。然而,有时发现在接受新样品之前取样器没有被完全清空。样品的材料性能,如结合力使难于破碎得样品并清空取样器。有时,样品颗粒具有粘性表面并趋向于相互粘结在一起,或粘结在取样器的表面上。应该理解的是,即使在取样器中残留有很少的先前样品也是不希望的,因为其可能影响后续样品的测量。从US5750996中可知另一种取样装置。在该文献中,描述了一种用于涂层物品无损检测的装置和方法。该装置包含一个探针,该探针具有一个凹进部分用于接受涂层物品,以及一个通讯光纤接收通道。为了从凹进部分排出涂层物品,将压缩空气提供给凹进部分的下部,从而促使涂层物品离开凹进部分。US5750996中所述装置的缺点是,难于完全清除凹进部分的涂层物品。另一个缺点是,由于其位置在凹进部分的底部,当颗粒落进出口时,压缩空气的出口可能被堵塞。
技术实现思路
本专利技术的总的目的是解决或减轻上述问题。因而,本专利技术的一个总的目的是提供一种周期性在线取样的装置和方法,其能够始终如一地生产样品,所取的样品代表了全部材料。本专利技术的一个具体目的是提供一种取样装置,其可以以一种快速而有效的方式对材料进行取样并用新材料替换。本专利技术的另一个目的是提供一种取样装置,其能确保所取样的材料和测量装置之间一个稳定的界面。在材料流被取样时,期望为样品测量装置提供稳定的样品。因此,本专利技术提供一种在一处理系统中用于在线取样的装置,包含一取样器,其用于接受材料样品;一细长轴,其限定了一个带有一测量探针的通道,该探针用于对所采集样品进行测量;一加压流体供应源,其连接到所述通道上,用于通过所述通道将加压流体输送给所述取样器,以排出所采集的样品;以及一个喷嘴,其设置在测量探针的远端,用于将加压流体分配给取样器,以排出取样器中所采集的样品。在优选实施例中,使用取样装置的处理系统是一个处理容器或一个管状部分,如导向或来自一处理容器或散装货箱的管子。其结构允许已测量的所采集样品简单而快速地排出。当取样器在接受新的样品之前有效地被清空时,测量的可靠性增加。另外,本专利技术取样装置的构造是这样的,其能有效地自清洁,从而减小进行材料取样的处理系统的停机时间。此外,本专利技术的取样装置允许使用利用电磁辐射的任何种类的测量装置。在使用时,启动加压流体供应源以给轴的通道和喷嘴提供加压流体,通过喷嘴加压流体被分配给取样器以排出所采集的样品。根据本专利技术的喷嘴减小了排出部件堵塞的危险,增加了作用点的数量,并形成了取样装置的可靠功能。优选地,喷嘴基本上是环形的,并安装在测量探针远端上。优选地,所述喷嘴设置有至少一个倾斜的螺旋槽,通过螺旋槽分配加压流体。在此情况下,将流体的湍流和会聚流提供给取样器。螺旋槽的角度、尺寸、几何结构和数量共同作用产生一个很好地形成的加压流体涡流,通过气动输送来清空取样器。优选地,顶部开口腔室包含一个弧形壁部件,在使用时其上收集有样品,和向上向外伸展的前壁部件。在一个实施例中,测量装置是一个光谱测量装置,并可能是一个反射、透射反射(transflectance)或传输装置。优选地,光谱测量装置是发射、吸收或散射装置中的一种。在一个优选实施例中,光谱测量装置是一个X-射线分光光度计、一个紫外线(UV)分光光度计、一个可见光(VIS)分光光度计、一个红外线(IR)分光光度计、一个近红外(NIR)分光光度计、一个拉曼分光光度计、一个微波分光光度计或一个核磁共振(NMR)分光光度计。在另一个实施例中,所述测量装置是一个偏振器。在一个优选实施例中,所述测量装置包括一个测量探针,该探针导入一细长轴的通道,所述取样器连接到该轴的远端。优选地,所述取样器通过卡口固定方式可释放地连接到轴上。这样,取样器可以容易地从轴上拆开,将部件进行清洗。在另一实施例中,取样装置是制成一体的。优选地,取样装置通过一个孔可滑动地安装在处理容器壁上,以便在处理系统内可移动。当代表性的样品在处理系统壁附近没有发现或如果在处理系统内不同位置检测均匀性时,这种构造特别有用。优选地,细长轴设置有一个孔,通过该孔导入用于样品排出的加压流体。在一个优选实施例中,加压流体是一种气体,如压缩空气。在另一个实施例中,当该装置进入清洗工序时,通过轴上的孔导入的加压流体是一种清洗液。当取样装置不需要移动和/或拆开,在各批次之间清洁取样装置时,原地清洁(CIP)是特别有用的。在一进一步的实施例中,流体是一种处理流体,它是在一处理系统中进行处理过程中所用的液体,也就是涂布流体。在一优选实施例中,取样器与一个加热/冷却机构连接,以便给提供温度稳定的取样器。在测量装置对温度变化敏感或,例如所取样的材料为易于沸腾且产生不利于测量的气泡的液体时,温度稳定能够提供更可靠的测量。在另一个实施例中,至少一个传感器设置在取样器中。例如,传感器是一个温度传感器或压力传感器。本专利技术发现在监测材料样品的特性上的具体应用,如组成变化,特别是监测在流化床中进行制备期间粉状、颗粒、小球和小块形状的药物组成的变化。然而,应该理解的是,本专利技术可以同样地应用于制药工业内的其他过程,甚至是非制药过程。本专利技术可应用的其它过程一般为搅拌系统、粉末输送装置、喷射制粒机、喷射干燥机和混合/分离系统。下面将仅通过举例参照附图来描述本专利技术的优选实施例。附图说明图1示意性地示出了一个根据本专利技术第一实施例并与一处理容器结合的取样装置;图2示出了图1中取样装置的正视图;图3示出了图1中取样装置的分解图;图4a示出了取样装置喷嘴部件的正视图;图4b示出了取样装置喷嘴部件的剖面图;图5a示意地示出了本专利技术第二实施例取样装置的剖视图;图5b示意地示出了本专利技术第三实施例取样装置的剖视图;图6示出了根据本专利技术的取样方法的流程图。具体实施例方式图1-3示出了根据本专利技术一个优选实施例的取样装置。取样装置包含一个用于收集材料样品的取样器1,一个用于测量所收集样品的测量装置3,一个样品排出机构,该机构包含一个加压流体供应源31和一个用于分配所供流体的喷嘴33以及一个控制器6,所述流体用于排出所采集的样品。取样器1、测量装置3和加压流体供应源的操作都在控制器6的控制下进行,控制器一般为一台计算机或一个可编程逻辑控制器(PLC),下面将详细描述。测量装置3包括一个测量探针11,在该实施例中为近红外反射探针,其穿过处理容器7的周壁7a延伸,以便发射和接收辐射的测量探针11远端13引入取样器1。在这种方式下能够对收集在取样器1中本文档来自技高网
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【技术保护点】
一种用于在一处理系统中进行材料在线取样的装置,包含:    一取样器(1),用于接收材料样品;    一细长轴(10),限定了一个带有一测量探针(11)的通道(14),该探针(11)用于对所采集样品进行测量;    一加压流体供应源(31),连接到所述通道上,用于通过所述通道将加压流体输送给所述取样器,以排出所采集的样品;以及    一个喷嘴(33),设置在测量探针(11)的远端,用于将加压流体分配给取样器,以从取样器(1)中排出所采集的样品。

【技术特征摘要】
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【专利技术属性】
技术研发人员:L比约克S福勒斯塔M约翰松A克莱文斯帕I尼克拉松比约恩
申请(专利权)人:阿斯特拉曾尼卡有限公司
类型:发明
国别省市:SE[瑞典]

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