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一种颗粒状测量装置及其原位测量方法制造方法及图纸

技术编号:2584953 阅读:168 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
一种颗粒状测量装置及其原位测量方法,涉及颗粒信息的原位测量方法及装置。该装置将一个或多个传感器、微处理器、系统电源以及通讯设备置于颗粒状外壳内部,该颗粒本身能够感知颗粒自身的运动以及颗粒所在的场信息,这样既可以获得颗粒运动以及相关的信息,也可以获得颗粒某时刻所在的场信息。利用该颗粒状测量装置,可以实现一种原位测量方法,即将该颗粒装置作为研究对象,将其放置在待研究的场中,通过颗粒装置本身感知纪录其运动以及其所在场的相关信息。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种颗粒所在场信息的颗粒状测量方法及装置,特别涉及颗粒信息的原位测量方法及装置,属于微测量器件

技术介绍
颗粒所在的场信息以及颗粒本身的运动测量是一个基本问题,而与之相关的多相流动更是过程工程科学中的基本问题。目前获得颗粒所在的场信息,例如浓度场、温度场、速度场往往是通过外置传感器探头间接获得场的信息。这样外场的引进一方面影响了颗粒的流动以及传递行为,不能够原位的反应颗粒所在场的绝对真实信息。另外一个方面,获得颗粒运动信息目前是通过颗粒以外的外界工具(仪器或设备)对颗粒的运动行为进行间接描述。与之相关的多相流动的表征技术,例如磷光颗粒示踪技术、激光多谱勒测速技术(PDPA)、三维颗粒速度场成像仪(PIV)、超声多普勒速度分析仪、CT技术等一般是通过外界给予一定信号,如激光、X光等与流动体系内部的物质相互作用产生信号,然后通过信号处理间接地获得流场信息。这些技术都有其一定的使用条件,例如CT技术对于边界的吸收过于敏感,激光成像则要求研究体系能够有激光透射过去。所以,这些间接的测量方法都具有一定的局限性。随着微电子行业的进步,微加工技术以及微传感器技术的进步,本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种颗粒状测量装置,其特征在于:该装置包括等效直径为1~100mm的颗粒状外壳(1),传感器(2)、微处理器(3)、通讯设备(4)、系统电源以及存储设备(5),所述传感器采集的信号传输给微处理器,经微处理器处理后的信号通过通讯设备输入到存储设备,该存储设备采用内置或外置形式,所述的传感器、微处理器、通讯设备、系统电源封装在颗粒状外壳内。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:魏飞张强钱震蒋东黄苍魏小波
申请(专利权)人:清华大学
类型:发明
国别省市:11[]

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