检查床位置测量方法、下垂补偿方法和X射线CT设备技术

本发明专利技术提供一种使用普通Ｘ射线ＣＴ设备功能的检查床位置测量和检查床下垂补偿方法。在通过Ｘ射线照射和探测装置扫描安置在检查床上的受检者的Ｘ射线ＣＴ设备中，根据沿切线方向向检查床背侧附近外侧前进的Ｘ射线被探测的通道位置和Ｘ射线照射和探测装置的几何结构，找到检查床在扫描平面中的位置。确定当前检查床位置从标称位置的下垂，以将检查床升高下垂量。只有当下垂超出阈值时，检查床的升高才被执行。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及检查床位置测量方法、检查床下垂补偿方法和X射线CT(计算机断层成像)设备，更具体而言涉及测量检查床在扫描平面内位置的方法、补偿检查床下垂的方法和能够执行检查床位置测量和检查床下垂补偿的X射线CT设备，在X射线CT设备中该设备在X射线照射和探测位置扫描位于检查床上的受检者。
技术介绍
X射线CT设备通过在台架中旋转的X射线照射和探测装置采集患者的透射X射线信号的多个视图，以便根据透射X射线信号重建断层图像。X射线照射和探测装置的旋转被称作扫描。受检者被放置在检查床上，以便被传送到扫描平面内。与悬臂类似，检查床从支撑工作台中伸出。因为负载使伸出的悬臂状检查床偏移(下垂)，所以下垂量应当被测量并被补偿。通过使用安装在检查床各个位置上的传感器，包括下垂的工作台位置测量可以被执行，同时通过在由下垂引起的检查床倾斜的反方向上倾斜支撑检查床的工作台，可以进行下垂补偿(例如，参见专利文献1)。JP-A-2004-180846(第4到8页，图1到8)
技术实现思路
如上所述，工作台位置测量需要特殊类型的传感器。此外，为了在检查床倾斜的反方向上倾斜工作台以补偿下垂，需要特殊的工作台机构。因此，本专利技术的一个目的是提供一种通过使用X射线CT设备的普通功能执行检查床位置测量的方法。本专利技术的另一个目的是提供一种通过使用X射线CT设备的普通功能执行检查床位置测量和检查床下垂补偿的方法。本专利技术的另一个目的是提供一种X射线CT设备，该设备允许在没有使用任何特殊传感器或工作台机构的情况下执行检查床位置测量和下垂补偿。在解决上述问题的一个方面中，本专利技术提供一种检查床位置测量的方法，该方法用于测量X射线CT设备的扫描平面中的检查床位置，其中上述X射线CT设备通过使用X射线照射和探测装置扫描安置检查床上的受检者；该方法包括步骤基于x射线照射和探测装置的几何结构，确定检查床背侧附近外侧沿切线方向通过的X射线的探测通道位置和扫描平面中检查床的位置。为了确定所需的下垂补偿量，优选根据检查床标称位置确定下垂。在解决上述问题的另一个方面中，本专利技术提供一种检查床下垂补偿的方法，该方法用于补偿X射线CT设备的扫描平面中的检查床下垂，其中上述X射线CT设备通过使用X射线照射和探测装置扫描安置检查床上的受检者；该方法包括下述步骤基于x射线照射和探测装置的几何结构，确定检查床背侧附近外侧沿切线方向通过的X射线的探测通道位置和扫描平面中检查床的位置；确定检查床位置偏离标称位置的下垂量；并将检查床升高下垂量。为了改善下垂补偿的稳定性，当下垂量超出预定阈值时，优选抬高检查床。在解决上述问题的另一个方面，本专利技术提供一种使用X射线照射和探测装置扫描安置在检查床上的受检者的X射线CT设备，该设备包括检查床位置测量装置，用于根据X射线照射和探测装置的几何结构，确定检查床背侧附近外侧沿切线方向通过的X射线的探测通道位置和扫描平面中的检查床位置。优选进一步包括下垂计算装置，用于确定上述检查床位置偏离标称位置的下垂量，以便明确确定所需的下垂补偿量。也可以优选进一步包括将检查床升高下垂量的高度调整装置，以便补偿由于下垂引起的工作台位置的偏离。当下垂量超出预定阈值时，优选通过上述高度调整装置抬高检查床，以便改善下垂补偿的稳定性。在本专利技术的一个方面，对于在通过X射线照射和探测装置扫描安置在检查床上受检者的X射线CT设备的扫描平面中测量检查床位置，因为扫描平面中检查床位置是根据在检查床背侧附近外侧沿切线方向通过的X射线的探测通道位置和X射线照射和探测装置的几何结构确定的，所以本专利技术可以通过使用X射线CT设备普通功能实现检查床位置测量的方法。在本专利技术的另一个方面，对于在通过X射线照射和探测装置扫描安置在检查床上受检者的X射线CT设备的扫描平面中补偿检查床下垂，因为扫描平面中检查床位置是根据在检查床背侧附近外侧沿切线方向通过的X射线的探测通道位置和X射线照射和探测装置的几何结构确定的，当前检查床位置从标称位置的下垂被确定，并且将检查床升高下垂量，所以本专利技术可以通过使用X射线CT设备的普通功能实现检查床位置测量和下垂补偿的方法。在本专利技术的另一个方面，通过X射线照射和探测装置扫描安置在检查床上的受检者的X射线CT设备可以包括检查床位置测量装置，该装置根据在检查床背侧附近外侧沿切线方向通过的X射线的探测通道位置和X射线照射和探测装置的几何结构确定扫描平面中的检查床位置，使得本专利技术可以实现一种不使用任何特殊传感器就能执行检查床位置测量的X射线CT设备。此外，本专利技术的X射线CT设备可以包括下垂计算装置和高度调节装置，上述下垂计算装置用于确定检查床位置从标称位置的下垂量，上述高度调整装置用于将检查床升高下垂量，以实现不使用任何特殊工作台机构就能补偿下垂的X射线CT设备。附图说明图1是用于执行本专利技术的示例性最佳模式的X射线CT设备的示意图；图2是用于执行本专利技术的示例性最佳模式的X射线CT设备的示意图；图3是X射线照射和探测装置的示意图；图4是X射线探测器的X射线入射面的示意图； 图5是检查床下垂的示意图；图6是说明安置在检查床上的受检者和X射线照射和探测装置之间几何关系的示意图；图7是说明安置在检查床上的受检者和X射线照射和探测装置之间几何关系的示意图；图8是说明安置在检查床上的受检者和X射线照射和探测装置之间几何关系的示意图；图9是台架倾斜时真实距离和表观距离的示意图；图10是X射线焦点连续经过3个触发点时X射线传播的示意图；图11是探测信号的信号强度的示意图；图12是多个通道中的X射线传播的示意图；图13是多个通道中的X射线传播的示意图；图14是探测信号的信号强度的示意图；图15所示流程图显示了用于执行本专利技术的示例性最佳模式的X射线CT设备的操作；图16是显示下垂补偿的示意图；图17所示流程图显示了用于执行本专利技术的示例性最佳模式的X射线CT设备的操作。10 受检者100台架110X射线照射和探测装置130X射线管132焦点134X射线150X射线探测器152X射线入射面154探测器单元200工作台202工作台顶204检查床206支架 208底座300操作人员控制台302显示器具体实施方式参考附图，执行本专利技术的最佳模式将被详细描述。应当理解本专利技术不限于执行本专利技术的最佳模式。图1显示了根据本专利技术的X射线CT设备的示意图。该设备是用于执行本专利技术的示例性最佳模式。该设备的结构显示了用于执行本专利技术的X射线CT设备的示例性最佳模式。该设备的操作显示了用于执行本专利技术的检查床位置测量方法的示例性最佳模式，并且显示了用于执行本专利技术的检查床下垂补偿方法的示例性最佳模式。该设备包括台架100、工作台200和操作人员控制台300。台架100使用X射线照射和探测装置110扫描被工作台200传送到其中的受检者10，以采集透射X射线信号(扫描数据)的多个视图并传送给操作人员控制台300。操作人员控制台300根据从台架100输入的扫描数据重建图像，并在显示器302上显示重建图像。操作人员控制台300也控制台架100和工作台200的操作。在操作人员控制台300的控制下，台架100按照预定扫描条件进行扫描，同时工作台200对准受检者10以便使预定部分接受扫描。借助内部对准机构，通过调节工作台顶202的高度和检查本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种检查床位置测量方法，用于通过Ｘ射线照射和探测装置扫描安置在检查床上的受检者的Ｘ射线ＣＴ设备中，用于测量检查床在扫描平面中的位置，上述方法包括下述步骤：根据沿切线方向向检查床背侧附近外侧前进的Ｘ射线被探测的通道位置和Ｘ射线照射和探 测装置的几何结构，确定检查床在扫描平面中的位置。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：李庆雷，
申请(专利权)人：GE医疗系统环球技术有限公司，
类型：发明
国别省市：US[美国]