一种用于电子设备的老化测试装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术公开了一种用于电子设备的老化测试装置，包括承载座，承载座上端连接有一对围板，且一对围板之间连接有多个隔板，隔板内侧设有固定板，承载座侧端开凿有多个与固定板相对应的螺孔，且螺孔中连接有长推进螺杆，长推进螺杆上连接有推进螺母，承载座内部开凿有与推进螺母相匹配的滑孔，推进螺母上端连接有滑块，承载座上开凿有与滑块相匹配的滑孔，且滑孔与推进腔相连通，长推进螺杆上固定连接有轴承，且轴承的外壁与螺孔固定连接，长推进螺杆位于推进腔内侧的端部连接有限位块，且限位块的直径大于推进螺母的孔径。本实用新型专利技术结构简单，操作方便，可有效防止待测试电子元件的晃动，提高测试准确度。

【技术实现步骤摘要】
一种用于电子设备的老化测试装置
本技术涉及老化测试装置
，尤其涉及一种用于电子设备的老化测试装置。
技术介绍
在相关技术中，电子设备在出厂之前需要对其进行老化测试以检测电子设备的使用性能。当电子设备进行老化测试时，将多个电子设备集中放置在老化架上。由于老化架设在专用的隔离式老化房内，电子设备需要远距离搬运，从而延长了电子设备的产品周转和生产周期，影响出货时间。而且，老化架上的电子设备集中放置，影响质检人员的抽样的随机性，从而降低了不良品的拦截范围。为改善上述问题，中国专利授权号为CN209132355U公开了一种用于电子设备的老化测试装置，包括箱体、测试装置和开关件，箱体内具有放置空间，箱体上设有与放置空间相连通的取放口，箱体上设有用于观察放置空间内部情况的观察窗口，测试装置和电子设备均设在放置空间内，电子设备与测试装置电连接，开关件可活动地设在箱体上以打开或关闭取放口。根据本技术的老化测试装置，老化测试装置形成为箱体式结构，结构简单、密封性能好，可以降低电子设备在进行老化测试的工作噪声。而且，老化测试装置可以灵活地分布在生产线上本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种用于电子设备的老化测试装置，包括承载座(1)，其特征在于，所述承载座(1)上端连接有一对围板(2)，且一对围板(2)之间连接有多个隔板(3)，所述隔板(3)内侧设有固定板(4)，所述承载座(1)侧端开凿有多个与固定板(4)相对应的螺孔，且螺孔中连接有长推进螺杆(5)，所述长推进螺杆(5)上连接有推进螺母(8)，所述承载座(1)内部开凿有与推进螺母(8)相匹配的滑孔(13)，所述推进螺母(8)上端连接有滑块(6)，所述承载座(1)上开凿有与滑块(6)相匹配的滑孔(13)，且滑孔(13)与推进腔(7)相连通。/n

【技术特征摘要】
1.一种用于电子设备的老化测试装置，包括承载座(1)，其特征在于，所述承载座(1)上端连接有一对围板(2)，且一对围板(2)之间连接有多个隔板(3)，所述隔板(3)内侧设有固定板(4)，所述承载座(1)侧端开凿有多个与固定板(4)相对应的螺孔，且螺孔中连接有长推进螺杆(5)，所述长推进螺杆(5)上连接有推进螺母(8)，所述承载座(1)内部开凿有与推进螺母(8)相匹配的滑孔(13)，所述推进螺母(8)上端连接有滑块(6)，所述承载座(1)上开凿有与滑块(6)相匹配的滑孔(13)，且滑孔(13)与推进腔(7)相连通。


2.根据权利要求1所述的一种用于电子设备的老化测试装置，其特征在于，所述长推进螺杆(5)上固定连接有轴承(14)，且轴承(14)的外壁与螺孔固定连接。


3.根据权...

【专利技术属性】
技术研发人员：范彩凤，
申请(专利权)人：上海北臻电子科技有限公司，
类型：新型
国别省市：上海;31