本实用新型专利技术公开了一种用于电子设备的老化测试装置，包括承载座，承载座上端连接有一对围板，且一对围板之间连接有多个隔板，隔板内侧设有固定板，承载座侧端开凿有多个与固定板相对应的螺孔，且螺孔中连接有长推进螺杆，长推进螺杆上连接有推进螺母，承载座内部开凿有与推进螺母相匹配的滑孔，推进螺母上端连接有滑块，承载座上开凿有与滑块相匹配的滑孔，且滑孔与推进腔相连通，长推进螺杆上固定连接有轴承，且轴承的外壁与螺孔固定连接，长推进螺杆位于推进腔内侧的端部连接有限位块，且限位块的直径大于推进螺母的孔径。本实用新型专利技术结构简单，操作方便，可有效防止待测试电子元件的晃动，提高测试准确度。
【技术实现步骤摘要】
一种用于电子设备的老化测试装置
本技术涉及老化测试装置
，尤其涉及一种用于电子设备的老化测试装置。
技术介绍
在相关技术中，电子设备在出厂之前需要对其进行老化测试以检测电子设备的使用性能。当电子设备进行老化测试时，将多个电子设备集中放置在老化架上。由于老化架设在专用的隔离式老化房内，电子设备需要远距离搬运，从而延长了电子设备的产品周转和生产周期，影响出货时间。而且，老化架上的电子设备集中放置，影响质检人员的抽样的随机性，从而降低了不良品的拦截范围。为改善上述问题，中国专利授权号为CN209132355U公开了一种用于电子设备的老化测试装置，包括箱体、测试装置和开关件，箱体内具有放置空间，箱体上设有与放置空间相连通的取放口，箱体上设有用于观察放置空间内部情况的观察窗口，测试装置和电子设备均设在放置空间内，电子设备与测试装置电连接，开关件可活动地设在箱体上以打开或关闭取放口。根据本技术的老化测试装置，老化测试装置形成为箱体式结构，结构简单、密封性能好，可以降低电子设备在进行老化测试的工作噪声。而且，老化测试装置可以灵活地分布在生产线上，从而可以方便电子设备的取放，降低物流成本，还可以通过观察窗口观察电子设备的老化测试情况，操作比较方便。但是上述测试装置未设置固定待测电子元件的结构，电子元件在测试过程中容易受到装置的振动而晃动，极易造成连接处的松动，从而降低了测试准确度。
技术实现思路
本技术的目的是为了解决现有技术中存在的缺点，而提出的一种用于电子设备的老化测试装置。为了实现上述目的，本技术采用了如下技术方案：一种用于电子设备的老化测试装置，包括承载座，所述承载座上端连接有一对围板，且一对围板之间连接有多个隔板，所述隔板内侧设有固定板，所述承载座侧端开凿有多个与固定板相对应的螺孔，且螺孔中连接有长推进螺杆，所述长推进螺杆上连接有推进螺母，所述承载座内部开凿有与推进螺母相匹配的滑孔，所述推进螺母上端连接有滑块，所述承载座上开凿有与滑块相匹配的滑孔，且滑孔与推进腔相连通。优选的，所述长推进螺杆上固定连接有轴承，且轴承的外壁与螺孔固定连接。优选的，所述长推进螺杆位于推进腔内侧的端部连接有限位块，且限位块的直径大于推进螺母的孔径。优选的，所述承载座自上而下开凿有多个散热孔，且散热孔位于一对隔板之间。优选的，所述承载座下端连接有散热箱，且散热箱内底端连接有散热风扇。优选的，所述散热箱上端连接有固定框，且固定框与承载座之间连接有锁紧螺栓。与现有技术相比，本技术提供了一种用于电子设备的老化测试装置，具备以下有益效果：1.通过设置的固定板、长推进螺杆和推进螺母，长推进螺杆转动驱动推进螺母直线移动，推进螺母通过滑块带着固定板贴近待测试电子元件表面并夹紧待测试电子元件，可有效防止待测试电子元件的晃动，提高测试准确度。2.通过在承载座自上而下开凿多个散热孔，且散热孔位于一对隔板之间，提高散热效果。3.通过在承载座下端连接内部安装有散热风扇的散热箱，打开散热风扇，散热风扇通过散热孔对待测试的电子元件进行风冷散热，进一步提高散热效果。该装置中未涉及部分均与现有技术相同或可采用现有技术加以实现，本技术结构简单，操作方便，可有效防止待测试电子元件的晃动，提高测试准确度。附图说明图1为本技术提出的一种用于电子设备的老化测试装置的俯视整体结构示意图；图2为本技术提出的一种用于电子设备的老化测试装置的仰视整体结构示意图；图3为本技术提出的一种用于电子设备的老化测试装置的截面结构示意图；图4为本技术提出的一种用于电子设备的老化测试装置的俯视结构示意图。图中：1-承载座、2-围板、3-隔板、4-固定板、5-长推进螺杆、6-滑块、7-推进腔、8-推进螺母、9-限位块、10-散热箱、11-散热风扇、12-锁紧螺栓、13-滑孔、14-轴承、15-散热孔、16-固定框。具体实施方式下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例。在本专利的描述中，需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”、“设置”应做广义理解，例如，可以是固定相连、设置，也可以是可拆卸连接、设置，或一体地连接、设置。对于本领域的普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述术语在本专利中的具体含义。在本技术的描述中，需要理解的是，术语“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“顶”、“底”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本技术和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本技术的限制。实施例1参照图1-4，一种用于电子设备的老化测试装置，包括承载座1，承载座1上端焊接有一对围板2，且一对围板2之间焊接有多个隔板3，隔板3内侧设有固定板4，承载座1侧端开凿有多个与固定板4相对应的螺孔，且螺孔中螺纹连接有长推进螺杆5，长推进螺杆5上螺纹连接有推进螺母8，承载座1内部开凿有与推进螺母8相匹配的滑孔13，推进螺母8上端焊接有滑块6，承载座1上开凿有与滑块6相匹配的滑孔13，且滑孔13与推进腔7相连通。本技术中，长推进螺杆5上焊接有轴承14，且轴承14的外壁与螺孔焊接。长推进螺杆5位于推进腔7内侧的端部焊接有限位块9，且限位块9的直径大于推进螺母8的孔径，防止推进螺母8脱离长推进螺杆5。承载座1自上而下开凿有多个散热孔15，且散热孔15位于一对隔板3之间，提高散热效果。工作原理：测试人员将待测试电子元件放置在由围板2和隔板3组成的格子中，拧紧长推进螺杆5，长推进螺杆5转动驱动推进螺母8直线移动，推进螺母8通过滑块6带着固定板4贴近待测试电子元件表面并夹紧待测试电子元件，可有效防止待测试电子元件的晃动，提高测试准确度。实施例2参照图2-3，一种用于电子设备的老化测试装置，本实施例相较于实施例1，承载座1下端连接有散热箱10，且散热箱10内底端通过螺栓连接有散热风扇11，散热箱10上端焊接有固定框16，且固定框16与承载座1之间螺纹连接有锁紧螺栓12。工作原理：通过锁紧螺栓12将散热箱10连接在承载座1下端，打开散热风扇11，散热风扇11通过散热孔15对待测试的电子元件进行风冷散热，进一步提高散热效果。以上所述，仅为本技术较佳的具体实施方式，但本技术的保护范围并不局限于此，任何熟悉本
的技术人员在本技术揭露的技术范围内，根据本技术的技术方案及其技术构思加以等同替换或改变，都应涵盖在本技术的保护范围之内。本文档来自技高网...
【技术保护点】
1.一种用于电子设备的老化测试装置，包括承载座(1)，其特征在于，所述承载座(1)上端连接有一对围板(2)，且一对围板(2)之间连接有多个隔板(3)，所述隔板(3)内侧设有固定板(4)，所述承载座(1)侧端开凿有多个与固定板(4)相对应的螺孔，且螺孔中连接有长推进螺杆(5)，所述长推进螺杆(5)上连接有推进螺母(8)，所述承载座(1)内部开凿有与推进螺母(8)相匹配的滑孔(13)，所述推进螺母(8)上端连接有滑块(6)，所述承载座(1)上开凿有与滑块(6)相匹配的滑孔(13)，且滑孔(13)与推进腔(7)相连通。/n
【技术特征摘要】
1.一种用于电子设备的老化测试装置，包括承载座(1)，其特征在于，所述承载座(1)上端连接有一对围板(2)，且一对围板(2)之间连接有多个隔板(3)，所述隔板(3)内侧设有固定板(4)，所述承载座(1)侧端开凿有多个与固定板(4)相对应的螺孔，且螺孔中连接有长推进螺杆(5)，所述长推进螺杆(5)上连接有推进螺母(8)，所述承载座(1)内部开凿有与推进螺母(8)相匹配的滑孔(13)，所述推进螺母(8)上端连接有滑块(6)，所述承载座(1)上开凿有与滑块(6)相匹配的滑孔(13)，且滑孔(13)与推进腔(7)相连通。
2.根据权利要求1所述的一种用于电子设备的老化测试装置，其特征在于，所述长推进螺杆(5)上固定连接有轴承(14)，且轴承(14)的外壁与螺孔固定连接。
3.根据权...
【专利技术属性】
技术研发人员：范彩凤，
申请(专利权)人：上海北臻电子科技有限公司，
类型：新型
国别省市：上海;31
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。