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本实用新型公开了一种用于电子设备的老化测试装置，包括承载座，承载座上端连接有一对围板，且一对围板之间连接有多个隔板，隔板内侧设有固定板，承载座侧端开凿有多个与固定板相对应的螺孔，且螺孔中连接有长推进螺杆，长推进螺杆上连接有推进螺母，承载座内...
该专利属于上海北臻电子科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过上海北臻电子科技有限公司授权不得商用。

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