一种具有防护功能的分立半导体功率器间歇寿命测试设备制造技术

本实用新型专利技术公开了一种具有防护功能的分立半导体功率器间歇寿命测试设备，包括测试设备本体、活动脚轮、操控面板、防护门、侧板、凸形滑条、凸形滑槽、存放箱、拉动把手、防护箱门、检测台、固定块、拧动栓、压板、放置座、功率器放置槽和保护塞，该寿命测试设备设置有防护门，检测台上设有固定块，拧动栓与压板连接，使该设备具有防护功能，且可对功率器进行固定，便于人员的操作，通过存放箱开设的凸形滑槽与侧板上设有的凸形滑条滑动连接，放置座上开设的功率器放置槽与保护塞螺纹连接，使该设备具有半导体功率器存放保护机构，可将半导体功率器存放于存放箱内对其进行保护，人员检测也更加方便，提高了工作效率。

【技术实现步骤摘要】
一种具有防护功能的分立半导体功率器间歇寿命测试设备
本技术涉及半导体功率器测试
，具体为一种具有防护功能的分立半导体功率器间歇寿命测试设备。
技术介绍
半导体指常温下导电性能介于导体与绝缘体之间的材料。半导体在集成电路、消费电子、通信系统、光伏发电、照明应用、大功率电源转换等领域应用。如二极管就是采用半导体制作的器件。无论从科技或是经济发展的角度来看，半导体的重要性都是非常巨大的。今日大部分的电子产品，如计算机、移动电话或是数字录音机当中的核心单元都和半导体有着极为密切的关联。常见的半导体材料有硅、锗、砷化镓等，而硅更是各种半导体材料中，在商业应用上最具有影响力的一种。在分立半导体功率器生产中，需要一种寿命测试设备来对其进行寿命检测。然而，现有的寿命测试设备还存在一定的缺陷：现有的寿命测试设备不具有防护功能且无法对半导体功率器进行固定，不便于人员的操作；现有的寿命测试设备不具有半导体功率器存放保护机构，导致在对功率器进行检测时人员操作较为麻烦，导致工作效率降低。
技术实现思路
本技术的目的在于克服现有技术的不足，提供一种具有防护功能的分立半导体功率器间歇寿命测试设备，以解决上述
技术介绍
提出的问题。本技术解决其技术问题是通过以下技术方案实现的：一种具有防护功能的分立半导体功率器间歇寿命测试设备，包括测试设备本体、活动脚轮、操控面板、防护门、侧板、凸形滑条、凸形滑槽、存放箱、拉动把手、防护箱门、检测台、固定块、拧动栓、压板、放置座、功率器放置槽和保护塞，所述测试设备本体一侧的一端固定安装有防护门，所述测试设备本体内壁底端的中部固定设有检测台，所述检测台顶端的两侧分别与两个固定块的底端固定连接，两个所述固定块顶端的中部开设的螺纹孔分别两个拧动栓外壁的中部螺纹连接，两个所述拧动栓的底端分别与两个压板顶端的中部固定连接，所述测试设备本体顶端的两侧均固定设有侧板，两个所述侧板的一端均固定设有凸形滑条，两个所述凸形滑条分别与存放箱的两端开设的凸形滑槽滑动连接，所述存放箱的顶端固定安装有防护箱门，所述存放箱内壁的底端固定设有放置座，所述放置座的顶端开设有若干均匀分布的功率器放置槽，若干所述功率器放置槽内壁的顶部分别与若干保护塞外壁的底部螺纹连接。而且，所述所述测试设备本体一侧的另一端固定设有操控面板。而且，所述防护门一侧的中部固设有透明观察窗，所述防护门一侧的一端固定设有门把手。而且，所述存放箱一侧的中部固定设有拉动把手。而且，两个所述拧动栓的顶端刻设有防滑纹理。而且，所述测试设备本体底端的四个边角处均固定设有活动脚轮。本技术的优点和有益效果为：1、本技术的具有防护功能的分立半导体功率器间歇寿命测试设备，设置有防护门，检测台上设有固定块，拧动栓与压板连接，使该设备具有防护功能，且可对功率器进行固定，便于人员的操作，通过存放箱开设的凸形滑槽与侧板上设有的凸形滑条滑动连接，放置座上开设的功率器放置槽与保护塞螺纹连接，使该设备具有半导体功率器存放保护机构，可将半导体功率器存放于存放箱内对其进行保护，人员检测也更加方便，提高了工作效率。附图说明图1为本技术的正面结构示意图；图2为本技术测试设备内部结构示意图；图3为本技术存放箱内部结构示意图。图中：1、测试设备本体；2、活动脚轮；3、操控面板；4、防护门；5、侧板；6、凸形滑条；7、凸形滑槽；8、存放箱；9、拉动把手；10、防护箱门；11、检测台；12、固定块；13、拧动栓；14、压板；15、放置座；16、功率器放置槽；17、保护塞。具体实施方式下面通过具体实施例对本技术作进一步详述，以下实施例只是描述性的，不是限定性的，不能以此限定本技术的保护范围。一种具有防护功能的分立半导体功率器间歇寿命测试设备：包括测试设备本体1、活动脚轮2、操控面板3、防护门4、侧板5、凸形滑条6、凸形滑槽7、存放箱8、拉动把手9、防护箱门10、检测台11、固定块12、拧动栓13、压板14、放置座15、功率器放置槽16和保护塞17，测试设备本体1一侧的一端固定安装有防护门4，测试设备本体1内壁底端的中部固定设有检测台11，检测台11顶端的两侧分别与两个固定块12的底端固定连接，两个固定块12顶端的中部开设的螺纹孔分别两个拧动栓13外壁的中部螺纹连接，两个拧动栓13的底端分别与两个压板14顶端的中部固定连接，测试设备本体1顶端的两侧均固定设有侧板5，两个侧板5的一端均固定设有凸形滑条6，两个凸形滑条6分别与存放箱8的两端开设的凸形滑槽7滑动连接，存放箱8的顶端固定安装有防护箱门10，存放箱8内壁的底端固定设有放置座15，放置座15的顶端开设有若干均匀分布的功率器放置槽16，若干功率器放置槽16内壁的顶部分别与若干保护塞17外壁的底部螺纹连接，测试设备本体1一侧的另一端固定设有操控面板3，便于人员对设备进行操控；防护门4一侧的中部固设有透明观察窗，防护门4一侧的一端固定设有门把手，便于人员进行观察和打开防护门4；存放箱8一侧的中部固定设有拉动把手9，设有的拉动把手9便于人员拉动存放箱8；两个拧动栓13的顶端刻设有防滑纹理，便于人员操作拧动栓13；测试设备本体1底端的四个边角处均固定设有活动脚轮2，便于人员移动测试设备本体1。工作原理：在使用该寿命测试设备时，首先，人员拿持半导体功率器将其放置于压板14与固定块12之间，随后转动拧动栓13，从而使压板14与固定块12对半导体功率器进行固定，随后关上防护门4，通过操控面板3对测试设备本体1进行操控，从而对半导体功率器进行老化寿命检测，其中存放箱8内设有放置座15，放置座15开设的功率器放置槽16可分别放置半导体功率器，保护塞17与功率器放置槽16螺纹连接，可对半导体功率器进行保护，其中存放箱8开设的凸形滑槽7与侧板5上的凸形滑条6滑动连接，人员可通过拉动把手9拉动存放箱8，便于人员的操作。尽管为说明目的公开的本技术的实施例和附图，但是本领域的技术人员可以理解，在不脱离本技术及所附权利要求的精神和范围内，各种替换、变化和修改都是可能的，因此本技术的范围不局限于实施例和附图所公开的内容。本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种具有防护功能的分立半导体功率器间歇寿命测试设备，包括测试设备本体(1)、活动脚轮(2)、操控面板(3)、防护门(4)、侧板(5)、凸形滑条(6)、凸形滑槽(7)、存放箱(8)、拉动把手(9)、防护箱门(10)、检测台(11)、固定块(12)、拧动栓(13)、压板(14)、放置座(15)、功率器放置槽(16)和保护塞(17)，其特征在于：所述测试设备本体(1)一侧的一端固定安装有防护门(4)，所述测试设备本体(1)内壁底端的中部固定设有检测台(11)，所述检测台(11)顶端的两侧分别与两个固定块(12)的底端固定连接，两个所述固定块(12)顶端的中部开设的螺纹孔分别两个拧动栓(13)外壁的中部螺纹连接，两个所述拧动栓(13)的底端分别与两个压板(14)顶端的中部固定连接，所述测试设备本体(1)顶端的两侧均固定设有侧板(5)，两个所述侧板(5)的一端均固定设有凸形滑条(6)，两个所述凸形滑条(6)分别与存放箱(8)的两端开设的凸形滑槽(7)滑动连接，所述存放箱(8)的顶端固定安装有防护箱门(10)，所述存放箱(8)内壁的底端固定设有放置座(15)，所述放置座(15)的顶端开设有若干均匀分布的功率器放置槽(16)，若干所述功率器放置槽(16)内壁的顶部分别与若干保护塞(17)外壁的底部螺纹连接。/n...

【技术特征摘要】
1.一种具有防护功能的分立半导体功率器间歇寿命测试设备，包括测试设备本体(1)、活动脚轮(2)、操控面板(3)、防护门(4)、侧板(5)、凸形滑条(6)、凸形滑槽(7)、存放箱(8)、拉动把手(9)、防护箱门(10)、检测台(11)、固定块(12)、拧动栓(13)、压板(14)、放置座(15)、功率器放置槽(16)和保护塞(17)，其特征在于：所述测试设备本体(1)一侧的一端固定安装有防护门(4)，所述测试设备本体(1)内壁底端的中部固定设有检测台(11)，所述检测台(11)顶端的两侧分别与两个固定块(12)的底端固定连接，两个所述固定块(12)顶端的中部开设的螺纹孔分别两个拧动栓(13)外壁的中部螺纹连接，两个所述拧动栓(13)的底端分别与两个压板(14)顶端的中部固定连接，所述测试设备本体(1)顶端的两侧均固定设有侧板(5)，两个所述侧板(5)的一端均固定设有凸形滑条(6)，两个所述凸形滑条(6)分别与存放箱(8)的两端开设的凸形滑槽(7)滑动连接，所述存放箱(8)的顶端固定安装有防护箱门(10)，所述存放箱(8)内壁的底端固定设有放置座(15)，所述放置座(15)的顶...

【专利技术属性】
技术研发人员：朱永兵，
申请(专利权)人：天津海瑞电子科技有限公司，
类型：新型
国别省市：天津;12