本实用新型专利技术公开了一种带结温测试的间歇寿命测试装置，包括运输板，所述运输板的底面固定连接有两组移动轮，所述运输板的上表面固定连接有测试箱，所述测试箱的内底壁固定连接有测试台，所述测试台的上表面固定连接有散热板，所述散热板的上表面固定连接有铝基板，所述铝基板的上表面固定连接有测试座，所述测试座的内侧壁均固定镶嵌有测试触头。本装置通过测试不同温度点的正向压降vf值可以确定LED电压与温度的关系斜率，从而得到电压温度系数K值，并通过公式K＝Vf/TJ求得LED芯片的结温温度TJ，并通过设置的推把和移动轮，便于对测试箱的移动，此测试装置结构较为简单，便于操作与转运，便于工作人员对LED芯片的测试工作。便于工作人员对LED芯片的测试工作。便于工作人员对LED芯片的测试工作。
【技术实现步骤摘要】
一种带结温测试的间歇寿命测试装置
[0001]本技术涉及结温测试设备
，尤其是一种带结温测试的间歇寿命测试装置。
技术介绍
[0002]LED照明灯在我们的日常生活中得到广泛的应用，LED照明灯出了节能长寿命使用也是十分重要的优势，目前由于LED热性能原因，LED及其灯具不能达到理想的使用寿命，LED在工作状态时的结温直接关系到其使用寿命和光效，其中LED的结温即在工作状态下LED的芯片温度，为了增加的LED的生产质量，往往需要对LED灯具进行结温测试实验。
[0003]目前的LED芯片结温寿命测试设备，一般包括红外光谱法、波长分析法和电压法，但目前的测试设备，操作和结构都较为复杂，而且设备价格较为昂贵，体积较大，不方便移动，在使用时无法满足厂家的使用要求，为此，我们提出一种带结温测试的间歇寿命测试装置解决上述问题。
技术实现思路
[0004]本技术的目的在于提供一种带结温测试的间歇寿命测试装置，以解决上述
技术介绍
中提出的问题。
[0005]为实现上述目的，本技术提供如下技术方案：
[0006]一种带结温测试的间歇寿命测试装置，包括运输板，所述运输板的底面固定连接有两组移动轮，所述运输板的上表面固定连接有测试箱，所述测试箱的内底壁固定连接有测试台，所述测试台的上表面固定连接有散热板，所述散热板的上表面固定连接有铝基板，所述铝基板的上表面固定连接有测试座，所述测试座的内侧壁均固定镶嵌有测试触头，所述测试箱的内侧壁固定连接有检测控制器，所述检测控制器的内部设有稳压稳流器和压降探测器，所述测试触头通过导线与检测控制器电性连接，所述测试箱的左侧面固定连接有支撑板，所述支撑板的上表面固定连接有线性显示屏，所述检测控制器通过数据线缆与线性显示屏电性连接。
[0007]在进一步的实施例中，所述测试箱的右侧面固定连接有一组推把，所述推把的数量为两个。
[0008]在进一步的实施例中，所述测试箱的正面通过两个合页铰接有防护门，所述防护门的正面固定镶嵌有玻璃观察框，所述防护门的正面开设有把手槽。
[0009]在进一步的实施例中，所述测试箱的正面固定连接有PLC控制面板，所述PLC控制面板通过导电线缆与检测控制器和线性显示屏电性连接。
[0010]在进一步的实施例中，所述测试箱的正面固定连接有扶持把，所述扶持把位于PLC控制面板电性连接。
[0011]在进一步的实施例中，所述测试箱的内顶壁固定连接有一组照明灯，所述照明灯位于测试座的正上方。
[0012]与现有技术相比，本技术的有益效果是：
[0013]本装置通过设置的测试触头、检测控制器、测试座、数据线缆、线性显示屏和PLC控制面板，能够通过测试座对待检测的LED进行卡放并接触测试触头，同时通过检测控制器内部的稳压稳流器进行特定定流定压控制，并通过压降探测器检测特定电流下正向压降vf值，然后将正向压降通过线性显示屏进行线性显示，利用正向压降vf值与LED芯片结温温度的线性关系，实现LED芯片结温线性显示，通过测试不同温度点的正向压降vf值可以确定LED电压与温度的关系斜率，从而得到电压温度系数K值，并通过公式K＝Vf/TJ求得LED芯片的结温温度TJ，并通过设置的推把和移动轮，便于对测试箱的移动，此测试装置结构简单，便于操作与转运，便于工作人员对LED芯片的测试工作。
附图说明
[0014]图1为带结温测试的间歇寿命测试装置的整体立体结构示意图。
[0015]图2为带结温测试的间歇寿命测试装置中测试箱的后视图。
[0016]图3为带结温测试的间歇寿命测试装置中测试箱的内部剖解结构示意图。
[0017]图4为带结温测试的间歇寿命测试装置中测试箱俯视图的剖视图。
[0018]图中：1、运输板；2、移动轮；3、测试箱；4、防护门；5、支撑板；6、数据线缆；7、线性显示屏；8、PLC控制面板；9、扶持把；10、把手槽；11、推把；12、检测控制器；13、导线；14、测试触头；15、测试台；16、散热板；17、铝基板；18、玻璃观察框；19、测试座；20、照明灯。
具体实施方式
[0019]在本技术的描述中，需要理解的是，术语“中心”、“纵向”、“横向”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本技术和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本技术的限制。此外，术语“第一”、“第二”等仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”等的特征可以明示或者隐含地包括一个或者更多个该特征。在本技术的描述中，除非另有说明，“多个”的含义是两个或两个以上。
[0020]在本技术的描述中，需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言，可以通过具体情况理解上述术语在本技术中的具体含义。
[0021]下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本技术保护的范围。
[0022]请参阅图1
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4，本技术中，一种带结温测试的间歇寿命测试装置，包括运输板1，运输板1的底面固定连接有两组移动轮2，运输板1的上表面固定连接有测试箱3，测试箱3
的内底壁固定连接有测试台15，测试台15的上表面固定连接有散热板16，散热板16的上表面固定连接有铝基板17，铝基板17的上表面固定连接有测试座19，测试座19的内侧壁均固定镶嵌有测试触头14，测试箱3的内侧壁固定连接有检测控制器12，检测控制器12的内部设有稳压稳流器和压降探测器，测试触头14通过导线13与检测控制器12电性连接，测试箱3的左侧面固定连接有支撑板5，支撑板5的上表面固定连接有线性显示屏7，检测控制器12通过数据线缆6与线性显示屏7电性连接。
[0023]测试箱3的右侧面固定连接有一组推把11，推把11的数量为两个，能够使工作人员更方便的推动测试箱3，便于LED芯片的寿命测试，测试箱3的正面通过两个合页铰接有防护门4，防护门4的正面固定镶嵌有玻璃观察框18，防护门4的正面开设有把手槽10，能够对测试箱3内部进行防护，避免灰尘等杂质进入，便于LED芯片的稳定测试。
[0024]测试箱3的正面固定连接有PLC控制面板8，PLC控制面板8通过导本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种带结温测试的间歇寿命测试装置，其特征在于：包括运输板(1)，所述运输板(1)的底面固定连接有两组移动轮(2)，所述运输板(1)的上表面固定连接有测试箱(3)，所述测试箱(3)的内底壁固定连接有测试台(15)，所述测试台(15)的上表面固定连接有散热板(16)，所述散热板(16)的上表面固定连接有铝基板(17)，所述铝基板(17)的上表面固定连接有测试座(19)，所述测试座(19)的内侧壁均固定镶嵌有测试触头(14)，所述测试箱(3)的内侧壁固定连接有检测控制器(12)，所述检测控制器(12)的内部设有稳压稳流器和压降探测器，所述测试触头(14)通过导线(13)与检测控制器(12)电性连接，所述测试箱(3)的左侧面固定连接有支撑板(5)，所述支撑板(5)的上表面固定连接有线性显示屏(7)，所述检测控制器(12)通过数据线缆(6)与线性显示屏(7)电性连接。2.根据权利要求1所述的一种带结温测试的间歇寿命测试装置，其特征在于：所述测试...
【专利技术属性】
技术研发人员：范正强，朱永兵，
申请(专利权)人：天津海瑞电子科技有限公司，
类型：新型
国别省市：
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