用于对混浊介质的内部成像的设备制造技术

本发明专利技术涉及一种用于对混浊介质（２５）的内部成像的设备（１）。所述设备（１）可以用于在测量容积（２０）里面容纳混浊介质（２５）并且利用来自光源（５）的光辐照混浊介质（２５），其后，探测从测量容积（２０）发出的光并将其用于确定所述混浊介质（２５）的内部的图像。可以调整设备（１），使得引入附加的构件，用于以在混浊介质（２５）中存在的造影剂中引起荧光发射的光辐照混浊介质，用于在至少两个谱区中探测荧光发射，并且用于针对至少两个探测的谱区来计算图像重构。通过分光地探测荧光发射，其是波长的函数，能够获得信息，从该信息能够确定混浊介质里面存在的预定成分的浓度。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】

【技术保护点】
一种用于对混浊介质（２５）的内部成像的设备（１），包括：ａ）用于容纳所述混浊介质（２５）的测量容积（２０）；ｂ）用于辐照所述混浊介质（２５）的光源（５）；ｃ）用于将来自所述光源（５）的光耦合到所述测量容积（２０）中的耦合构件（４０ａ、５０）；ｄ）用于探测作为对所述混浊介质（２５）的所述辐照的结果而从所述测量容积（２０）发出的光的探测构件（１０）；ｅ）用于从所述探测的光来确定所述混浊介质（２５）的内部的图像的图像重构构件（１５），其特征在于ｆ）设置所述光源（５），用于利用光辐照所述混浊介质（２５），该光具有选择的波长，使得所述光在所述混浊介质中的造影剂中引起荧光发射；ｇ）设置所述探测构件（１０），用于探测至少两个谱区中的所述荧光发射；　ｈ）设置所述图像重构构件（１５），用于针对探测的所述至少两个谱区来执行图像重构计算；ｉ）提供一种构件（５５），用于从对所述探测的荧光发射的所述至少两个谱区中的荧光的吸收来确定所述混浊介质（２５）中存在的预定成分的浓度。

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】...

【专利技术属性】
技术研发人员：LP巴克，MC范贝克，MB范德马克，
申请(专利权)人：皇家飞利浦电子股份有限公司，
类型：发明
国别省市：NL[荷兰]