一种基于双经纬仪的空间大尺寸坐标快速测量方法技术

本发明专利技术公开一种基于双经纬仪的空间大尺寸坐标快速测量方法。步骤1：准备器材，十字靶标、经纬仪和量尺或量块、并将上述器材进行安装；步骤2：预调基准，定义零点，而后测量待测坐标点；步骤3：将预调基准后的器材进行实际测量，实际测量包括以下步骤；步骤4：记录测量后的待测坐标点的坐标值。本发明专利技术解决通用性不强、误差影响因素多和所需设备成本较高的问题。

【技术实现步骤摘要】
一种基于双经纬仪的空间大尺寸坐标快速测量方法
本专利技术属于
，具体涉及一种基于双经纬仪的空间大尺寸坐标快速测量方法。
技术介绍
三维空间大尺寸物体的坐标测量、长度测量一直是精密机构装配中的重点和难点问题。特别在大型及特种设备装配中，装配精度高、一次性装配误差小、装备时间短、装配空间有限、装配步骤不可逆等近乎苛刻的条件对空间大尺寸部件的坐标和长度测量提出了挑战，如何能顾在满足一定测量精度条件下，较快地获得所要测量的信息一直是工程师追求的目标。目前常采用激光跟踪仪+干涉仪，或特制测长机进行测量。采用激光跟踪仪+干涉仪测量时，干涉仪的反射镜和跟踪仪的反射镜放置在工作台上，工作台由电机驱动，沿直线导轨运动，如图1所示。工作台移动时干涉仪反射镜的移动距离与被测目标的移动距离的偏差值反映了被校系统的测量偏差，跟踪仪的反射镜与干涉仪的反射镜放置在同一工作台上，当工作台移动一定距离后，得到干涉仪的位移量L0和跟踪仪的两点坐标P1、P2，根据空间点距离公式计算得到间距L,其中A为两目标点之间的交角。这种方法测量结果的精度高，但存在如下问题：...

【技术保护点】
1.一种基于双经纬仪的空间大尺寸坐标快速测量方法，其特征在于，所述快速测量方法包括以下步骤：/n步骤1：准备器材，十字靶标、经纬仪和量尺或量块、并将上述器材进行安装；/n步骤2：预调基准，定义零点，而后测量待测坐标点；/n步骤3：将预调基准后的器材进行实际测量，实际测量包括以下步骤：/n步骤3.1：将十字靶标固定于标准量块左右两端，能够在经纬仪的目镜中清楚识别其十字交叉点；/n步骤3.2：调整双经纬仪的水平和垂直角度，使得经纬仪目镜中心十字刻线与靶标十字刻线重叠，分别记录量块左侧经纬仪观测量块两端的水平观测角α′

【技术特征摘要】
1.一种基于双经纬仪的空间大尺寸坐标快速测量方法，其特征在于，所述快速测量方法包括以下步骤：
步骤1：准备器材，十字靶标、经纬仪和量尺或量块、并将上述器材进行安装；
步骤2：预调基准，定义零点，而后测量待测坐标点；
步骤3：将预调基准后的器材进行实际测量，实际测量包括以下步骤：
步骤3.1：将十字靶标固定于标准量块左右两端，能够在经纬仪的目镜中清楚识别其十字交叉点；
步骤3.2：调整双经纬仪的水平和垂直角度，使得经纬仪目镜中心十字刻线与靶标十字刻线重叠，分别记录量块左侧经纬仪观测量块两端的水平观测角α′1，α′2和右侧经纬仪观测量块两端的水平观测角β′1，β′2，左侧经纬仪观测量块两端的垂直观测角γ′1，γ′2和右侧经纬仪观测量块两端的垂直观测角θ′1，θ′2；
步骤3.3：因为量块长度已知L12，将α′1，α′2，β′1，β′2，γ′1，γ′2和L12带入到公式(1)中，就会得到两个经纬仪之间的实际间距L′；



设A1A2两点的距离为L′12，两台经纬仪记录的水平观测角为α1，α2和β1，β2，记录的垂直观测角为γ1，γ2和θ1，θ2；
步骤3.4：保持经纬仪相对位置不动，重新将十字靶标固定于待测目标点位置；
步骤3.5：调整双经纬仪的水平和垂直角度，使得经纬仪目镜中心十字刻线与靶标十字刻线重叠，分别记录待测目标点左右两端的水平观测角α1，α2和β1，β2，垂直观测角为γ1，γ2和θ1，θ2继续由公式(1)计算获得待测目标点的间距L′12即双经纬仪坐标系下的坐标，如式(2)，



步骤4：记录测量后的待测坐标点的坐...

【专利技术属性】
技术研发人员：李凯，胡英辉，杜永斌，姜宗泽，张颖惠，袁峰，
申请(专利权)人：哈尔滨工业大学，
类型：发明
国别省市：黑龙江;23