光纤衰减均匀性测试方法技术

本发明专利技术涉及光纤测试技术，特别涉及应用光时域反射计对光纤衰减进行测量的技术。本发明专利技术提供一种光纤衰减均匀性测试方法，用计算机通过数据端口从光时域反射计采集数据，并对采集的数据进行分析，所述分析包括以下步骤：ａ．定义滑动窗口长度Ｌ和滑动步长ｘ；ｂ．确定某一点Ａ位置为滑动窗口的起点；ｃ．测量滑动窗口在光纤上以步长ｘ滑动时Ｌ长度内的衰减系数；ｄ．步骤ｃ测得的多个衰减系数与被测光纤段整体长度的平均衰减系数相比较。本发明专利技术不但能够测量整盘光纤的整体衰减，还准确表现了在特定位置光纤段的衰减，以及光纤衰减特性的分布，为光纤质量评定提供了重要的参考。（*该技术在2023年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及光纤测试技术，特别涉及应用光时域反射计对光纤衰减进行测量的技术。本专利技术解决其技术问题所采用的技术方案是，提供一种光纤衰减测试方法，用计算机从光时域反射计采集数据，分析后再显示于显示器，所述分析包括以下步骤a、定义滑动窗口长度L和滑动步长x；b、确定某一点A位置为滑动窗口的起点；c、测量滑动窗口在光纤上以步长x滑动时L长度内的衰减系数；d、步骤c测得的多个衰减系数与被测光纤段整体长度的平均衰减系数相比较。所述标尺长L不大于1公里，所述步长x不大于1公里。所述A点为标尺长L的一个端点。测量时，所述光时域反射计的光标A与光标B交替移动，每次移动的距离为2L。还包括步骤f测量整盘光纤的整体衰减并计算出单位长度L内的平均值，并与各次步骤b、c测得的值比较。本专利技术的有益效果是，不但能够测量整盘光纤的整体衰减，还准确表现了在特定位置光纤段的衰减，以及光纤衰减特性的分布，为光纤质量评定提供了重要的参考。以下结合附图和具体实施方式对本专利技术作进一步的说明。图2是本专利技术所述的光时域反射计提供的对某一段光纤测试结果示意图。图3是本专利技术第一个实施例测试结果分析后的示意图。图4是光时域反射计测量曲线放大后的示意图。附图说明图1是一整盘光纤的测试结果。可以看到OTDR曲线、光纤编号、两个标杆的准确位置。图2显示了对两标杆之间的光纤段进行分段分析(如1km段长分析)的情形。图形显示了该单位段长上的衰减值曲线，可以同时以图形和数值显示。实施例1计算机通过OTDR的数据接口控制OTDR并读取测试数据，分析后显示于显示器。计算机通过以下步骤分析a、定义标尺长L＝1Km，步长x＝1Km，以标尺长作为单位长度；b、确定光纤的一个端点为滑动窗口的起点A；c、测量滑动窗口L长度内的衰减系数并记录，A点向光纤的一端移动1Km，再测量以A点为起点的L长度内，即窗口内的衰减系数；A点再滑动步长x，再测量，直到窗口滑动到光纤的另一个端点。d、以最小二乘法计算各次测量值，与整段光纤的平均衰减系数比较，判断是否任意一段1km长的衰减系数与整段长度的平均衰减系数之差都不大于某一确定的标准值。也可将OTDR显示的靠近光纤某一端的标杆位置作为参照点A。由于本实施例的步长与标尺长度相等，都是1Km，为了准确定位和减少误差，采用以下方式移动第一次测量完成后，将标杆a1直接移动到标杆a2之后1Km处，再进行第二次测量；然后将标杆a2移动到标杆a1之后1Km处，进行第三次测量，其他依次类推。本实施例中，参照点A的移动方向总是从光纤的一端向另一端移动，也就是说，被测量的光纤段总是向同一方向移动的。对于各次测量所得到结果，一方面，将其以图3的图表方式表现。另一方面，需要测量整盘光纤的整体衰减并计算出单位长度L内的平均值，并与各次步骤b、c测得的值比较，以量化和判断衰减分布的均匀性。作为一个实施例，图3所示的光纤段总长度25km，每一小格为一公里，也就是所述的标尺长为1km，滑动步长也是1km，共测量25次。图中的直线表示光纤的衰减系数均匀性良好，各段的衰减系数相等，因此表现为一条直线。当然，1Km并非唯一取值，无论是标尺长L还是步长x，都可以取其他适当的数值。通常OTDR为数据传输提供了GPIB和RS-232接口。本实施例中，使用了一块GPIB控制卡来适配OTDR所提供的GPIB接口，并与其进行控制通信。本专利技术通过计算机对OTDR进行面板上操作，通过计算机设置参数。一些参数，如光纤编号，可以利用条码输入。实施例2与第一个实施例不同之处在于，每次滑动窗口位移x小于标尺长L，例如，标尺长L为1Km，步长x为500m。每次移动的距离即为500m。标杆a1、a2都向后方移动步长x，即窗口滑动了x的距离。实施例3在OTDR上，其采样并非连续的，而是存在着间隔，如果将图1所示的曲线部分放大，如图4所示，即可见其实际是阶梯状分布，也就是说，对光纤而言，相邻两个采样点之间存在距离d，相邻两次采样之间经过了一段长度d，在此段长度d内并未被测量，而此段长度d的具体数值很显然可以推算出来。此距离即为光时域反射计能测量的最小距离。为了提高精度，将步长x定义为d的数值，即令x＝d，这样，最大可能的提高了测量的精度。本实施例的其他步骤与实施例1相同。实施例4由于一台计算机可以同时运行多个程序，因此，作为一个实施例，以同一台计算机同时控制多台OTDR进行操作和测试。以上实施方式的内容不应理解为对本专利技术要求保护的权利范围的限制，本专利技术权利范围延及基于本专利技术构思的类似上述实施例的其他实施方式。权利要求1.，其特征在于，用计算机通过数据端口从光时域反射计采集数据，并对采集的数据进行分析，所述分析包括以下步骤a、定义滑动窗口长度L和滑动步长x；b、确定某一点A位置为滑动窗口的起点；c、测量滑动窗口在光纤上以步长x滑动时L长度内的衰减系数；d、步骤c测得的多个衰减系数与被测光纤段整体长度的平均衰减系数相比较。2.如权利要求1所述的，其特征在于，步骤c包括以下两个循环的步骤c1、测量窗口L长度内的平均衰减系数；c2、窗口向光纤一端滑动步长x。3.如权利要求1所述的，其特征在于，所述标尺长L不大于1公里，所述步长x不大于1公里。4.如权利要求1或2所述的，其特征在于，所述A点为标尺长L的一个端点。5.如权利要求3所述的，其特征在于，所述标尺长为1公里，所述步长x为1公里。6.如权利要求3所述的，其特征在于，测量时，所述光时域反射计的光标A与光标B交替移动，每次移动的距离为2L。7.如权利要求3所述的，其特征在于，所述步长x等于光时域反射计可以测量的最小距离。8.如权利要求3所述的，其特征在于，所述步骤c中，A点总是向光纤的同一端移动。全文摘要本专利技术涉及光纤测试技术，特别涉及应用光时域反射计对光纤衰减进行测量的技术。本专利技术提供一种，用计算机通过数据端口从光时域反射计采集数据，并对采集的数据进行分析，所述分析包括以下步骤a.定义滑动窗口长度L和滑动步长x；b.确定某一点A位置为滑动窗口的起点；c.测量滑动窗口在光纤上以步长x滑动时L长度内的衰减系数；d.步骤c测得的多个衰减系数与被测光纤段整体长度的平均衰减系数相比较。本专利技术不但能够测量整盘光纤的整体衰减，还准确表现了在特定位置光纤段的衰减，以及光纤衰减特性的分布，为光纤质量评定提供了重要的参考。文档编号G01M11/02GK1475784SQ0313533公开日2004年2月18日 申请日期2003年7月2日 优先权日2003年7月2日专利技术者袁健, 刘文早, 杨梅, 曾春洪, 高虎军, 涂昌伟, 陈新建, 袁 健 申请人:成都中住光纤有限公司 本文档来自技高网...

【技术保护点】
光纤衰减均匀性测试方法，其特征在于，用计算机通过数据端口从光时域反射计采集数据，并对采集的数据进行分析，所述分析包括以下步骤：ａ、定义滑动窗口长度Ｌ和滑动步长ｘ；ｂ、确定某一点Ａ位置为滑动窗口的起点；ｃ、测量滑动窗口在光纤上以步 长ｘ滑动时Ｌ长度内的衰减系数；ｄ、步骤ｃ测得的多个衰减系数与被测光纤段整体长度的平均衰减系数相比较。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：袁健，刘文早，杨梅，曾春洪，高虎军，涂昌伟，陈新建，
申请(专利权)人：成都中住光纤有限公司，
类型：发明
国别省市：90[中国|成都]