一种用于集成电路测试的多工位辅助定位装置制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种用于集成电路测试的多工位辅助定位装置，其结构包括底座和测试槽，通过设置了转动机构在放置板中端，可通过将工件放置进转盘内部中的各个放置槽内，转动齿轮，齿轮通过齿圈带动转盘移动，转盘带动放置槽转动，转盘可带动放置槽内部中的工件向测试槽内部移动，便于对工件的替换和提高工件的测试速度，可快速对工件精准定位；通过设置了挡块带动弹性杆移动，弹性杆带动滑杆移动，滑杆右端可带动工件进入储物槽内部中，弹性杆受力弯曲后，挡块失去对弹性杆的作用力，弹簧可为弹性杆提供复位效果，便于对测试后的工件更换和储存。

【技术实现步骤摘要】
一种用于集成电路测试的多工位辅助定位装置
本专利技术涉及集成电路测试
，具体涉及一种用于集成电路测试的多工位辅助定位装置。
技术介绍
集成电路是一种微型电子器件或部件，采用一定的工艺，把一个电路中所需的晶体管、电阻、电容和电感等元件及布线互连一起，制作在一小块或几小块半导体晶片或介质基片上，然后封装在一个管壳内，成为具有所需电路功能的微型结构；其中所有元件在结构上已组成一个整体，使电子元件向着微小型化、低功耗、智能化和高可靠性方面迈进了一大步；集成电路在测试时，可通过定位装置来辅助定位。由于现有
技术实现思路
中的定位装置结构较为简单，在对工件测试时，较难满足工件的实际定位效果，降低工件在测试区域中的定位效果和测试速率。
技术实现思路
(一)要解决的技术问题为了克服现有技术不足，现提出一种用于集成电路测试的多工位辅助定位装置，解决了由于现有
技术实现思路
中的定位装置结构较为简单，在对工件测试时，较难满足工件的实际定位效果，降低工件在测试区域中的定位效果和测试速率的问题。(二)技术方案>本专利技术通过如下本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种用于集成电路测试的多工位辅助定位装置，包括底座(1)和测试槽(3)，所述底座(1)顶部与放置板(2)构成一体，所述放置板(2)前端面设有测试槽(3)；/n其特征在于：还包括转动机构(4)，所述转动机构(4)设于放置板(2)上端，所述转动机构(4)由入物槽(41)、齿轮(42)、转盘(43)、齿圈(44)、放置槽(45)、通道(46)、挡块(47)、滑动机构(48)和储物槽(49)组成，所述入物槽(41)设于放置板(2)上端左端，所述齿轮(42)与入物槽(41)内中端转动连接，所述转盘(43)与入物槽(41)侧面相互连接，所述转盘(43)中端设有齿圈(44)，所述齿圈(44)与齿轮(42...

【技术特征摘要】
1.一种用于集成电路测试的多工位辅助定位装置，包括底座(1)和测试槽(3)，所述底座(1)顶部与放置板(2)构成一体，所述放置板(2)前端面设有测试槽(3)；
其特征在于：还包括转动机构(4)，所述转动机构(4)设于放置板(2)上端，所述转动机构(4)由入物槽(41)、齿轮(42)、转盘(43)、齿圈(44)、放置槽(45)、通道(46)、挡块(47)、滑动机构(48)和储物槽(49)组成，所述入物槽(41)设于放置板(2)上端左端，所述齿轮(42)与入物槽(41)内中端转动连接，所述转盘(43)与入物槽(41)侧面相互连接，所述转盘(43)中端设有齿圈(44)，所述齿圈(44)与齿轮(42)侧面啮合，所述放置槽(45)设于转盘(43)左端，所述通道(46)下端与测试槽(3)相贯通，所述挡块(47)顶部与转盘(43)固定连接，所述滑动机构(48)设于放置板(2)内下端，所述储物槽(49)设于放置板(2)右端，并且储物槽(49)与测试槽(3)右端相贯通。


2.根据权利要求1所述的一种用于集成电路测试的多工位辅助定位装置，其特征在于：所述滑动机构(48)由滑槽(481)、弹簧(482)、滑杆(483)和弹性杆(484)组成，所述滑槽(481)设于放置板(2)左端，所述弹簧(482)左端与滑槽(481)固定连接，所述弹簧(482)右端...

【专利技术属性】
技术研发人员：刘宵玲，
申请(专利权)人：龙岩市云惠企科技有限公司，
类型：发明
国别省市：福建;35