一种集成电路测试用的样品随机抽取装置制造方法及图纸

技术编号:26028226 阅读:24 留言:0更新日期:2020-10-23 21:05
本发明专利技术公开了一种集成电路测试用的样品随机抽取装置,包括精确调节机构和转动调节机构,本发明专利技术通过在第四气缸底部设置了调节机构,转动手轮,使第一螺杆通过移动板带动第三滑块和顶撑板往上端移动,从而使顶撑板带动第二支撑板的高度进行改变,指针能够在指示板进行指示,对调节的高度进行准确了解,达到了能够精确的调节夹头的高度的优点;通过在精确调节机构底部设置了转动调节机构,第五气缸通过推块带动齿条进行移动,齿条通过齿轮带动第一皮带轮进行转动,从而使第一皮带轮通过皮带带动第二皮带轮进行转动,使第二皮带轮通过转动块带动夹具的位置进行改变,达到了能够快速调节夹头的夹取位置的优点。

【技术实现步骤摘要】
一种集成电路测试用的样品随机抽取装置
本专利技术涉及集成电路测试相关领域,具体是一种集成电路测试用的样品随机抽取装置。
技术介绍
集成电路是一种微型电子器件或部件,采用一定的工艺,把一个电路中所需的晶体管、电阻、电容和电感等元件及布线互连一起,制作在一小块或几小块半导体晶片或介质基片上,然后封装在一个管壳内,成为具有所需电路功能的微型结构;其中所有元件在结构上已组成一个整体,使电子元件向着微小型化、低功耗、智能化和高可靠性方面迈进了一大步。随机抽取,即按随机性原则,从总体单位中抽取部分单位作为样本,集成电路封装完成后,还需要进行验收测试,验收测试一般采用随机抽取测试的方法,以此来估算合格率,这时需要进行随机抽取产品样品,现在的样品随机抽取装置一般是通过气缸驱动夹头对样品进行夹取,但是由于样品的精密度较高,气缸推动的距离不易进行把控,容易对样品造成损坏,现有样品随机抽取装置不易精确的调节夹头的高度,并且不易快速调节夹头的夹取位置,导致夹取放置不方便。
技术实现思路
因此,为了解决上述不足,本专利技术在此提供一种集成电路测试用的样品随机抽取装置。本专利技术是这样实现的,构造一种集成电路测试用的样品随机抽取装置,该装置包括底板、第一导轨、第二滑块、第四气缸、夹具、精确调节机构和转动调节机构,所述底板与第一导轨顶部螺栓连接,所述底板通过螺钉与第一气缸底部锁紧固定,所述第一气缸输出端与滑座固定连接,并且滑座沿着第一导轨顶部滑动,所述滑座通过电焊与支撑架底部相固定,所述支撑架与第二气缸左端固定连接,所述支撑架内侧上端固定有第二导轨,所述精确调节机构与第四气缸底部固定连接,所述精确调节机构与转动调节机构底部后端相固定,所述转动调节机构与夹具顶部转动配合,所述精确调节机构包括调节机构和紧固机构,所述调节机构与第四气缸底部固定连接,所述调节机构上端安装固定有紧固机构。优选的,所述第二导轨与第一滑块内侧壁滑动配合,并且第一滑块与第二气缸输出端固定连接,所述第一滑块内侧嵌入安装有第三气缸,所述第二滑块与第二导轨前端滑动配合,所述第二滑块通过螺钉与第四气缸后端锁紧固定,所述底板前端设置有控制面板。优选的,所述调节机构包括第一支撑板、伸缩杆、第二支撑板、指示板、指示架、螺纹座、手轮、第一螺杆、移动板、第三导轨、第三滑块、第四导轨和顶撑板,所述第一支撑板通过螺钉与第四气缸底部固定连接,所述第一支撑板顶部四角相对固定有伸缩杆,所述伸缩杆远离第一支撑板一端与第二支撑板底部相固定,所述指示板通过螺钉与第一支撑板顶部右后端锁紧固定,所述指示架与第二支撑板顶部右后端螺栓连接,所述螺纹座底部与第一支撑板相固定,所述第一螺杆与螺纹座内侧壁螺纹配合,所述手轮与第一螺杆前端转动连接,所述第一螺杆与移动板前端固定连接,并且移动板与第四导轨顶部滑动配合,所述移动板右端固定有第三导轨,所述第三导轨与第三滑块内侧壁滑动配合,所述第三滑块通过螺钉与顶撑板左端锁紧固定,并且顶撑板顶部与第二支撑板底部固定连接。优选的,所述紧固机构包括固定座、夹块、第二螺杆和转柄,所述固定座与螺纹座前端焊接固定,所述固定座顶部左右两侧相对设置有夹块,所述夹块内侧贯穿有第一螺杆,所述第二螺杆与夹块内侧螺纹配合,所述转柄随着第二螺杆左端同步转动。优选的,所述转动调节机构包括承接板、第五气缸、推块、齿条、齿轮、第一皮带轮、皮带、顶轮机构、第二皮带轮、转动块和摆动架,所述摆动架顶部与第二支撑板螺栓连接,所述摆动架与承接板顶部左后端固定为一体,所述承接板通过螺钉与第五气缸底部锁紧固定,所述第五气缸输出端焊接固定有推块,所述推块与齿条底部焊接固定,所述齿条与齿轮前端啮合传动,所述齿轮通过转动轴与第一皮带轮中部转动连接,所述第一皮带轮通过皮带与第二皮带轮内侧壁传动连接,所述第二皮带轮通过转动轴与摆动架右端内侧转动配合,所述转动块随着第二皮带轮中部同步转动,所述摆动架顶部右端固定有顶轮机构。优选的,所述顶轮机构包括活动座、第三螺杆、凸块、推板和顶轮,所述活动座与摆动架顶部右后端焊接固定,所述活动座内侧与第三螺杆螺纹配合,所述第三螺杆嵌入固定于凸块内侧,所述凸块与推板顶部后端焊接固定,所述推板采用间隙配合的方式嵌入于摆动架顶部右端内侧,所述推板通过铰链轴与顶轮中部转动连接,所述顶轮与皮带前端内侧紧密贴合。优选的,所述伸缩杆共设置有四根,并且伸缩杆沿第一支撑板上端四角相对设置。优选的,所述指示板呈“L”字形状,并且指示板前端设置有指示刻度。优选的,所述指示架上端设置有指针,并且指针与指示板前端相贴合。优选的,所述第三导轨呈倾斜状分布,并且第三导轨的倾斜角度为三十五度。优选的,所述第一螺杆为碳钢材质,硬度高。优选的,所述移动板为合金钢材质,抗腐蚀性强。本专利技术具有如下优点:本专利技术通过改进在此提供一种集成电路测试用的样品随机抽取装置,与同类型设备相比,具有如下改进:优点1:本专利技术所述一种集成电路测试用的样品随机抽取装置,通过在第四气缸底部设置了调节机构,转动手轮,使第一螺杆通过移动板带动第三滑块和顶撑板往上端移动,从而使顶撑板带动第二支撑板的高度进行改变,指针能够在指示板进行指示,对调节的高度进行准确了解,达到了能够精确的调节夹头的高度的优点。优点2:本专利技术所述一种集成电路测试用的样品随机抽取装置,通过在调节机构上端设置了紧固机构,转动转柄,使转柄带动第二螺杆在夹块内侧移动,使夹块上端的间距缩短,从而使夹块对第一螺杆进行锁紧夹持,达到了能够防止第一螺杆自转的优点。优点3:本专利技术所述一种集成电路测试用的样品随机抽取装置,通过在精确调节机构底部设置了转动调节机构,第五气缸通过推块带动齿条进行移动,齿条通过齿轮带动第一皮带轮进行转动,从而使第一皮带轮通过皮带带动第二皮带轮进行转动,使第二皮带轮通过转动块带动夹具的位置进行改变,达到了能够快速调节夹头的夹取位置的优点。优点4:本专利技术所述一种集成电路测试用的样品随机抽取装置,通过在转动调节机构上端设置了顶轮机构,转动第三螺杆,使第三螺杆在活动座内侧螺纹配合,从而使第三螺杆通过凸块带动推板和顶轮在摆动架内侧移动,使顶轮与皮带侧壁紧密贴合,达到了能够防止皮带松动的优点。附图说明图1是本专利技术结构示意图;图2是本专利技术抽取装置正视结构示意图;图3是本专利技术精确调节机构剖面结构示意图;图4是本专利技术调节机构侧视结构示意图;图5是本专利技术调节机构内部结构示意图;图6是本专利技术紧固机构侧视结构示意图;图7是本专利技术转动调节机构侧视结构示意图;图8是本专利技术顶轮机构侧视结构示意图。其中:底板-1、第一导轨-2、第一气缸-3、滑座-4、支撑架-5、第二气缸-6、第二导轨-7、第一滑块-8、第三气缸-9、第二滑块-10、第四气缸-11、精确调节机构-12、转动调节机构-13、夹具-14、控制面板-15、调节机构-121、紧固机构-122、第一支撑板-1211、伸缩杆-1212、第二支撑板-1213、指示板-1本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种集成电路测试用的样品随机抽取装置,包括底板(1)、第一导轨(2)、第二滑块(10)、第四气缸(11)和夹具(14),所述底板(1)与第一导轨(2)顶部螺栓连接,所述底板(1)通过螺钉与第一气缸(3)底部锁紧固定,所述第一气缸(3)输出端与滑座(4)固定连接,并且滑座(4)沿着第一导轨(2)顶部滑动,所述滑座(4)通过电焊与支撑架(5)底部相固定,所述支撑架(5)与第二气缸(6)左端固定连接,所述支撑架(5)内侧上端固定有第二导轨(7);/n其特征在于:还包括精确调节机构(12)和转动调节机构(13),所述精确调节机构(12)与第四气缸(11)底部固定连接,所述精确调节机构(12)与转动调节机构(13)底部后端相固定,所述转动调节机构(13)与夹具(14)顶部转动配合,所述精确调节机构(12)包括调节机构(121)和紧固机构(122),所述调节机构(121)与第四气缸(11)底部固定连接,所述调节机构(121)上端安装固定有紧固机构(122)。/n

【技术特征摘要】
1.一种集成电路测试用的样品随机抽取装置,包括底板(1)、第一导轨(2)、第二滑块(10)、第四气缸(11)和夹具(14),所述底板(1)与第一导轨(2)顶部螺栓连接,所述底板(1)通过螺钉与第一气缸(3)底部锁紧固定,所述第一气缸(3)输出端与滑座(4)固定连接,并且滑座(4)沿着第一导轨(2)顶部滑动,所述滑座(4)通过电焊与支撑架(5)底部相固定,所述支撑架(5)与第二气缸(6)左端固定连接,所述支撑架(5)内侧上端固定有第二导轨(7);
其特征在于:还包括精确调节机构(12)和转动调节机构(13),所述精确调节机构(12)与第四气缸(11)底部固定连接,所述精确调节机构(12)与转动调节机构(13)底部后端相固定,所述转动调节机构(13)与夹具(14)顶部转动配合,所述精确调节机构(12)包括调节机构(121)和紧固机构(122),所述调节机构(121)与第四气缸(11)底部固定连接,所述调节机构(121)上端安装固定有紧固机构(122)。


2.根据权利要求1所述一种集成电路测试用的样品随机抽取装置,其特征在于:所述第二导轨(7)与第一滑块(8)内侧壁滑动配合,并且第一滑块(8)与第二气缸(6)输出端固定连接,所述第一滑块(8)内侧嵌入安装有第三气缸(9),所述第二滑块(10)与第二导轨(7)前端滑动配合,所述第二滑块(10)通过螺钉与第四气缸(11)后端锁紧固定,所述底板(1)前端设置有控制面板(15)。


3.根据权利要求1所述一种集成电路测试用的样品随机抽取装置,其特征在于:所述调节机构(121)包括第一支撑板(1211)、伸缩杆(1212)、第二支撑板(1213)、指示板(1214)、指示架(1215)、螺纹座(1216)、手轮(1217)、第一螺杆(1218)、移动板(1219)、第三导轨(12110)、第三滑块(12111)、第四导轨(12112)和顶撑板(12113),所述第一支撑板(1211)通过螺钉与第四气缸(11)底部固定连接,所述第一支撑板(1211)顶部四角相对固定有伸缩杆(1212),所述伸缩杆(1212)远离第一支撑板(1211)一端与第二支撑板(1213)底部相固定,所述指示板(1214)通过螺钉与第一支撑板(1211)顶部右后端锁紧固定,所述指示架(1215)与第二支撑板(1213)顶部右后端螺栓连接,所述螺纹座(1216)底部与第一支撑板(1211)相固定,所述第一螺杆(1218)与螺纹座(1216)内侧壁螺纹配合,所述手轮(1217)与第一螺杆(1218)前端转动连接,所述第一螺杆(1218)与移动板(1219)前端固定连接,并且移动板(1219)与第四导轨(12112)顶部滑动配合,所述移动板(1219)右端固定有第三导轨(12110),所述第三导轨(12110)与第三滑块(12111)内侧壁滑动配合,所述第三滑块(12111)通过螺钉与顶撑板(12113)左端锁紧固定,并且顶撑板(12113)顶部与第二支撑板(1213)底部固定连接。


4.根据权利要求1所述一种集成电路测试用的样品随机抽取装置,其特征在于:所述紧固机构(122)包括固定座(1221)、夹块(122...

【专利技术属性】
技术研发人员:刘晟
申请(专利权)人:龙岩市云惠企科技有限公司
类型:发明
国别省市:福建;35

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