下载一种集成电路测试用的样品随机抽取装置的技术资料

文档序号:26028226

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本发明公开了一种集成电路测试用的样品随机抽取装置,包括精确调节机构和转动调节机构,本发明通过在第四气缸底部设置了调节机构,转动手轮,使第一螺杆通过移动板带动第三滑块和顶撑板往上端移动,从而使顶撑板带动第二支撑板的高度进行改变,指针能够在指示...
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