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本发明公开了一种用于集成电路测试的多工位辅助定位装置，其结构包括底座和测试槽，通过设置了转动机构在放置板中端，可通过将工件放置进转盘内部中的各个放置槽内，转动齿轮，齿轮通过齿圈带动转盘移动，转盘带动放置槽转动，转盘可带动放置槽内部中的工件向...
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