一种电子元件测试装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术公开了一种电子元件测试装置，包括第一气爪、第二气爪、卡臂和测试机构；卡臂位于两个分度盘之间；联排固定连接设置的第一气抓和第二气爪位于卡臂的上方，并且排列方向与两个分度盘的中心连接线延伸方向平行；测试机构与卡臂前端相对设置，其前端设置有用于测试的电极；该装置可将元件在不同工位上进行转移，并在转移过程中进行通电测试。

【技术实现步骤摘要】
一种电子元件测试装置
本技术涉及元器件生产
，具体涉及一种电子元件测试装置。
技术介绍
在元件自动化生产过程中，通常需要对半成品进行通电测试，作为封装之前的前置工序，另外还经常需要将分度盘中的元件进行转移，比如从第一分度盘转移至第二分度盘，或是从传送带上将元件转移到分度盘上。通常元件生产在阶段工序完成之后，下一工序开始之前做测试，工序之间切换的时候往往会进行工位转移，因此，将这两个步骤合二为一，必将提高自动化生产效率。
技术实现思路
鉴于上述，本技术提供了一种电子元件测试装置，该设备可将元件在不同工位上进行转移，并在转移过程中进行通电测试。一种电子元件测试装置，包括第一气爪、第二气爪、卡臂和测试机构；卡臂位于两个分度盘之间；联排固定连接设置的第一气抓和第二气爪位于卡臂的上方，并且排列方向与两个分度盘的中心连接线延伸方向平行；测试机构与卡臂前端相对设置，其前端设置有用于测试的电极。优选的，还包括第一支架，第一支架的上部设置有横向支撑臂，中部设置有卡座；第一气爪通过第一滑座滑动安装于横向支撑臂上；第二气爪通过第二滑座滑动安装于横向支撑臂上；第一滑座和第二滑座横向固定连接；卡臂的后部固定安装于卡座上。优选的，横向支撑臂的内侧面设置有上滑轨和下滑轨；第一滑座和第二滑座的背部均固定设置有上卡槽和下卡槽；上滑轨卡接于上卡槽内，下滑轨卡接于下卡槽内，第一滑座和第二滑座通过上卡槽和下卡槽沿横向支撑臂横向滑动。优选的，横向支撑臂延伸方向的一端外侧设置有横向推杆，横向推杆的一端与第一滑座或第二滑座连接，另一端与气缸连接。优选的，横向支撑臂延伸方向两端分别设置有缓冲弹簧。优选的，第一滑座和第二滑座的前部均设置有竖向滑轨，上部均设置有气缸，气缸设置有竖向推杆；第一气爪和第二气爪的背部分别滑动连接于第一滑座和第二滑座，第一气爪和第二气爪的顶端分别与所在滑座上部的气缸的竖向推杆连接。优选的，卡臂的前端设置有纵向的P形通孔，P形通孔的P形底部水平方向在卡臂的前端面开口设置。优选的，测试机构包括前伸的夹持机构和后部的伸缩机构，夹持机构的后部固定安装于伸缩机构的前部。优选的，夹持机构包括左右设置的第一夹持臂和第二夹持臂；第一夹持臂的前端设置有第一夹口，第二夹持臂的前端设置有第二夹口，第一夹口和第二夹口左右合拢时呈内空的矩形框形状，第一夹口和第二夹口的上框部组成上夹持部，下框部组成下夹持部，内部空间形成中空部；测试时，夹持机构将卡臂的前端含于中空部中；上夹持部与下夹持部绝缘设置。优选的，测试机构还包括第二支架，伸缩机构包括第一伸缩臂和第二伸缩臂；第一伸缩臂滑动安装于第二支架的上部，第二伸缩臂滑动安装于第一伸缩臂的上部，第二伸缩臂的前端与夹持机构固定连接。本技术的有益效果为：一种电子元件测试装置，包括第一气爪、第二气爪、卡臂和测试机构；卡臂位于两个分度盘之间；联排固定连接设置的第一气抓和第二气爪位于卡臂的上方，并且排列方向与两个分度盘的中心连接线延伸方向平行；测试机构与卡臂前端相对设置，其前端设置有用于测试的电极；该装置可将元件在不同工位上进行转移，并在转移过程中进行通电测试。附图说明下面结合附图对本技术一种电子元件测试装置作进一步说明。图1是本技术一种电子元件测试装置与分度盘的配合示意图。图2是本技术一种电子元件测试装置与分度盘的俯视图。图3是本技术一种电子元件测试装置的立体图。图4是第一支架及其安装组件的装配图。图5是本技术一种电子元件测试装置的右视图。图6是卡臂结构放大示意图。图7是夹持机构结构放大示意图。图中：1-第一气爪，11-第一滑座，01-竖向滑轨，2-第二气爪，21-第二滑座，3-卡臂，31-P形通孔，4-测试机构，41-夹持机构，411-第一夹持臂，412-第二夹持臂，413-上夹持部，414-下夹持部，415-中空部，42-伸缩机构，421-第一伸缩臂，422-第二伸缩臂，43-第二支架，5-第一支架，51-横向支撑臂，511-上滑轨，512-下滑轨，513-横向推杆，514-缓冲弹簧，52-卡座，100-第一分度盘，200-第二分度盘。具体实施方式下面结合附图1～7对本技术一种电子元件测试装置作进一步说明。一种电子元件测试装置，包括第一气爪1、第二气爪2、卡臂3和测试机构4；卡臂3位于两个分度盘之间，两个分度盘的周侧各自对称设置有工件卡位；联排固定连接设置的第一气爪1和第二气爪2位于卡臂3的上方，并且排列方向与两个分度盘的中心连接线延伸方向平行；测试机构4与卡臂3前端相对设置，其前端设置有用于测试的电极。本实施例中，还包括第一支架5，第一支架5的上部设置有横向支撑臂51，中部设置有卡座52；第一气爪1通过第一滑座11滑动安装于横向支撑臂51上；第二气爪2通过第二滑座21滑动安装于横向支撑臂51上；第一滑座11和第二滑座21横向固定连接；卡臂3的后部固定安装于卡座52上。本实施例中，横向支撑臂51的内侧面设置有上滑轨511和下滑轨512；第一滑座11和第二滑座21的背部均固定设置有上卡槽和下卡槽；上滑轨511卡接于上卡槽内，下滑轨512卡接于下卡槽内，第一滑座11和第二滑座21通过上卡槽和下卡槽沿横向支撑臂51横向滑动。本实施例中，横向支撑臂51延伸方向的一端外侧设置有横向推杆513，横向推杆513的一端与第一滑座11或第二滑座21连接，另一端与气缸连接。本实施例中，横向支撑臂51延伸方向两端分别设置有缓冲弹簧514。本实施例中，第一滑座11和第二滑座21的前部均设置有竖向滑轨01，上部均设置有气缸，气缸设置有竖向推杆；第一气爪1和第二气爪2的背部分别滑动连接于第一滑座11和第二滑座21，第一气爪1和第二气爪2的顶端分别与所在滑座上部的气缸的竖向推杆连接；气爪不仅可以横向移动，还可以在竖直方向移动。本实施例中，卡臂3的前端设置有纵向的P形通孔31，P形通孔31的P形底部水平方向在卡臂3的前端面开口设置；P形通孔31包括圆形部和线形部，圆形部用于固定工件，线形部作为测试机构4夹持工件脱离卡臂3的通道，即第一气爪1将工件从第一分度盘100夹持转移至卡臂3的P形通孔31的圆形部，然后测试机构4对位于圆形部的工件进行测试；测试通过则第二气爪2将工件夹起转移至第二分度盘200，测试不通过则测试机构4将该不良工件从P形通孔31的线形部拽出抛弃。本实施例中，测试机构4包括前伸的夹持机构41和后部的伸缩机构42，夹持机构41的后部固定安装于伸缩机构42的前部。本实施例中，夹持机构41包括左右设置的第一夹持臂411和第二夹持臂412本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种电子元件测试装置，其特征在于，包括第一气爪、第二气爪、卡臂和测试机构；/n所述卡臂位于两个分度盘之间；/n联排固定连接设置的所述第一气抓和所述第二气爪位于所述卡臂的上方，并且排列方向与两个分度盘的中心连接线延伸方向平行；/n所述测试机构与所述卡臂前端相对设置，其前端设置有用于测试的电极。/n

【技术特征摘要】
1.一种电子元件测试装置，其特征在于，包括第一气爪、第二气爪、卡臂和测试机构；
所述卡臂位于两个分度盘之间；
联排固定连接设置的所述第一气抓和所述第二气爪位于所述卡臂的上方，并且排列方向与两个分度盘的中心连接线延伸方向平行；
所述测试机构与所述卡臂前端相对设置，其前端设置有用于测试的电极。


2.如权利要求1所述的电子元件测试装置，其特征在于，还包括第一支架，所述第一支架的上部设置有横向支撑臂，中部设置有卡座；
所述第一气爪通过第一滑座滑动安装于所述横向支撑臂上；
所述第二气爪通过第二滑座滑动安装于所述横向支撑臂上；
所述第一滑座和所述第二滑座横向固定连接；
所述卡臂的后部固定安装于所述卡座上。


3.如权利要求2所述的电子元件测试装置，其特征在于，所述横向支撑臂的内侧面设置有上滑轨和下滑轨；
所述第一滑座和所述第二滑座的背部均固定设置有上卡槽和下卡槽；
所述上滑轨卡接于所述上卡槽内，所述下滑轨卡接于所述下卡槽内，所述第一滑座和所述第二滑座通过所述上卡槽和所述下卡槽沿所述横向支撑臂横向滑动。


4.如权利要求3所述的电子元件测试装置，其特征在于，所述横向支撑臂延伸方向的一端外侧设置有横向推杆，所述横向推杆的一端与所述第一滑座或所述第二滑座连接，另一端与气缸连接。


5.如权利要求4所述的电子元件测试装置，其特征在于，所述横向支撑臂延伸方向两端分别设置有缓冲弹簧。


6.如权利要求5所述的...

【专利技术属性】
技术研发人员：成伟华，
申请(专利权)人：深圳市伟美科自动化设备有限公司，
类型：新型
国别省市：广东;44