一种测试装置制造方法及图纸

本发明专利技术涉及电子产品检测技术领域，具体公开一种测试装置。该测试装置包括上料机构、承载机构、检测机构和转移机构，上料机构上设置有多个叠加的承载盘，每个承载盘上设置有多个承载格，每个承载格内均能够容纳一个待测试工件，承载机构用于承载承载盘，检测机构位于承载机构的上方，能够依次对承载盘上的待测试工件进行检测，转移机构被配置为将上料机构上的承载盘转移至承载机构上。本发明专利技术提供的测试装置，通过上料机构、承载机构、检测机构和转移机构之间的相互配合，实现了对待测试工件的上料、转移及检测过程，自动化程度较高，降低操作人员的劳动强度，人工成本较低。

【技术实现步骤摘要】
一种测试装置
本专利技术涉及电子产品检测
，尤其涉及一种测试装置。
技术介绍
随着科学技术的进步，电子系统越来越复杂，电子系统的可靠性和可维护性要求也越来越高。电路板作为电子系统研制和生产中的重要组成部分，其质量的好坏直接影响整个设备的质量，因此，在组装之前需要对电路板的性能进行测试。现有技术中的测试装置通常包括承载机构和检测组件，承载机构位于检测组件的下方，承载机构用于承载待测试工件，检测组件用于对承载机构上放置的待测试工件进行检测，现有的测试过程通常是：首先操作人员将待测试工件放置于承载机构上，检测组件开始对待测试工件进行检测，当检测组件检测完该工件后，操作人员将该工件取下，再在承载机构上放置另一个待测组件。采用这种测试方法，操作人员一次上料后检测组件只能对一个工件进行测试，使得测试组件的待机时间较长，测试效率较低，且操作人员的劳动强度较大，人工成本较高。
技术实现思路
本专利技术的目的在于提供一种测试装置，减少测试组件的待机时间，测试效率较高，降低操作人员的劳动强度，人工成本较低。如上构思本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种测试装置，其特征在于，包括：/n上料机构(1)，其上设置有多个叠加的承载盘(10)，每个所述承载盘(10)上设置有多个承载格(101)，每个所述承载格(101)内均能够容纳一个待测试工件；/n承载机构(2)，所述承载机构(2)用于承载所述承载盘(10)；/n检测机构(3)，其位于所述承载机构(2)的上方，能够依次对所述承载盘(10)上的所述待测试工件进行检测；/n转移机构(4)，所述转移机构(4)被配置为将所述上料机构(1)上的所述承载盘(10)转移至所述承载机构(2)上。/n

【技术特征摘要】
1.一种测试装置，其特征在于，包括：
上料机构(1)，其上设置有多个叠加的承载盘(10)，每个所述承载盘(10)上设置有多个承载格(101)，每个所述承载格(101)内均能够容纳一个待测试工件；
承载机构(2)，所述承载机构(2)用于承载所述承载盘(10)；
检测机构(3)，其位于所述承载机构(2)的上方，能够依次对所述承载盘(10)上的所述待测试工件进行检测；
转移机构(4)，所述转移机构(4)被配置为将所述上料机构(1)上的所述承载盘(10)转移至所述承载机构(2)上。


2.根据权利要求1所述的测试装置，其特征在于，所述承载机构(2)包括：
Y向驱动件(23)；
Y向位移平台，其与所述Y向驱动件(23)的输出端相连，所述Y向驱动件(23)能够驱动所述Y向位移平台沿Y方向移动；
X向驱动件(22)，其设置于所述Y向位移平台上；
承载板(21)，其与所述X向驱动件(22)的输出端相连，所述X向驱动件(22)能够驱动所述承载板(21)沿X方向移动，所述承载板(21)上用于放置所述承载盘(10)；
其中，所述X方向和所述Y方向相互垂直。


3.根据权利要求2所述的测试装置，其特征在于，所述检测机构(3)包括：
探针组件(31)，其能够抵接于所述待测试工件的表面并对其进行检测；
检测升降驱动件(32)，其用于驱动所述探针组件(31)升降。


4.根据权利要求3所述的测试装置，其特征在于，所述探针组件(31)包括：
检测支架(311)，其与所述检测升降驱动件(32)的输出端相连；
多个检测探针(312)，多个所述检测探针(312)均设置于所述检测支架(...

【专利技术属性】
技术研发人员：潘翔，马朱惠，杨筱瑜，
申请(专利权)人：昆山迈致治具科技有限公司，
类型：发明
国别省市：江苏;32