快速探测宽谱面光谱的方法技术

本发明专利技术属于光栅摄谱仪快速探测宽谱面光谱的技术，本发明专利技术的快速探测宽谱面光谱的方法，包括多个ＣＣＤ器件拼接探测光栅摄谱仪宽阔谱面的光谱、同步并行数据采集技术和三维显示不同时段光谱的技术。是在光栅摄谱仪的谱面位置安装由多个线阵ＣＣＤ器件首尾交错拼接，并使前面ＣＣＤ的末尾像元与后面ＣＣＤ的首像元在垂直像元排列方向上重合。拼接时使两行线阵ＣＣＤ像敏阵列的中心距小于等于１２ｍｍ，拼接起来的探测器在２４０ｍｍ宽的范围内探测谱线高度超过１２ｍｍ高的光谱。不仅含有线阵ＣＣＤ器件按机械拼接方式实现无缝拼接的技术、多路并行数据采集的技术还包括以三维空间图像显示方式显示所采光谱的技术。而且能够探测不同时间段光谱的变化和同一时刻谱面各光谱的强度。

【技术实现步骤摘要】

【技术保护点】
一种快速探测宽谱面光谱的方法，包括光栅摄谱仪和多个ＣＣＤ器件；其特征是在光栅摄谱仪的谱面位置安装由多个线阵ＣＣＤ器件，线阵ＣＣＤ采用首尾交错拼接，并使前面ＣＣＤ的末尾像元与后面ＣＣＤ的首像元在垂直像元排列方向上重合。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：王庆有，
申请(专利权)人：天津市耀辉光电技术有限公司，
类型：发明
国别省市：12[中国|天津]