提高光谱探测范围的分光装置及光谱分析系统制造方法及图纸

本实用新型专利技术提供了一种提高光谱探测范围的分光装置，所述分光装置包括：第一分光单元，所述第一分光单元用于测量光的分光，所述测量光的波长大于等于λ1且小于等于λ2；第二分光单元，所述第二分光单元包括用于测量光经过所述第一分光单元分光前或/和后的光的分光且分光能力不同的色散部件Mi，i＝1，2，…N，N≥2；所述第一分光单元和第二分光单元的色散方向相互垂直；探测单元，所述探测单元用于将接收到的所述测量光经过所述第一分光单元或所述色散部件Mi后的光信号分别转换为电信号Ii，i＝1，2，…N，N≥2，并传送到处理电路；处理电路，所述处理电路用于组合接收到的所述电信号Ii，i＝1，2，…N，N≥2，从而得出所述测量光在大于等于λ1且小于等于λ2上的光强分布。本实用新型专利技术具有稳定性好、装调容易、可维护性好、成本低的等优点。（*该技术在2021年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及复色光的分光，特别涉及能明显提高光谱探测范围的分光装置。
技术介绍
光谱仪是一种对采集到的光谱进行连续分布并进行检测的装置。目前，常见的光谱仪结构有Czerny-Turner结构、Paschen-Runge结构、平场凹面光栅分光系统、中阶梯光栅二维分光系统等。中阶梯光栅二维分光系统具有体积小，分辨率高等优点，因此在需要高分辨的场合得到较多应用。图1示意性地给出了常规中阶梯光栅二维分光系统的基本结构图，如图1所示，所述分光系统包括光源1、集光镜2、入缝3、准直镜4、棱镜5、中阶梯光栅6、成像镜7、探测器8。该分光系统工作过程为:从光源I处发出的光信号经过集光镜2后采集到分光装置中，分光装置包括入缝3、准直镜4、棱镜5、中阶梯光栅6、成像镜7 ;光信号从入缝3处进入分光装置，光信号以一定的角度发散，经过准直镜4后光信号被准直成平行光入射到由棱镜和光栅组成的二维色散结构，棱镜的色散在垂直方向，光栅的色散在水平方向。经过棱镜和光栅二维色散后的光信号根据波长的不同其衍射角不同，经过成像镜之后，不同衍射角的光信号被成像在成像镜像面上的不同位置，从而实现了分光。中阶梯光栅具有独特的衍射本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种提高光谱探测范围的分光装置，所述分光装置包括：第一分光单元，所述第一分光单元用于测量光的分光，所述测量光的波长大于等于λ1且小于等于λ2；第二分光单元，所述第二分光单元包括用于测量光经过所述第一分光单元分光前或/和后的光的分光且分光能力不同的色散部件Mi，i＝1，2，…N，N≥2；所述第一分光单元和第二分光单元的色散方向相互垂直；探测单元，所述探测单元用于将接收到的所述测量光经过所述第一分光单元或所述色散部件Mi后的光信号分别转换为电信号Ii，i＝1，2，…N，N≥2，并传送到处理电路；处理电路，所述处理电路用于组合接收到的所述电信号Ii，i＝1，2，…N，N≥2，从而得出所述测量光在大于...

【技术特征摘要】
1.一种提高光谱探测范围的分光装置，所述分光装置包括: 第一分光单元，所述第一分光单元用于测量光的分光，所述测量光的波长大于等于λ i且小于等于λ2; 第二分光单元，所述第二分光单元包括用于测量光经过所述第一分光单元分光前或/和后的光的分光且分光能力不同的色散部件Mi, i = 1,2,…N，N ^ 2 ;所述第一分光单元和第二分光单兀的色散方向相互垂直； 探测单元，所述探测单元用于将接收到的所述测量光经过所述第一分光单元或所述色散部件Mi后的光信号分别转换为电信号Ii, i = 1,2,…N，N彡2，并传送到处理电路； 处理电路，所述处理电路用于组合接收到的所述电信号Ii, i = 1,2,…N，N彡2，从而得出所述测量光在大于等于A1且小于等于λ 2上的光强分布。2.根据权利要求1所述的分光装置，其特征在于:所述色散部件Mi同时设置在光路中，i = l,2,…N，N 彡 2。3.根据权利要求1所述的分光装置，其特征在于:所述处理电路用于组合经过强分光能力的色散部件后的光信号转换的电信号中的长波长部分和经过弱分光能力的色散部件后的光信号转换的电信号中的短波长部分。4.根据权利要求1所`述的分光装置，其特征在于:同方向的测量光中波长X1的光...

【专利技术属性】
技术研发人员：俞晓峰，顾海涛，吕全超，李萍，王健，
申请(专利权)人：聚光科技杭州股份有限公司，
类型：实用新型
国别省市：