【技术实现步骤摘要】
本专利技术主要涉及基于上变频电光调制的被动综合孔径光子成像系统的相位 误差测量与校正技术，尤其是运用光载波信号进行干涉，通过分析干涉图像计 算得到系统相位误差，最终通过实时的相位补偿系统来校正误差的技术。
技术介绍
被动综合孔径光子成像方法是基于上变频技术的成像方法，先将接收天线 阵列按照载体进行优化，然后将接收机接收的信号经过电光调制技术加载到光 波上，通过光纤传输，并在阵列末端形成光纤阵列，运用微光学技术设计光学系统使之形成光学综合孔径成像系统，最终在焦平面上使用CCD直接成像。在光学综合孔径成像系统中，将多个小口径的光学元件按照 一定的空间位 置排列，通过相位匹配和光路调整，使得通过各个子孔径的光東在共同的焦平 面上满足同相位要求，以实现光场的相千叠加，从而达到与通光口径相当的单 一大口径系统的衍射限分辨率。任何被动综合孔径系统，从每根天线发出的信 号，在传输过程中在必须仔细控制信号的相位，其精度必须小于1/10波长，才: 能得到高质量的图像。孔径阵列位置的偏离会引起相位测量的误差，相位误差 对综合孔径成像质量影响较大。在被动成像系统中，可能引入相位误差的...
【技术保护点】
一种新型的综合孔径光子成像相位误差测量与补偿方法和系统，其特征是：所述综合孔径光子成像相位误差测量与补偿系统包括光载波提取子系统，载波干涉成像子系统和相位误差提取与补偿子系统；所述各分系统协同工作，在光载波提取子系统中运用光纤滤波器分离出经电光调制后光纤信号中光载波，所得光载波进入载波干涉成像子系统后与另一传输参考载波的光纤形成光纤阵列，经扩束和准直，最终在ＣＣＤ探测器上与参考载波干涉成像，ＣＣＤ得到的图像实时进入相位误差提取与补偿子系统，干涉图像经分析后提取出相位误差量，并被传输到相位延迟与补偿器进行实时相位校正。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：何云涛，江月松，黎芳，
申请(专利权)人：北京航空航天大学，
类型：发明
国别省市：11[中国|北京]
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