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综合孔径相位测量与补偿方法和系统技术方案
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文档序号:2549657
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本发明提出了一种新型的综合孔径光子成像相位测量与补偿方法和系统,利用电光调制后载波的干涉结果来提取相位误差信息,可实现对该干涉成像系统的相位误差进行实时的测量与补偿的目的,属于干涉式成像遥感、高空间分辨率军事侦察技术领域。在本发明中,综合孔...
该专利属于北京航空航天大学所有,仅供学习研究参考,未经过北京航空航天大学授权不得商用。
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