用于光学扫描计量用具的位置测量装置的扫描单元制造方法及图纸

本发明专利技术涉及一种位置测量装置的扫描单元，用于光学扫描计量用具，包括：将光向计量用具方向发射的光源；一接收由计量用具改变的光的探测器；一设置在其探测器前且具有多个光学透镜的透镜组，以借助光线扫描计量用具的区域在探测器上产生确定的图象；其特征在于，其透镜组（３、４）的成像比大于零且小于或等于１。（*该技术在2024年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种权利要求1前序部分的一种位置测量装置的扫描单元，用于光学扫描计量用具。
技术介绍
这种扫描单元包括将光向具有光学扫描条的计量用具方向发射的光源；一接收由具有光学扫描条的计量用具改变如反射的光探测器；一设置在探测器前且具有多个光学透镜的透镜组，以借助光线扫描计量用具的区域在探测器上产生确定的图象。这种扫描单元用于通过反射方法和透射方法扫描具有编码条的计量用具。在上述第一种情况中，由光源向计量用具发射的光通过计量用具改变和反射；在上述第二种情况中，由光源发射的光穿过(透光的)计量用具并由此改变。EP1 099 936 A1公开了一种位置测量装置，测量分度借助光源和CCD扫描行形式的探测器进行扫描。在计量用具上设置的测量分度和探测器之间具有多个相邻设置在一面上的透镜，通过其透镜使得设置在计量用具上的测量分度在探测器上成像。
技术实现思路
本专利技术要解决的技术问题是提供一种上述类型的位置测量装置的扫描单元，使用同一探测器在反射方法和透射方法中扫描计量用具。本专利技术要解决的技术问题通过具有权利要求1特征的扫描单元实现。用于将计量用具的扫描区域在探测器上产生确定的图象的透镜本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种位置测量装置的扫描单元，用于光学扫描一个计量用具，包括：－一个将光向计量用具方向发射的光源；－一个接收由计量用具改变的光的探测器；－一个设置在探测器前且具有多个光学透镜的透镜组，以借助光线扫描计量用具的区域在探测 器上产生确定的图象；其特征在于，所述透镜组（３、４）的成像比（β）大于零且小于或等于２。

【技术特征摘要】
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【专利技术属性】
技术研发人员：W霍尔扎普菲尔，E迈尔，U本纳，
申请(专利权)人：约翰尼斯海登海恩博士股份有限公司，
类型：发明
国别省市：DE[德国]